集成电路芯片测试系统及方法技术方案

本发明专利技术提供一种集成电路芯片测试系统及方法，涉及集成电路芯片测试技术领域。该系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，第一测试设备、采集设备、存储设备和第二测试设备之间依次电连接，且计算设备分别与第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备电连接；计算设备用于对第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备进行控制，采集设备在第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对预设集成电路芯片的运行信号，并将运行信号存储至存储设备；第二测试设备从存储设备获取运行信号，并基于运行信号对待测集成电路芯片进行测试。本公开能够提高测试待测集成电路芯片的准确性。

Integrated circuit chip test system and method

The invention provides an integrated circuit chip test system and method, which relates to the technical field of integrated circuit chip test. The system includes: the first test device, the second test device, the acquisition device, the storage device and the computing device, the first test device, the acquisition device, the storage device and the second test device are successively electrically connected, and the computing device is respectively electrically connected with the first test device, the second test device, the acquisition device and the storage device; the computing device is used for the first test device and the second test device The second test equipment, acquisition equipment and storage equipment control. When the first test equipment is connected to the pre-set IC chip, the acquisition equipment collects the operation signal for the pre-set IC chip and stores the operation signal to the storage equipment; the second test equipment obtains the operation signal from the storage equipment and tests the IC chip to be tested based on the operation signal. The invention can improve the accuracy of testing the IC chip to be tested.

【技术实现步骤摘要】
集成电路芯片测试系统及方法
本专利技术涉及集成电路芯片测试
，具体而言，涉及一种集成电路芯片测试系统及方法。
技术介绍
集成电路芯片是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。由于集成电路芯片如此复杂的结构，因此，需要对集成电路芯片进行测试，确认其运行性能。现有技术中，对待测集成电路芯片进行测试，是将待测集成电路芯片与测试设备连接起来，通过该测试设备向待测集成电路芯片输入预设输入信号，得到该待测集成电路芯片的输出信号，从而根据该输出信号确定其性能，完成测试。但是，由于预设输入信号通常是对待测集成电路芯片的工作环境进行模拟得到，故障覆盖率较低，从而导致待测集成电路芯片可能出现通过测试而在投入使用时出现较多故障的可能，即测试的准确性低下。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种集成电路芯片测试系统及方法，以解决对待测集成电路芯片测试的准确性低下的问题。为实现上述目的，本专利技术实施例采用的技术方案如下：第一方面，本专利技术实施例提供了一种集成电路芯片测试系统，所述集成电路芯片测试系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，所述第一测试设备、所述采集设备、所述存储设备和所述第二测试设备之间依次电连接，且所述计算设备分别与所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备电连接；所述计算设备用于根据针对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备的控制指令，分别对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备进行控制；所述采集设备在所述第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对所述预设集成电路芯片的运行信号，并将所述运行信号存储至所述存储设备；所述第二测试设备从所述存储设备获取所述运行信号，并基于所述运行信号对待测集成电路芯片进行测试，所述预设集成电路芯片与所述待测集成电路芯片的芯片类型相同。可选地，所述运行信号包括所述第一测试设备输入至所述预设集成电路芯片的输入信号以及所述预设集成电路芯片针对所述输入信号的第一输出信号；所述第二测试设备具体用于将所述输入信号输入至所述待测集成电路芯片，获取所述待测集成电路芯片针对所述输入信号产生的第二输出信号，并将所述第一输出信号与所述第二输出信号进行比较。可选地，所述集成电路芯片测试系统还包括接入器，所述接入器包括与所述预设集成电路芯片电连接的第一接口、与所述第一测试设备电连接的第二接口以及与所述采集设备电连接的第三接口；所述接入器通过所述第一接口和所述第二接口获取所述运行信号，通过所述第三接口将所述运行信号发送给所述采集设备。可选地，所述接入器还包括信号放大器，所述信号放大器与所述第三接口电连接；所述接入器通过所述信号放大器将所述运行信号进行放大，并将放大后的所述运行信号通过所述第三接口发送给所述采集设备。可选地，所述采集设备包括第四接口、数模转换器、多路开关、时序控制器、同步控制器、第五接口和第六接口，所述第四接口、所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器和所述第六接口依次电连接，所述同步控制器分别与所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器和所述第五接口电连接；所述采集设备通过所述第五接口接收所述计算设备的同步控制指令，并通过所述同步控制器对所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器进行时序同步，且所述采集设备还通过所述第四接口接收所述运行信号，通过所述数模转换器将所述运行信号由数字信号转换为模拟信号，通过所述多路开关将转换后的所述运行信号传输至所述时序控制器，通过所述时序控制器对转换后的所述运行信号进行压缩，通过所述第六接口将压缩后的所述运行信号发送给所述存储设备。可选地，所述第二测试设备包括存储转接器、多个串联的信号处理器和控制器，所述存储转接器包括第七接口、第八接口和第九接口，所述存储转接器通过所述第七接口与所述存储设备电连接，所述存储转接器通过所述第八接口与多个串联的所述信号处理器中的第一个信号处理器电连接，所述存储转接器通过所述第九接口与多个串联的所述信号处理器中的最后一个信号处理器电连接，所述控制器分别与多个所述信号处理器电连接；所述第二测试设备通过所述存储转接器从所述存储设备获取所述运行信号，且所述运行信号包括多个并行的运行子信号，将多个并行的所述运行子信号转换为多个串行的所述运行子信号，通过所述控制器控制多个所述信号处理器对多个串行的所述运行子信号进行预处理，通过所述存储转接器对处理后的多个串行的所述运行子信号进行校验。可选地，所述第二测试设备具体用于通过所述控制器控制多个所述信号处理器将多个串行的所述运行子信号由模拟信号转换为数字信号，通过所述存储转接器对转换后的所述运行子信号进行校验。可选地，所述系统包括多个所述第一测试设备，相应的，所述采集设备包括多个所述第四接口，各所述四接口分别对应一个所述第一测试设备。可选地，所述采集设备还包括电源单元，所述电源单元分别与所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器和所述同步控制器电连接。可选地，所述存储设备包括磁盘阵列。第二方面，本专利技术实施例还提供了一种集成电路芯片测试方法，所述方法应用于集成电路芯片测试系统，所述集成电路芯片测试系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，所述第一测试设备、所述采集设备、所述存储设备和所述第二测试设备之间依次电连接，且所述计算设备分别与所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备电连接，所述计算设备用于根据针对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备的控制指令，分别对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备进行控制；所述方法包括：通过所述采集设备在所述第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对所述预设集成电路芯片的运行信号，并将所述运行信号存储至所述存储设备；通过所述第二测试设备从所述存储设备获取所述运行信号，并基于所述运行信号对待测集成电路芯片进行测试，所述预设集成电路芯片与所述待测集成电路芯片的芯片类型相同。可选地，所述运行信号包括所述第一测试设备输入至所述预设集成电路芯片的输入信号以及所述预设集成电路芯片针对所述输入信号的第一输出信号；所述通过所述第二测试设备从所述存储设备获取所述运行信号，并基于所述运行信号对待测集成电路芯片进行测试，包括：通过所述第二测试设备将所述输入信号输入至所述待测集成电路芯片，获取所述待测集成电路芯片针对所述输入信号产生的第二输出信号，并将所述第一输出信号与所述第二输出信号进行比较。可选地，所述集成电路芯片测试系统还包括接入器，所述接入器分别与所述预设集成电路芯片、所述第一测试设备和所述采集设备电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路芯片测试系统，其特征在于，所述集成电路芯片测试系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，所述第一测试设备、所述采集设备、所述存储设备和所述第二测试设备之间依次电连接，且所述计算设备分别与所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备电连接；/n所述计算设备用于根据针对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备的控制指令，分别对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备进行控制；/n所述采集设备在所述第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对所述预设集成电路芯片的运行信号，并将所述运行信号存储至所述存储设备；/n所述第二测试设备从所述存储设备获取所述运行信号，并基于所述运行信号对待测集成电路芯片进行测试，所述预设集成电路芯片与所述待测集成电路芯片的芯片类型相同。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路芯片测试系统，其特征在于，所述集成电路芯片测试系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，所述第一测试设备、所述采集设备、所述存储设备和所述第二测试设备之间依次电连接，且所述计算设备分别与所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备电连接；
所述计算设备用于根据针对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备的控制指令，分别对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备进行控制；
所述采集设备在所述第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对所述预设集成电路芯片的运行信号，并将所述运行信号存储至所述存储设备；
所述第二测试设备从所述存储设备获取所述运行信号，并基于所述运行信号对待测集成电路芯片进行测试，所述预设集成电路芯片与所述待测集成电路芯片的芯片类型相同。


2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述运行信号包括所述第一测试设备输入至所述预设集成电路芯片的输入信号以及所述预设集成电路芯片针对所述输入信号的第一输出信号；
所述第二测试设备具体用于将所述输入信号输入至所述待测集成电路芯片，获取所述待测集成电路芯片针对所述输入信号产生的第二输出信号，并将所述第一输出信号与所述第二输出信号进行比较。


3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述集成电路芯片测试系统还包括接入器，所述接入器包括与所述预设集成电路芯片电连接的第一接口、与所述第一测试设备电连接的第二接口以及与所述采集设备电连接的第三接口；
所述接入器通过所述第一接口和所述第二接口获取所述运行信号，通过所述第三接口将所述运行信号发送给所述采集设备。


4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述接入器还包括信号放大器，所述信号放大器与所述第三接口电连接；
所述接入器通过所述信号放大器将所述运行信号进行放大，并将放大后的所述运行信号通过所述第三接口发送给所述采集设备。


5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述采集设备包括第四接口、数模转换器、多路开关、时序控制器、同步控制器、第五接口和第六接口，所述第四接口、所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器和所述第六接口依次电连接，所述同步控制器分别与所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器和所述第五接口电连接；
所述采集设备通过所述第五接口接收所述计算设备的同步控制指令，并通过所述同步控制器对所述数模转换器、所述多路开关、所述时序控制器进行时序同步，且所述采集设备还通过所述第四接口接收所述运行信号，通过所述数模转换器将所述运行信号由数字信号转换为模拟信号，通过所述多路开关将转换后的所述运行信号传输至所述时序控制器，通过所述时序控制器对转换后的所述运行信号进行压缩，通过所述第六接口将压缩后的所述运行信号发送给所述存储设备。


6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第二测试设备包括存储转接器、多个串联的信号处理器和控制器，所述存储转接器包括第七接口、第八接口和...

【专利技术属性】
技术研发人员：张悦，
申请(专利权)人：合肥悦芯半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34