阵列基板、阵列基板的检测方法及显示面板技术

技术编号:17560852 阅读:31 留言:0更新日期:2018-03-28 11:36
本发明专利技术提供了一种阵列基板、阵列基板的检测方法及显示面板,其中,阵列基板包括显示区和非显示区,非显示区设置有第一端子和第二端子,显示区内包括与数据线相对设置的遮光电极和沿像素电极边缘设置的公共电极线,遮光电极与第一端子电性连通,公共电极线与第二端子电性连通,遮光电极与公共电极线电性绝缘。本发明专利技术方便监控遮光电极和像素电极之间是否因导电粒子而发生短路,以便检测和修复,进而提高产品良率。

Detection method and display panel of array substrate and array substrate

The present invention provides a method for detecting array substrate, array substrate and display panel, wherein the array substrate includes a display area and a non display area, a non display area is provided with a first terminal and a second terminal, the display area includes the light shielding electrode arranged opposite to the data line and the common electrode line element like along the electrode edge set and the shield electrode and the first terminals are electrically connected, the common electrode wire and the second terminals are electrically connected, shield electrode and the common electrode line is electrically insulated. The invention is convenient to monitor whether the light shielding electrode and the pixel electrode short circuit between the conductive particles, in order to detect and repair, and then improve the product yield.

【技术实现步骤摘要】
阵列基板、阵列基板的检测方法及显示面板
本专利技术涉显示
,特别涉及一种阵列基板、阵列基板的检测方法及显示面板。
技术介绍
液晶显示器具有机身薄、省电、无辐射等众多优点,得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器,其包括液晶面板及背光模组(BacklightModule)。液晶面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子,并在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向,以将背光模组的光线折射出来产生画面。其中,薄膜晶体管液晶显示器(ThinFilmTransistor-LiquidCrystalDisplay,TFT-LCD)由于具有低的功耗、优异的画面品质以及较高的生产良率等性能,近年来得到了飞速的发展和广泛的应用。具体而言,TFT-LCD可视为两片玻璃基板中间夹着一层液晶,上层的玻璃基板是彩色滤光片、下层的玻璃基板上设置有薄膜晶体管。当电流通过薄膜晶体管时,产生电场变化,电场的变化引起液晶分子偏转,从而来改变光线的偏极性,而实现预期的显示画面。随着TFT-LCD的快速发展,像素设计也日益精进,陆续出现了3T技术、DBS(DataLineBMLess)技术。其中,3T技术具体是三个TFT开关经由同一条栅极线(gateline)控制,在gate打开时,其中两个TFT分别给像素电极(Pixel)的主区(main)与子区(sub)充电,同时第三颗TFT会将一部分已经充入子区的电荷漏至阵列基板的公共电极线(Acom)上,拉低子区的电位,即通过保证主区与子区的电位差值来改善大视角。其中,DBS技术具体是在数据线(Dataline)上利用DBScom(DBS电极)的信号线取代传统的BM(BlackMatrix,黑矩阵),从而达到数据线上遮光的效果。DBS技术的应用,可以减小因BM对组不良等因素引起的减小像素开口率的弊端。当DBS技术与3T技术结合使用时,一般会将Dataline上的DBScom与第三颗TFT漏电的Acom通过过孔连接到一起,即给DBScom与Acom相同电位。为了追求更高的开口区面积,DBS电极与像素电极间距离会设计的比较近,当有较大particle(导电粒子)落在两者之间时,DBS电极与像素电极较容易发生short(短路)。尤其是像素电极的Sub区,但是,受第三颗TFT漏电至Acom的影响,无论是Sub区的像素电极还是DBS电极均无法保持恒定电位,使得Sub区像素电极与DBS电极间的short问题,不易检测和修复,造成良率损失。
技术实现思路
本专利技术的一个目的在于提供一种阵列基板、阵列基板的检测方法及显示面板,旨在保持像素电极以及DBS电极具有恒定的电位,从而方便监控像素电极短路的问题,以便及时修复,提高产品良率。为解决上述问题,本专利技术的优选实施例提供了一种阵列基板,包括显示区和非显示区,所述非显示区设置有第一端子和第二端子,所述显示区内包括与数据线相对设置的遮光电极和沿像素电极边缘设置的公共电极线,所述遮光电极与所述第一端子电性连通,所述公共电极线与所述第二端子电性连通,所述遮光电极与所述公共电极线电性绝缘。在本专利技术优选实施例的阵列基板中,所述遮光电极与所述像素电极同层设置,所述公共电极线与栅极线同层设置。在本专利技术优选实施例的阵列基板中,所述遮光电极呈网状,包括多个相互平行的水平部和多个相互平行的垂直部,多个所述水平部直接和多个垂直部相互连接,每一所述垂直部均与相邻两侧的所述垂直部连接。在本专利技术优选实施例的阵列基板中,多个所述垂直部均与所述第一端子连接。在本专利技术优选实施例的阵列基板中,所述遮光电极还包括一连接部,多个所述垂直部连接于所述连接部,所述连接部和所述第一端子连接。在本专利技术优选实施例的阵列基板中,所述连接部和多个所述水平部相互平行,所述连接部和多个所述垂直部相互垂直。在本专利技术优选实施例的阵列基板中,所述阵列基板包括:多条栅极线、多条数据线以及多条所述数据线与多条所述栅极线交叉设置限定出的多个像素单元;所述遮光电极设置在所述数据线上、并遮住所述数据线。在本专利技术优选实施例的阵列基板中,所述垂直部设置在所述数据线上、以遮住所述数据线,所述水平部设置于所述栅极线和所述像素单元之间。为解决上述问题,本专利技术的优选实施例还提供了一种如上所述阵列基板的检测方法,所述阵列基板包括:显示区和非显示区,所述非显示区设置有第一端子和第二端子,所述显示区内包括与数据线相对设置的遮光电极和沿像素电极边缘设置的公共电极线,所述公共电极线与所述第二端子电性连通,所述遮光电极与所述公共电极电性绝缘;所述检测方法包括:将遮光电极与第一端子电性连通;检测非显示区是否有异动;若检测到所述非显示区有异动,则判定出所述遮光电极和像素电极之间有导电粒子。为解决上述问题,本专利技术的优选实施例还提供了一种显示面板,包括相对设置的彩膜基板和阵列基板,所述阵列基板为如上任一所述的阵列基板,所述彩膜基板上设置有公共电极,所述第一端子加载的电压与所述公共电极的电压相同。相对于现有技术,本专利技术阵列基板在检测过程中,将遮光电极与第一端子电性连通,公共电极线与第二端子电性连通,遮光电极与公共电极线电性绝缘;当检测到阵列基板的非显示区有异动时,则判断出遮光电极和像素电极之间有导电粒子,则遮光电极和像素电极之间发生短路。从而,本专利技术方便监控遮光电极和像素电极之间是否因导电粒子而发生短路,以便检测和修复,进而提高产品良率。为让本专利技术的上述内容能更明显易懂,下文特举优选实施例,并配合所附图式,作详细说明如下:【附图说明】图1为本专利技术实施例提供的显示面板的结构示意图。图2为图1所示显示面板在A-A方向的剖面图。图3为本专利技术实施例提供的阵列基板的结构示意图。图4为本专利技术实施例提供的阵列基板的另一结构示意图。图5为本专利技术实施例提供的阵列基板的另一结构示意图。图6为本专利技术实施例提供的第一晶体管、第二晶体管及第三晶体管三者相互配合的等效电路图。图7为本专利技术实施例提供的阵列基板的检测方法的流程示意图。【具体实施方式】这里所公开的具体结构和功能细节仅仅是代表性的,并且是用于描述本专利技术的示例性实施例的目的。但是本专利技术可以通过许多替换形式来具体实现,并且不应当被解释成仅仅受限于这里所阐述的实施例。在本专利技术的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。另外,术语“包括”及其任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。在本专利技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电本文档来自技高网
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阵列基板、阵列基板的检测方法及显示面板

【技术保护点】
一种阵列基板,其特征在于,包括显示区和非显示区,所述非显示区设置有第一端子和第二端子,所述显示区内包括与数据线相对设置的遮光电极和沿像素电极边缘设置的公共电极线,所述遮光电极与所述第一端子电性连通,所述公共电极线与所述第二端子电性连通,所述遮光电极与所述公共电极线电性绝缘。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板,其特征在于,包括显示区和非显示区,所述非显示区设置有第一端子和第二端子,所述显示区内包括与数据线相对设置的遮光电极和沿像素电极边缘设置的公共电极线,所述遮光电极与所述第一端子电性连通,所述公共电极线与所述第二端子电性连通,所述遮光电极与所述公共电极线电性绝缘。2.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述遮光电极与所述像素电极同层设置,所述公共电极线与栅极线同层设置。3.根据权利要求1所述的阵列基板,其特征在于,所述遮光电极呈网状,包括多个相互平行的水平部和多个相互平行的垂直部,每一所述水平部均与相邻两侧的所述垂直部连接。4.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,多个所述垂直部均与所述第一端子连接。5.根据权利要求3所述的阵列基板,其特征在于,所述遮光电极还包括一连接部,多个所述垂直部连接于所述连接部,所述连接部和所述第一端子连接。6.根据权利要求5所述的阵列基板,其特征在于,所述连接部和多个所述水平部相互平行,所述连接部和多个所述垂直部相互垂直。7.根据权利要求3所述的阵列基板,...

【专利技术属性】
技术研发人员:李倩倩姚晓慧
申请(专利权)人:深圳市华星光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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