一种测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及显示器技术领域，公开了一种测试治具，用以提高测试通用性，提高测试方便。测试治具，包括：第一支撑板，第一支撑板上设有卡槽和用于支撑待测试装配电路板和测试用板卡的支撑架；多个可相互拼接的拼接块，每个拼接块上均设有至少一个测试探针，其中：多个拼接块中的部分拼接块或全部拼接块拼接后形成测试转接板，测试转接板上的测试探针与待测试装配电路板和测试用板卡上的测试口一一对应，测试转接板卡安装于卡槽；第二支撑板，第二支撑板用于固定显示屏，显示屏的柔性电路板与测试用板卡信号连接。

【技术实现步骤摘要】
一种测试治具
本技术涉及显示器制备
，公开了一种测试治具。
技术介绍
在一些特殊应用领域如车载、航空仪器仪表等环境中，由于工作环境要求高温高湿，需要在PCBA(PrintedCircuitBoard+Assembly，装配印刷电路板)贴片后进行三防漆涂覆，以保证器件在后续的传输中不被腐蚀。但是三防漆涂覆后，不能对装配印刷电路板进行返工，所以在涂覆完之后才发现虚焊，假焊等情况，装配印刷电路板无法返工只能报废，增加了生产成本。目前对于装配印刷电路板的品质检查多为AOI(自动光学检测)目视监测，或者对产品的一些电气信号进行波形和电压值的测试。这样的测试不够全面，无法使贴片问题全部暴露出来。在目前的工业应用中采用夹具对装配印刷电路板进行检测，这就需要在每次生产前进行夹具加工。夹具加工成本昂贵，并且在设计中任何变动或者测试需求的增加都会直接导致夹具的重新加工，夹具的通用性较差。
技术实现思路
本技术提供了一种测试治具，用以提高测试通用性，提高测试方便。为达到上述目的，本技术提供以下技术方案：本技术提供了一种测试治具，包括：第一支撑板，所述第一支撑板上设有用于支撑待测试装配电路板和测试用板卡的支撑架；多个可相互拼接的拼接块，每个拼接块上均设有至少一个测试探针，其中：多个拼接块中的部分拼接块或全部拼接块拼接后形成测试转接板，所述测试转接板上的测试探针与所述待测试装配电路板和所述测试用板卡上的测试口一一对应，所述测试转接板卡安装于所述卡槽；第二支撑板，所述第二支撑板用于固定显示屏，所述显示屏的柔性电路板与所述测试用板卡信号连接。本技术提供的测试治具，通过将测试转接板设置为采用多个拼接块拼接形成，在测试时，可以根据待测试装配电路板上的测试口的位置拼装测试转接板，使得测试转接板上的测试探针与待测试装配电路板和待测试用板卡上的测试口一一对应。测试过程为：将拼接好的测试转接板安装在凹槽内，将测试用板卡和待装配电路板放置在支撑架上，将输入信号输送给装配电路板，输入信号会通过信号转接板、测试用板卡输送到显示屏的柔性电路板，若显示屏正常显示，说明待测试装配电路板上走线、焊接等无不良，反之，则说明待测试装配电路板上存在不良位置，需要检修。故，本技术提供的测试治具，具有较好的测试通用性和测试方便性，同时可以降低测试成本。在一些可选的实施方式中，所述测试转接板中的相邻两个拼接块之间卡合连接。采用卡合连接一方面可以增加测试转接板拼装后的稳定性，另一方面便于拼接块之间安装和拆卸。在一些可选的实施方式中，上述测试治具，还包括：用于将所述测试转接板固定在所述卡槽内的两个夹持块，所述测试转接板位于所述两个夹持块之间。夹持块的设置便于提高测试转接板在卡槽内固定的稳定性。在一些可选的实施方式中，每个夹持块与相邻的拼接块之间卡合连接。这样的结构设置提高拼装稳定性。在一些可选的实施方式中，每个拼接块为L型结构或梯形结构或三角形结构。在一些可选的实施方式中，所述第一支撑板和所述第二支撑板垂直连接；和/或，所述多个拼接块中部分拼接块或全部拼接块上设置的测试探针的个数和位置不同。便于拼接和操作。在一些可选的实施方式中，所述第一支撑板上设有多个卡口；所述支撑架包括：用于支撑待所述测试装配电路板的至少两个第一支撑柱以及用于支撑所述测试用板卡的至少两个第二支撑柱，其中：所述至少两个第一支撑柱中的部分第一支撑柱或全部第一支撑柱通过卡口与所述第一支撑板卡合连接；和/或，所述至少两个第二支撑柱中的部分第二支撑柱或全部第二支撑柱通过卡口与所述第一支撑板卡合连接。在一些可选的实施方式中，每个所述测试探针与对应的拼接块螺纹连接。以便于测试探针的更换。在一些可选的实施方式中，所述卡槽为凸字型卡槽。在一些可选的实施方式中，每个夹持块为与所述凸字型卡槽对应配合的L型夹持块。附图说明图1为本技术实施例提供的测试治具测试时的结构示意图；图2为本技术实施例提供的第一支撑板和测试转接板装配在一起的结构示意图；图3为本技术实施例提供的拼接块之间的连接示意图；图4本技术实施例提供的拼接块上的测试探针连接方式示意图。附图标记：1-第一支撑板11-第一支撑柱12-第二支撑柱2-拼接块21-测试探针3-测试转接板4-第二支撑板5-显示屏51-柔性电路板6-夹持块7-待测试装配电路板8-测试用板卡具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术专利保护的范围。如图1和图2所示，本技术提供了一种测试治具，包括：第一支撑板1，第一支撑板1上设有卡槽和用于支撑待测试装配电路板7和测试用板卡8的支撑架；多个可相互拼接的拼接块2，每个拼接块2上均设有至少一个测试探针21，其中：多个拼接块2中的部分拼接块2或全部拼接块2拼接后形成测试转接板3，测试转接板3上的测试探针21与待测试装配电路板和测试用板卡8上的测试口一一对应，测试转接板3卡安装于卡槽；第二支撑板4，第二支撑板4用于固定显示屏5，显示屏5的柔性电路板51与测试用板卡8信号连接。本技术提供的测试治具，通过将测试转接板3设置为采用多个拼接块2拼接形成，在测试时，可以根据待测试装配电路板7上的测试口的位置拼装测试转接板3，使得测试转接板3上的测试探针21与待测试装配电路板7和待测试用板卡8上的测试口一一对应。测试过程为：将拼接好的测试转接板3安装在凹槽内，将测试用板卡8和待装配电路板放置在支撑架上，将输入信号输送给装配电路板(可以通过探针或连接器输入)，输入信号会通过信号转接板、测试用板卡8输送到显示屏5的柔性电路板，若显示屏5正常显示，说明待测试装配电路板7上走线、焊接等无不良，生成的屏驱动视频信号和相应时序信号如下表1所示；反之显示屏5不正常显示，则说明待测试装配电路板7上存在不良位置，需要检修。故，本技术提供的测试治具，具有较好的测试通用性和测试方便性，同时可以降低测试成本。表1.生成的屏驱动视频信号和相应时序信号上述测试转接板3中的相邻两个拼接块2之间的连接关系可以有多种，一种可选的实施方式中，如图3所示，测试转接板3中的相邻两个拼接块2之间卡合连接。采用卡合连接一方面可以增加测试转接板3拼装后的稳定性，另一方面便于拼接块2之间安装和拆卸。如图2所示，上述测试治具，还包括：用于将测试转接板3固定在卡槽内的两个夹持块6，测试转接板3位于两个夹持块6之间。夹持块6的设置便于提高测试转接板3在卡槽内固定的稳定性。即两个夹持块6将测试转接板3夹持在中间，夹持块6可以和卡槽的两端配合卡合。上述夹持块6和相邻的拼接块2之间的连接关系可以有多种，一种可选的实施方式中，每个夹持块6与相邻的拼接块2之间卡合连接。这样可以进一步提高拼装稳定性。上述每个拼接块2的具体结构可以有多种，可选的，每个拼接块2为L型结构或梯形结构或三角形结构。如图1所示，第一支撑板1和所述第二支撑板4垂直连接；当然第一支撑板1和第二支撑板4不限于垂直连接，二者之间围成的角度可以根据实际需要设定。如图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试治具，其特征在于，包括：第一支撑板，所述第一支撑板上设有用于支撑待测试装配电路板和测试用板卡的支撑架；多个可相互拼接的拼接块，每个拼接块上均设有至少一个测试探针，其中：多个拼接块中的部分拼接块或全部拼接块拼接后形成测试转接板，所述测试转接板上的测试探针与所述待测试装配电路板和所述测试用板卡上的测试口一一对应，所述测试转接板卡安装于卡槽；第二支撑板，所述第二支撑板用于固定显示屏，所述显示屏的柔性电路板与所述测试用板卡信号连接。

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于，包括：第一支撑板，所述第一支撑板上设有用于支撑待测试装配电路板和测试用板卡的支撑架；多个可相互拼接的拼接块，每个拼接块上均设有至少一个测试探针，其中：多个拼接块中的部分拼接块或全部拼接块拼接后形成测试转接板，所述测试转接板上的测试探针与所述待测试装配电路板和所述测试用板卡上的测试口一一对应，所述测试转接板卡安装于卡槽；第二支撑板，所述第二支撑板用于固定显示屏，所述显示屏的柔性电路板与所述测试用板卡信号连接。2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试转接板中的相邻两个拼接块之间卡合连接。3.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括：用于将所述测试转接板固定在所述卡槽内的两个夹持块，所述测试转接板位于所述两个夹持块之间。4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，每个夹持块与相邻的拼接块之间卡合连接。5.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，每个拼接块为L型结构或梯...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵可宁，程子洋，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11