一种曲面待测物表面瑕疵检测系统技术方案

一种曲面待测物表面瑕疵检测系统，用以对该曲面待测物的表面进行检测，包含一待测物入料装置、一第一循环检测装置、以及一第二循环检测装置。该待测物入料装置用以传送该曲面待测物，以进行检测。该第一循环检测装置接收自该待测物入料装置的该曲面待测物，以进行该曲面待测物的上半部检测。该第二循环检测装置耦合至该第一循环检测装置，以进行该曲面待测物的下半部检测。

A surface flaw detection system for surfaces to be measured

A surface defect detection system for surfaces to be measured is used to detect the surface of the surface to be measured, including a material waiting device, a first cycle detection device, and a second cycle detection device. The device is used to transmit the surface to be detected. The first cycle detection device receives the curved surface to be tested from the material feeding device to detect the upper part of the object to be tested. The second loop detection device is coupled to the first cycle detection device to carry out the detection of the lower part of the curved surface to be tested.

【技术实现步骤摘要】
一种曲面待测物表面瑕疵检测系统
本专利技术有关于一种表面瑕疵检测系统，尤指一种用以检测曲面待测物表面瑕疵的表面瑕疵检测系统。
技术介绍
自动光学检查(AutomatedOpticalInspection,AOI)，为运用机器视觉进行检测的技术，用以改良传统上以人力使用光学仪器进行检测的缺失，应用层面包括从高科技产业之研发、制造品管，以至国防、民生、医疗、环保、电力…等领域。图像处理的技术早期应用于书报业，在后期中逐渐被应用在其他的领域中。目前机器视觉广泛地应用于生产在线，主要用于将产品透过移载设备送进检测站，透过检测站的影像捕获设备对待测物进行取像、特征辨识后，在分类器中判定有瑕疵的项目。在图像处理的技术中，球面待测物的处理相当困难，主要原因在于球体为曲状表面，因为曲面关系，检测装置在成像上会有球体边缘信息遭到压缩问题，实务上为解决上述问题，多半是透过转动机构转动球体，进行多次取像检测，以获得待测物的多个视角的表面。然而转动球体会大幅地增加检测的时间，造成检测设备的效率低落。
技术实现思路
本专利技术的主要目的，在于解决过去技术中于侦测曲面待测物表面影像时设备建置成本过高及检测效率不足的问题为达到上述目的，本专利技术提供一种曲面待测物表面瑕疵检测系统，用以对该曲面待测物的表面进行检测，包含一待测物入料装置、一第一循环检测装置、以及一第二循环检测装置。该待测物入料装置用以传送该曲面待测物，以进行检测。该第一循环检测装置接收自该待测物入料装置的该曲面待测物，以进行该曲面待测物的上半部检测。该第二循环检测装置耦合至该第一循环检测装置，以进行该曲面待测物的下半部检测。本专利技术可省去转动曲面待测物的时间，对曲面待测物的两个方向分别进行拍摄，增加检测的效率。本专利技术可用于对曲面待测物的表面进行检测，通过从不同角度拍摄该曲面待测物表面的结果，获得该曲面待测物表面的影像，避免曲面待测物在抓取位置未能被检测到的问题。附图说明图1为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的俯视图。图2为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的后视图。图3为球体待测物的区块分布示意图。图4为球体待测物的区块分布示意图。图5为本专利技术中影像扩增镜第一实施例的侧面示意图(一)。图6为本专利技术中影像扩增镜第一实施例的正面示意图(一)。图7为本专利技术中影像扩增镜第一实施例的侧面示意图(二)。图8为本专利技术中影像扩增镜第一实施例的正面示意图(二)。图9为本专利技术中影像扩增镜第二实施例的侧面示意图(一)。图10为本专利技术中影像扩增镜第二实施例的正面示意图(一)。图11为本专利技术中影像扩增镜第二实施例的侧面示意图(二)。图12为本专利技术中影像扩增镜第二实施例的正面示意图(二)。图13为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的工作流程示意图(一)。图14为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的工作流程示意图(二)。图15为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的工作流程示意图(三)。图16为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的工作流程示意图(四)。图17为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的工作流程示意图(五)。图18为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的工作流程示意图(六)。图19为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的工作流程示意图(七)。图20为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的工作流程示意图(八)。图21为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的工作流程示意图(九)。附图标记如下：100曲面待测物表面瑕疵检测系统SP曲面待测物10待测物入料装置11入料轨道12限料闸门13备料区20第一循环检测装置21第一旋转装置211旋转盘212驱动装置22第一抓取装置221抓取单元222升降装置23第一影像检测装置24第一影像扩增镜25第一环形灯A1第一入料站台A2第一检测站台A3第一出料站台A4扩充站台N第一出料位置30第二循环检测装置31第二旋转装置311旋转盘312驱动装置32第二抓取装置321抓取单元322升降装置323顶料单元33第二影像检测装置34第二影像扩增镜35第二环形灯B1第二入料站台B2第二检测站台B3瑕疵品出料站台B4第二出料站台M第二出料位置40移载装置41X轴载台42Y轴抓取臂421抓取单元422升降装置50备料架51第一升降器60集料架61第二升降器71出料轨道72收料装置TR收料托盘W11平面反射镜W12平面反射镜W13平面反射镜W14平面反射镜W21平面反射镜W22平面反射镜W23平面反射镜W24平面反射镜E11平面反射镜E12平面反射镜E21平面反射镜E22平面反射镜角度α1、角度α2区块A-区块J具体实施方式有关本专利技术的详细说明及
技术实现思路
，现就配合图式说明如下。再者，本专利技术中的图式，为说明方便，其比例未必照实际比例绘制，该等图式及其比例并非用以限制本专利技术之范围，在此先行叙明。如图1、图2所示，为本专利技术曲面待测物表面瑕疵检测系统的俯视图、以及后视图，并请一并参阅图13。本实施例提供一种曲面待测物表面瑕疵检测系统100，用以对曲面待测物SP的表面进行检测。该曲面待测物表面瑕疵检测系统100包含有一待测物入料装置10、一第一循环检测装置20、一第二循环检测装置30、一移载装置40、一备料架50、以及一集料架60。上述的装置可通过有线或无线讯号与控制器进行沟通，通过该控制器进行各装置间工作的协调。该控制器例如可以为中央处理器(CentralProcessingUnit,CPU)，或是其他可程序化之一般用途或特殊用途的微处理器(Microprocessor)、数字信号处理器(DigitalSignalProcessor,DSP)、可程序化控制器、特殊应用集成电路(ApplicationSpecificIntegratedCircuits,ASIC)、可程序化逻辑设备(ProgrammableLogicDevice,PLD)或其他类似装置或这些装置的组合，并配合储存单元执行软件、韧体或各部数据的储存。所述的待测物入料装置10用以将该曲面待测物SP传送至一备料区13，预备进行检测。该待测物入料装置10包含有一入料轨道11、以及一设置于该入料轨道11上的限料闸门12，该限料闸门12限制进入该备料区13的该曲面待测物SP的数量。当进入该备料区13的数量达到预设阈值时(本实施例设定为1个)，该限料闸门12升起并阻挡后方的曲面待测物SP进入，避免后方的曲面待测物SP重量附加于最前端的该曲面待测物SP上，造成第一抓取装置22抓取失败。所述的第一循环检测装置20接收自该待测物入料装置10的该曲面待测物SP，以进行该曲面待测物SP的上半部检测。该第一循环检测装置20包含有一第一旋转装置21、多个设置于该第一旋转装置21上的第一抓取装置22、以及一设置于该第一旋转装置21一侧的第一影像检测装置23。该第一旋转装置21为分段枢转，将该多个第一抓取装置22依序移动至一第一入料站台A1、一第一检测站台A2、以及一第一出料站台A3；于本实施例尚设置一扩充站台A4，可依照实际应用作为扩充用途。具体而言，该第一旋转装置21包含有一旋转盘211、以及设置于该旋转盘211一侧用以带动该旋转盘211旋转的驱动装置212。该驱动装置212例如可以为步进马达，通过输入脉波讯号控制该旋转盘211分段进行枢转，或是例如可以为伺服马达通过回馈讯号控本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种曲面待测物表面瑕疵检测系统，用以对该曲面待测物的表面进行检测，其特征在于，包含：一待测物入料装置，用以传送该曲面待测物，以进行检测；一第一循环检测装置，接收自该待测物入料装置的该曲面待测物，以进行该曲面待测物的上半部检测；以及一第二循环检测装置，耦合至该第一循环检测装置，以进行该曲面待测物的下半部检测。

【技术特征摘要】
2016.12.16 TW 1051418341.一种曲面待测物表面瑕疵检测系统，用以对该曲面待测物的表面进行检测，其特征在于，包含：一待测物入料装置，用以传送该曲面待测物，以进行检测；一第一循环检测装置，接收自该待测物入料装置的该曲面待测物，以进行该曲面待测物的上半部检测；以及一第二循环检测装置，耦合至该第一循环检测装置，以进行该曲面待测物的下半部检测。2.根据权利要求1所述的曲面待测物表面瑕疵检测系统，其特征在于，该待测物入料装置包括一入料轨道、以及一设置于该入料轨道上的限料闸门；其中该限料闸门限制进入备料区的该曲面待测物的数量。3.根据权利要求1所述的曲面待测物表面瑕疵检测系统，其特征在于，该第一循环检测装置包含有：一第一旋转装置；多个第一抓取装置，设置于该第一旋转装置上；以及一第一影像检测装置，设置于该第一旋转装置一侧；其中该第一旋转装置分段枢转而经过一第一入料站台、一第一检测站台、以及一第一出料站台，该第一入料站台对应至备料区的位置以便该第一抓取装置抓取该曲面待测物，该第一检测站台一侧设置有该第一影像检测装置，当该曲面待测物移动至该第一检测站台时经由该第一影像检测装置拍摄该曲面待测物的第一侧影像以进行检测，该第一出料站台对应至一第一出料位置。4.根据权利要求3所述的曲面待测物表面瑕疵检测系统，其特征在于，该第二循环检测装置包含有：一第二旋转装置；多个第二抓取装置，设置于该第二旋转装置上；以及一第二影像检测装置，设置于该第二旋转装置一侧；其中，该第二旋转装置分段枢转而经过一第二入料站台、一第二检测站台、以及一第二出料站台，该第二入料站台对应至该第一出料站台的对向侧位置，以便该第二抓取装置抓取该曲面待测物的第一侧，该第二检测站台一侧设置有该第二影像检测装置，当该曲面待测物移动至该第二检测站台时经由该第二影像检测装置拍摄该曲面待测物的第二侧影像以进行检测，该第二出料站台对应至一第二出料位置以将检测后的曲面待测物由该第二出料位置送出。5.根据权利要求4所述的曲面待测物表面瑕疵检测系统，其特征在于，该第一抓取装置或该第二抓取装置为真空吸附装置，该第一抓取装置或该第二抓取装置包含一抓取单元，以及一设置于该抓取单元一侧以将该抓取单元往复移动的升降装置。6.根据权利要求5所述的曲面待测物表面瑕疵检测系统，其特征在于，该第二循环检测装置更进一步包含一或多个瑕疵品出料站台，控制器依据所获得的瑕疵种类，选择将该曲面待测物由对应的该瑕疵品出料站台送出，该第二抓取装置包含一设置于该抓取单元一侧的顶料单元，该顶料单元于该第二抓取装置移动至该瑕疵品出料站台将该曲面待测物由该...

【专利技术属性】
技术研发人员：王人杰，
申请(专利权)人：由田新技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71