本发明专利技术提供一种整合型光源装置及其光学检测系统，整合型光源装置包括一第一光源、一导光组件、一第二光源以及一分光组件。第一光源通过一第一照明光路，提供一第一光束。导光组件具有一引导部及一反射部。引导部通过第一照明光路引导第一光束。第二光源通过一第二照明光路，提供一第二光束至反射部。分光组件通过第二照明光路，引导自反射部反射的第二光束。第一光束与第二光束汇聚至一预设焦点处。本发明专利技术在同一光源装置中整合了同轴光源以及侧向光源，并利用将导光组件的一外侧面设置成反射部，将同轴光源与侧向光源整合配置在相同水平高度上，以此有效的减少装置整体的体积，缩减了备有多种光源装置所需要的结构空间，降低对场地使用的影响。低对场地使用的影响。低对场地使用的影响。
【技术实现步骤摘要】
整合型光源装置及其光学检测系统
[0001]本专利技术有关于一种光源装置及其光学检测系统，尤指一种可以整合同轴光与侧向光的整合型光源装置及其光学检测系统。
技术介绍
[0002]自动光学检测(AOI)改善了过去以人力使用光学仪器进行检测而产生的缺点，目前已经被广泛应用在各不同领域，尤其是制造生产线在产品的外观检测。随着设计上的复杂化，针对产品外观的检测要求也跟着提高，外观上各种不同的瑕疵也需要相应的测试条件来进行检测。
[0003]在检测时，自动光学检测针对不同瑕疵的测试条件，需配合适当的光学仪器取得产品的表面状态。自动光学检测选用的光源装置通常对应各瑕疵种类来提供适当的光源条件，利用不同方向的光源对产品的表面进行打光，但是当同一产品需要检测一种以上瑕疵的情况下，就要将产品分次送入相应瑕疵种类的自动光学检测装置进行检测。如果将多个检测站台整合在同一平台上时，为了完成多种瑕疵的检测，则需要同时设置多种光源装置，光源装置的数量将会造成检测装置的整体体积增加，也提高了场地使用上的空间限制。
技术实现思路
[0004]本专利技术的主要目的，在于提供一种整合型光源装置，包括一第一光源、一导光组件、一第二光源以及一分光组件。第一光源通过第一照明光路提供一第一光束。导光组件具有一引导部及反射部。引导部通过第一照明光路引导第一光束。第二光源通过一第二照明光路提供一第二光束至反射部。分光组件通过第二照明光路引导自反射部反射的第二光束。第一光束与第二光束汇聚至一预设焦点处。
[0005]本专利技术的另一目的，在于提供一种光学检测系统，包括一图像捕获设备、一图像检测装置以及一整合型光源装置。图像捕获设备用于获得一待测物的图像。图像检测装置连接至图像捕获设备以取得待测物的图像，并依据待测物的图像生成一检测结果。整合型光源装置设置于待测物的一侧，包括一第一光源、一导光组件、一第二光源以及一分光组件。第一光源通过第一照明光路提供一第一光束。导光组件具有一引导部及反射部。引导部通过第一照明光路引导第一光束。第二光源通过一第二照明光路提供一第二光束至反射部。分光组件通过第二照明光路引导自反射部反射的第二光束。第一光束与第二光束汇聚至一预设焦点处。
[0006]因此，本专利技术在同一光源装置中整合了同轴光源以及侧向光源，并利用将导光组件的一外侧面设置成反射部，将同轴光源与侧向光源整合配置在相同水平高度上，以此有效的减少装置整体的体积，缩减了备有多种光源装置所需要的结构空间，降低对场地使用的影响。此外，也提升了检测过程中光源运用的弹性，增加检测效率。
附图说明
[0007]被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本专利技术的实施例，并且连同其说明一起用于解释本专利技术的原理。
[0008]图1为本专利技术中整合型光源装置的立体示意图。
[0009]图2为本专利技术中整合型光源装置的立体分解示意图。
[0010]图3为本专利技术中整合型光源装置的剖面示意图。
[0011]图4为本专利技术中同轴光光源的光径示意图。
[0012]图5为本专利技术中光学检测系统的示意图。
[0013]附图标记说明：
[0014]100
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整合型光源装置
[0015]10
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壳体
[0016]101
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出光口
[0017]20
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光源模块
[0018]21
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分光组件
[0019]22
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导光组件
[0020]221
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引导部
[0021]221a入光端
[0022]221b出光端
[0023]222
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反射部
[0024]23
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第一光源
[0025]24
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第二光源
[0026]25
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扩散组件
[0027]26
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吸光组件
[0028]30
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散热模块
[0029]31
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散热板
[0030]31a
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延伸部
[0031]32
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散热鳍片组
[0032]L1
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第一光束
[0033]L2
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第二光束
[0034]L3
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第三光束
[0035]S1
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第一容置空间
[0036]S2
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第二容置空间
[0037]S3
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第三容置空间
[0038]200
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图像捕获设备
[0039]300
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图像检测装置
[0040]P
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预设焦点处
[0041]P1
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第一照明光路
[0042]P2
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第二照明光路
[0043]A
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承载平台
[0044]A1
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待测物
[0045]OI
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光学检测系统
[0046]θ
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夹角。
具体实施方式
[0047]有关本专利技术的详细说明及
技术实现思路
，现就配合附图说明如下。再者，本专利技术中的附图，为说明方便，其比例未必按实际比例绘制，而有夸大的情况，该等附图及其比例非用于限制本专利技术的范围。
[0048]以下针对本专利技术的其中一实施例进行说明，请一并参阅图1至图4，为本专利技术中整合型光源装置的立体图、立体分解示意图、剖面示意图、以及同轴光光源的光路径示意图。
[0049]于一实施例中，本专利技术的整合型光源装置100主要包括一壳体10、一光源模块20以及一散热模块30。
[0050]壳体10具有一第一容置空间S1、分别位于第一容置空间S1相对两侧的一第二容置空间S2及一第三容置空间S3、以及一出光口101。
[0051]光源模块20设置于壳体10内，光源模块20包括一分光组件21、二侧向导光组件22、二第一光源23、一第二光源24、一扩散组件25以及一吸光组件26。分光组件21设置于壳体10的第一容置空间S1内。二导光组件22分别设置于壳体10的第二容置空间S2及第三容置空间S3内，于一实施例中，导光组件22实施为导光板，分别具有一引导部221与一反射部222。引导部221具有一入光端221a以及一出光端221b，于其他实施例中，导光组件22的实施方式不以本专利技术所述为限。二导光组件22于水平方向对称于第一容置空间S1倾斜设置，二导光组件22的二入光端本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种整合型光源装置，其特征在于，包括：一第一光源，通过一第一照明光路，提供一第一光束；一导光组件，具有一引导部及一反射部，所述所述引导部通过所述所述第一照明光路引导所述所述第一光束；一第二光源，通过一第二照明光路，提供一第二光束至所述所述反射部；以及一分光组件，通过所述所述第二照明光路，引导自所述反射部反射的所述第二光束；其中所述第一光束与所述第二光束汇聚至一预设焦点处。2.如权利要求1所述的整合型光源装置，其特征在于，所述反射部将所述第二光束进行全反射。3.如权利要求1所述的整合型光源装置，其特征在于，所述第二光源的表面延伸与所述导光组件的表面延伸之间具有一夹角，所述夹角为45度。4.如权利要求1所述的整合型光源装置，其特征在于，自所述反射部反射的所述第二光束还通过所述分光组件再分成一第三光束，所述整合型光源装置还包括一吸光组件，设置在所述分光组件相对于所述导光组件的另一侧，用于吸收由所述分光组件分出的所述第三光束。5.如权利要求1所述的整合型光源装置，其特征在于，所述整合型光源装置包括二所述导光组件，于水平方向对称于所述分光组件设置，每一所述导光组件的所述引导部具有一入光端以及一出光端，所述导光组件的所述入光端相互远离，而所述导光组件的所述出光端相互邻近。6.如权利要求1所述的整合型光源装置，其特征在于，所述第一光源以及所述第二光源分别为LED光源，所述第一光源以及所述第二光源分别用于输出不同颜色的光束。7.一种光学检测系统，其特征在于，包括：一图像捕获设备，用于获得一待测物的图像；一图像检测装...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄冠勋，李岳龙，曹语晴，黄宇滕，
申请(专利权)人：由田新技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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