一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，包括工作台，所述工作台为箱式结构，且在工作台的内部设置有控制箱，所述工作台的台面一侧设置有液晶显示屏和声光报警器，且在工作台的台面中间位置固定架设有测试箱，所述测试箱的左右两侧均开设有供载物板穿过的矩形通道，通过在载物板上设置四个完全一致的芯片放置盘，将待检测的芯片放置在芯片放置盘上，当载物板传送到测试箱的内部时，根据载物板上芯片的位置调整十字测试板的位置，从而使十字测试板每个边角上的检测探针完成对芯片的检测，从而实现一次测试完成对四个芯片的同步检测，提高了芯片的测试效率，通过检测探针自动检测，降低了检测人员的工作强度。

A chip processing device integrated with testing and sorting functions

The invention discloses a chip processing device integrated with testing and sorting functions, which includes a workbench, the workbench is a box structure, and a control box is arranged inside the workbench, one side of the worktable is provided with a liquid crystal display screen and an audible and visual alarm, and a test box is fixedly arranged in the middle of the worktable, and the left and right sides of the test box are The rectangular channels for the carrier plate to pass through are opened. By setting four identical chip placement plates on the carrier plate, the chips to be tested are placed on the chip placement plate. When the carrier plate is transmitted to the inside of the test box, the position of the cross test plate is adjusted according to the position of the chips on the carrier plate, so that the detection probes on each corner of the cross test plate can complete the detection of the chips Detection, so as to achieve a test to complete the synchronous detection of four chips, improve the efficiency of chip testing, through automatic detection probe, reduce the work intensity of detection personnel.

【技术实现步骤摘要】
一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置
本专利技术属于电子元器件
；具体是一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置。
技术介绍
IC芯片是将大量的微电子元器件形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片，集成电路芯片在出厂前必须经过严格测试，测试项目包括集成电路芯片的各项性能参数，如电流和电压等，人们需要将测试结果不在合格范围内的集成电路芯片筛选出来，并将测试结果不同的集成电路芯片进行分类。芯片电性能的测试需要将IC芯片接入测试系统，测试完成后需要将IC芯片按照测试出的性能分等级归类，现有技术中，分选设备的收料机构都是人工装入空料管，料管满后再人工替换，但是实际测试分选后的IC芯片，优等的芯片数量是最多的，所以装入优等IC芯片的料管替换空料管的频率会非常高，如专利申请号(CN201910012099.X)公开了一种自动化IC测试分选设备，通过翻转夹持有IC料管的夹持机构，使其变为垂直状态，从而使IC料管内的IC芯片滑出至垂直料道，挡压机构控制IC芯片能够单个给测试装置上料，测试夹头夹取IC芯片并将其推至测试PCB测试，测试完通过接料台接取IC芯片，并将其分类放至第一收料机构或第二收料机构，提高分选收料的速度并且节省人力成本，但是现有的芯片在测试分选功能中存在以下不足：1、现有的芯片测试速度慢，均是通过人工手持测试探针对芯片逐一测试，不仅测试人员工作强度大，同时芯片测试效率低；2、现有的芯片测试装置自动化程度低，需要人工对芯片的测试结果进行判断，不利于企业的大规模生产；3、现有的芯片测试装置的位置相对固定通常只能对一种芯片进行测试，不利于対多种不同型号的芯片进行测试，实用性差。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，通过在载物板上设置四个完全一致的芯片放置盘，从而实现一次测试完成对四个芯片的同步检测，提高了芯片的测试效率；将载物板经连接板连接在螺母座上，通过伺服电机驱动螺杆进行转动，从而实现螺母座在螺杆上进行移动，从而完成载物板带动芯片在工作台上完成装夹、检测、分选等一系列操作；实现检测探针在三维空间内的调节，使该检测装置能够适用于不同芯片的检测，实用性强，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，包括工作台，所述工作台为箱式结构，且在工作台的内部设置有控制箱，所述工作台的台面一侧设置有液晶显示屏和声光报警器，且在工作台的台面中间位置固定架设有测试箱，所述测试箱的左右两侧均开设有供载物板穿过的矩形通道。作为本专利技术再进一步的方案：所述工作台外部右侧面上通过电机安装座设置有转动电机，所述转动电机的输出端连接减速器的输入端，减速器的输出端固定连接有螺杆，所述螺杆水平架设在工作台的箱体内部，且螺杆的另一端转动连接在所述工作台内部另一侧面的转动轴承上，所述螺杆上通过螺纹连接有螺母座，所述螺母座的表面上通过焊接竖直设置有连接板，所述工作台的台面在水平方向开设有供连接板穿过的条形槽，所述条形槽两侧的工作台的台面沿水平方向分别设置有导向板一和导向板二，所述导向板一与导向板二关于条形槽在水平方向上的轴线对称，且在导向板一与导向板二相对的侧面沿水平方向均开设有T型槽，所述连接板贯穿条形槽的顶部与载物板的底面焊接连接，所述载物板纵向两侧的侧面上设置有与导向板一和导向板二T型槽相适配的T型块，所述载物板通过两侧的T型块滑动连接在导向板一和导向板二的T型槽内，所述载物板的表面等分隔成四个区域，且在载物板的每个独立区域内均设置有芯片放置盘，所述芯片放置盘上设置有芯片。作为本专利技术再进一步的方案：所述测试箱包括X向导轨、Y向导轨和Z向导轨，所述X向导轨通过X向驱动机构进行驱动，且在X向导轨上滑动连接有X向固定块，所述X向固定块在横向上固定设置有Y向导轨，所述Y向导轨通过Y向驱动机构进行驱动，且在Y向导轨上滑动连接有Y向固定块，所述Y向固定块在纵向上竖直设置有Z向导轨，所述Z向导轨通过Z向驱动机构进行驱动，所述Z型导轨上滑动连接有竖直板，所述竖直板底面一侧焊接设置有固定板，所述固定板的板面在竖直方向上开设有若干个螺纹通孔，所述固定板上的螺纹通孔经锁紧螺钉固定连接有呈十字结构的十字测试板，且在十字测试板四个边角的底面上分别设置有检测探针。作为本专利技术再进一步的方案：所述十字测试板的板面上也开设有若干个与固定板螺纹孔相适配的螺纹通孔，且十字测试板四个边角上的检测探针高度完全一致，且十字测试板的位于同一侧边角上的检测探针在水平方向上重合。作为本专利技术再进一步的方案：所述X向导轨水平设置在测试箱内部底面的一侧，且在测试箱的内部远离X向导轨的一侧板面上设置有支撑板，所述支撑板与X向导轨在水平方向上平行，且支撑板的板面在水平方向上开设有供Y型导轨滑动的滑槽，所述Y向导轨通过端面的滑块滑动连接在支撑板的滑槽内。作为本专利技术再进一步的方案：所述测试箱的正面为透明玻璃窗结构。作为本专利技术再进一步的方案：所述连接板位于螺母座表面水平方向的轴线上，且连接板的长度与载物板的长度一致，所述连接板的另一端也位于载物板底面水平方向的轴线上。作为本专利技术再进一步的方案：所述控制箱内部设有PLC微控系统，且控制箱的接收端口与检测探针电性连接，控制箱的输出端口与液晶显示屏电性连接。作为本专利技术再进一步的方案：所述液晶显示屏通过万向支架固定设置在工作台的一侧。作为本专利技术再进一步的方案：所述导向板一与导向板二的右侧端面上设置有载物板的限位板。作为本专利技术再进一步的方案：所述工作台正面中间位置竖直设置有档杆，所述控制箱的箱门通过合页转动连接在档杆上，所述工作台底面的四个边角处分别设置有导向轮，且在导向轮上设置有刹车片，所述工作台底面位于所述导向轮的内侧设置有支撑脚，且支撑脚与地面的接触面上设置有胶质垫片。本专利技术的有益效果：1、通过在载物板上设置四个完全一致的芯片放置盘，将待检测的芯片放置在芯片放置盘上，当载物板传送到测试箱的内部时，根据载物板上芯片的位置调整十字测试板的位置，从而使十字测试板每个边角上的检测探针完成对芯片的检测，从而实现一次测试完成对四个芯片的同步检测，提高了芯片的测试效率，通过检测探针自动检测，降低了检测人员的工作强度；2、将载物板经连接板连接在螺母座上，通过伺服电机驱动螺杆进行转动，从而实现螺母座在螺杆上进行移动，通过测试箱内的检测探针对芯片进行检测，并将检测结果经控制下反馈到液晶显示屏，实现检测人员对芯片的挑选，从而完成载物板带动芯片在工作台上完成装夹、检测、分选等一系列操作，使该芯片检测装置自动化程度高；3、通过X向驱动机构驱动X向固定块在X向导轨上移动，从而实现对十字测试板上的检测探针在X方向上位置的调整，通过Y向驱动机构驱动Y向固定块在Y向导轨上移动，从而实现对十字测试板上的检测探针在Y方向上位置的调整，通过Z向驱动机构驱动竖直板在Z向导轨上移动，从而实现对十字测试板上的检测探针在Z方向上位置的调整，实现检测探针在三本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，其特征在于：包括工作台(1)，所述工作台(1)为箱式结构，且在工作台(1)的内部设置有控制箱(103)，所述工作台(1)的台面一侧设置有液晶显示屏(108)和声光报警器(109)，且在工作台(1)的台面中间位置固定架设有测试箱(3)，所述测试箱(3)的左右两侧均开设有供载物板(204)穿过的矩形通道(310)；/n所述工作台(1)外部右侧面上通过电机安装座设置有转动电机(2)，所述转动电机(2)的输出端连接减速器的输入端，减速器的输出端固定连接有螺杆(208)，所述螺杆(208)水平架设在工作台(1)的箱体内部，且螺杆(208)的另一端转动连接在所述工作台(1)内部另一侧面的转动轴承上，所述螺杆(208)上通过螺纹连接有螺母座(210)，所述螺母座(210)的表面上通过焊接竖直设置有连接板(209)，所述工作台(1)的台面在水平方向开设有供连接板(209)穿过的条形槽(203)，所述条形槽(203)两侧的工作台(1)的台面沿水平方向分别设置有导向板一(201)和导向板二(202)，所述导向板一(201)与导向板二(202)关于条形槽(203)在水平方向上的轴线对称，且在导向板一(201)与导向板二(202)相对的侧面沿水平方向均开设有T型槽(211)，所述连接板(209)贯穿条形槽(203)的顶部与载物板(204)的底面焊接连接，所述载物板(204)纵向两侧的侧面上设置有与导向板一(201)和导向板二(202)T型槽(211)相适配的T型块(212)，所述载物板(204)通过两侧的T型块(212)滑动连接在导向板一(201)和导向板二(202)的T型槽(211)内，所述载物板(204)的表面等分隔成四个区域，且在载物板(204)的每个独立区域内均设置有芯片放置盘(205)，所述芯片放置盘(205)上设置有芯片；/n所述测试箱(3)包括X向导轨(301)、Y向导轨(302)和Z向导轨(303)，所述X向导轨(301)通过X向驱动机构进行驱动，且在X向导轨(301)上滑动连接有X向固定块(309)，所述X向固定块(309)在横向上固定设置有Y向导轨(302)，所述Y向导轨(302)通过Y向驱动机构进行驱动，且在Y向导轨(302)上滑动连接有Y向固定块(304)，所述Y向固定块(304)在纵向上竖直设置有Z向导轨(303)，所述Z向导轨(303)通过Z向驱动机构进行驱动，所述Z型导轨(303)上滑动连接有竖直板(305)，所述竖直板(305)底面一侧焊接设置有固定板(306)，所述固定板(306)的板面在竖直方向上开设有若干个螺纹通孔，所述固定板(306)上的螺纹通孔经锁紧螺钉固定连接有呈十字结构的十字测试板(307)，且在十字测试板(307)四个边角的底面上分别设置有检测探针(308)。/n...

【技术特征摘要】
1.一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，其特征在于：包括工作台(1)，所述工作台(1)为箱式结构，且在工作台(1)的内部设置有控制箱(103)，所述工作台(1)的台面一侧设置有液晶显示屏(108)和声光报警器(109)，且在工作台(1)的台面中间位置固定架设有测试箱(3)，所述测试箱(3)的左右两侧均开设有供载物板(204)穿过的矩形通道(310)；
所述工作台(1)外部右侧面上通过电机安装座设置有转动电机(2)，所述转动电机(2)的输出端连接减速器的输入端，减速器的输出端固定连接有螺杆(208)，所述螺杆(208)水平架设在工作台(1)的箱体内部，且螺杆(208)的另一端转动连接在所述工作台(1)内部另一侧面的转动轴承上，所述螺杆(208)上通过螺纹连接有螺母座(210)，所述螺母座(210)的表面上通过焊接竖直设置有连接板(209)，所述工作台(1)的台面在水平方向开设有供连接板(209)穿过的条形槽(203)，所述条形槽(203)两侧的工作台(1)的台面沿水平方向分别设置有导向板一(201)和导向板二(202)，所述导向板一(201)与导向板二(202)关于条形槽(203)在水平方向上的轴线对称，且在导向板一(201)与导向板二(202)相对的侧面沿水平方向均开设有T型槽(211)，所述连接板(209)贯穿条形槽(203)的顶部与载物板(204)的底面焊接连接，所述载物板(204)纵向两侧的侧面上设置有与导向板一(201)和导向板二(202)T型槽(211)相适配的T型块(212)，所述载物板(204)通过两侧的T型块(212)滑动连接在导向板一(201)和导向板二(202)的T型槽(211)内，所述载物板(204)的表面等分隔成四个区域，且在载物板(204)的每个独立区域内均设置有芯片放置盘(205)，所述芯片放置盘(205)上设置有芯片；
所述测试箱(3)包括X向导轨(301)、Y向导轨(302)和Z向导轨(303)，所述X向导轨(301)通过X向驱动机构进行驱动，且在X向导轨(301)上滑动连接有X向固定块(309)，所述X向固定块(309)在横向上固定设置有Y向导轨(302)，所述Y向导轨(302)通过Y向驱动机构进行驱动，且在Y向导轨(302)上滑动连接有Y向固定块(304)，所述Y向固定块(304)在纵向上竖直设置有Z向导轨(303)，所述Z向导轨(303)通过Z向驱动机构进行驱动，所述Z型导轨(303)上滑动连接有竖直板(305)，所述竖直板(305)底面一侧焊接设置有固定板(306)，所述固定板(306)的板面在竖直方向上开设有若干个螺纹通孔，所述固定板(306)上的螺纹通孔经锁紧螺钉固定连接有呈十字结构的十字测试板(307)，且在十字测试板(307)四个边角的底面上分别设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄晓波，赵凡奎，
申请(专利权)人：安徽龙芯微科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34