用于自动光学检测的载台压框装置及包含其的自动光学检测系统制造方法及图纸

技术编号:39204028 阅读:8 留言:0更新日期:2023-10-27 09:51
本实用新型专利技术提供了一种用于自动光学检测的载台压框装置及包含其的自动光学检测系统,载台压框装置包括一框架定位机构以及一转接框,框架定位机构设置于一载台上,框架定位机构包括至少一枢转机构;转接框配置为与一待测物的尺寸相符,并用于压制待测物;转接框可拆卸地设置于框架定位机构的至少一枢转机构上,使转接框通过至少一枢转机构来相对载台启闭。本实用新型专利技术相较于现有技术,能够有效的整平待测物,增加待测物于载台上的平坦度,此外,转接框可依照实际检测的待测物不同,快速更换为不同的尺寸,有效的提升装置的通用性以及有效减少更换不同尺寸待测物时检测设备的前置时间。少更换不同尺寸待测物时检测设备的前置时间。少更换不同尺寸待测物时检测设备的前置时间。

【技术实现步骤摘要】
用于自动光学检测的载台压框装置及包含其的自动光学检测系统


[0001]本技术是有关于一种用于自动光学检测的载台压框装置及包含其的自动光学检测系统,尤指一种具有可替换转接框的载台压框装置及包含其的自动光学检测系统。

技术介绍

[0002]在自动光学检测(Automatic Optical Inspection,AOI)的过程中,料片基于自重、温度等因素,有可能会出现一定程度的翘曲,翘曲的问题经常会造成检测失真,甚至有可能造成待测物的部分区域脱离摄像机景深范围的问题。
[0003]一般解决上述问题,通常会使用两种方法,一是通过算法进行修正,例如通过雷射发射器侦测待测物翘曲位置的偏移量进行图像校准、或是直接通过图像处理的方式对偏移量进行图像校准,从而对板翘曲的部分进行补偿,修正实际图像。另一种方式则是通过物理方式修正翘曲,最常规的方式是通过真空吸附的方式吸附待测物表面,使待测物整平于真空吸附平台上。考量检测的效率及精确度,通过物理方式整平翘曲的方式显然相较于算法校准的方式具有更好的表现。
[0004]然而,依据待测物的特性不同,真空吸附的方式时常无法有效的吸附待测物,例如部分的料片可能翘曲度过大使得真空吸附力无法有效作用、或是厚度、硬度较大使得真空吸附力不足以整平料片,造成单靠真空吸附载台的吸附力经常面临无法使料片平坦吸附于载台上的情况。
[0005]此外,某些设备会直接在待测物上使用玻璃板压制,但这个做法也有其受限之处,例如料片有限定不可接触区域时则不可使用玻璃板压制,此外以玻璃板压制的方式也会对自动光学检测系统的光学环境造成影响。

技术实现思路

[0006]本技术的主要目的,在于提供一种用于自动光学检测的载台压框装置,其包括一框架定位机构以及一转接框,框架定位机构设置于一载台上,并包括至少一枢转机构;转接框配置为与一待测物的尺寸相符,并用于压制待测物;转接框可拆卸地设置于框架定位机构的至少一枢转机构上,使转接框通过至少一枢转机构来相对载台启闭。
[0007]本技术的另一目的,在于提供一种自动光学检测系统,其包括至少一如上所述的载台压框装置、一图像捕获装置以及一图像检测装置,载台压框装置用于压制并整平载台上的待测物;图像捕获装置对载台上的待测物进行拍摄,以获取待测物的一待测物图像;图像检测装置连接至图像捕获装置,经由图像捕获装置获得待测物图像,并基于待测物图像输出一图像检测结果。
[0008]本技术相较于现有技术,能够有效的整平待测物,增加待测物于载台上的平坦度,此外,转接框可依照实际检测的待测物不同,快速更换为不同的尺寸,有效的提升装置的通用性以及有效减少更换不同尺寸待测物时检测设备的前置时间。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,并将结合附图对本技术的具体实施例作进一步的详细说明,其中
[0010]图1为本技术中第一实施例的外观示意图。
[0011]图2为本技术中第一实施例的分解示意图。
[0012]图3为本技术中第一实施例的剖面示意图。
[0013]图4为本技术中第一实施例的使用状态示意图(一)。
[0014]图5为本技术中第一实施例的使用状态示意图(二)。
[0015]图6为本技术中第二实施例的外观示意图。
[0016]图7为本技术中第二实施例的局部放大示意图。
[0017]图8为本技术中第二实施例的使用状态示意图(一)。
[0018]图9为本技术中第二实施例的使用状态示意图(二)。
[0019]图10为本技术中自动光学检测系统的方块示意图。
[0020]符号说明:
[0021]100
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载台压框装置
[0022]10
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框架定位机构
[0023]11
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枢转机构
[0024]111
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旋转轴
[0025]12
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卡合机构
[0026]121
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线性滑轨
[0027]122
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定位滑块
[0028]123
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螺杆
[0029]124
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驱动模块
[0030]20
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转接框
[0031]21
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压制单元
[0032]22
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轴孔
[0033]23
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定位件
[0034]24
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张角限制机构
[0035]241
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第一板件
[0036]242
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第二板件
[0037]243
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磁性件
[0038]30
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载台
[0039]31
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导磁件
[0040]32
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防呆机构
[0041]C1
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限位沟槽
[0042]PB
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待测物
[0043]θ
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转折角
[0044]SS
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定位部
[0045]S1
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设置孔
[0046]A1
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放松位置
[0047]A2
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压制位置
[0048]200
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载台压框装置
[0049]40
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框架定位机构
[0050]41
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枢转机构
[0051]411
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举臂
[0052]412
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枢转底座
[0053]413
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旋转轴
[0054]414
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延伸段
[0055]42
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弹性复归件
[0056]50
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转接框
[0057]51
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压制单元
[0058]52
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轴孔
[0059]60
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载台
[0060]300
ꢀꢀꢀꢀ
自动光学检测系统
[0061]70
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图像捕获装置
[0062]80
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图像检测装置
具体实施方式
[0063]为了使本领域技术本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于自动光学检测的载台压框装置,其特征在于,所述载台压框装置包括:一框架定位机构,设置于一载台上,所述框架定位机构包括至少一枢转机构;以及一转接框,配置为与一待测物的尺寸相符,并用于压制所述待测物,所述转接框可拆卸地设置于所述框架定位机构的所述至少一枢转机构上,使所述转接框通过所述至少一枢转机构来相对所述载台启闭。2.如权利要求1所述的载台压框装置,其特征在于,所述框架定位机构包括两个所述枢转机构,间隔地锁固于所述载台的一侧,所述枢转机构分别包括一旋转轴,所述转接框具有两轴孔,分别设置于所述转接框的相对两侧,所述旋转轴分别可拆卸地嵌入于所述轴孔。3.如权利要求1所述的载台压框装置,其特征在于,所述转接框具有多个定位件,设置于所述转接框的周侧,所述框架定位机构包括多个卡合机构,分别设置于所述载台的相对两侧,当所述转接框相对所述载台闭阖时,所述卡合机构分别锁定所述定位件。4.如权利要求3所述的载台压框装置,其特征在于,每一所述卡合机构包括多个线性滑轨、多个定位滑块、一螺杆以及一驱动模块,所述定位滑块分别设置于所述线性滑轨上,所述螺杆结合于该些定位滑块上,所述驱动模块驱动所述螺杆旋转。5.如权利要求4所述的载台压框装置,其特征在于,每一所述定位滑块具有一限位沟槽,所述限位沟槽的开口对准于所述转接框对应的所述定位件,经由移动所述定位滑块使所述限位沟槽于一压制位置以及一放松位置之间移动。6.如权利要求5所述的载台压框装置,其特征在于,所述限位沟槽由所述开口朝内侧方向逐渐向下倾斜。7.如权利要求1所述的载台压框装置,其特征在于,所述转接框包括一张角限制机构,设置于所述转接框的一侧,用以限制所述转接框的张开角度。8.如权利要求7所述的载台...

【专利技术属性】
技术研发人员:林佳民许峰瑞
申请(专利权)人:由田新技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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