一种基准电压通用测试装置制造方法及图纸

技术编号:17297623 阅读:34 留言:0更新日期:2018-02-18 10:19
本实用新型专利技术公开了一种基准电压通用测试装置,包括:测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统;所述测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接,且待测试的器件通过器件管脚与测试插座连接;其中,所述测试电路板一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口,另一侧设置有与测试插座匹配的接口;所述测试插座一端与测试电路板连接,另一端设置有与待测试的器件管脚匹配的接口;所述待测试的器件通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接,完成器件的基准电压测试。所述基准电压通用测试装置能够在利用现有测试系统的基础上,提高器件基准电压的测试效率和准确性。

A general test device for reference voltage

The utility model discloses a universal reference voltage test device includes a test socket, a test circuit board and integrated circuit testing system; the test socket is connected with the integrated circuit test system through the test circuit board, and the device to be tested by pin devices and test socket connection; wherein, one side of the test circuit. Board is provided with an interface and matching IC test system, the other side is provided with a matching and socket interface; the test socket is connected with the testing circuit board, the other end is provided with a foot, and the interface device to be tested; the test device to be connected by the test socket and the corresponding circuit board test test interface and integrated circuit test system, complete reference voltage test device. The reference voltage general test device can improve the test efficiency and accuracy of the device base voltage on the basis of the existing test system.

【技术实现步骤摘要】
一种基准电压通用测试装置
本技术涉及测试装置
,特别是指一种基准电压通用测试装置。
技术介绍
当前随着科学的发展,各种测试系统的功能越来越强大、全面。但是也给小部件的测试尤其是模块化的测试带来了问题,例如对于一个功能全面的测试系统,基于普遍性与通用性,测试系统的结构设置成可以与不同器件连接的方式,虽然使得不同器件均能实现不同的测试目的,但是每次测试不同器件时,均需要逐个管脚依次与测试系统连接,不仅费时费力,而且容易出现人工误差,导致测试的失误。因此在实现本技术的过程中,专利技术人发现现有技术至少存在以下缺陷:对于器件的功能测试尤其是基准电压测试的效率和准确性不高。
技术实现思路
有鉴于此,本技术的目的在于提出一种基准电压通用测试装置,在利用现有测试装置的基础上,提高器件基准电压的测试效率和准确性。基于上述目的本技术提供的一种基准电压通用测试装置,包括:测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统:所述测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接,且待测试的器件通过器件管脚与测试插座连接;其中,所述测试电路板一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口,另一侧设置有与测试插座匹配的接口;所述测试插本文档来自技高网...
一种基准电压通用测试装置

【技术保护点】
一种基准电压通用测试装置,其特征在于,包括:测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统;所述测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接,且待测试的器件通过器件管脚与测试插座连接;其中,所述测试电路板一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口,另一侧设置有与测试插座匹配的接口;所述测试插座一端与测试电路板连接,另一端设置有与待测试的器件管脚匹配的接口;所述待测试的器件通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接,完成器件的基准电压测试。

【技术特征摘要】
1.一种基准电压通用测试装置,其特征在于,包括:测试插座、测试电路板以及集成电路测试系统;所述测试插座通过测试电路板与集成电路测试系统连接,且待测试的器件通过器件管脚与测试插座连接;其中,所述测试电路板一侧设置有与集成电路测试系统匹配的接口,另一侧设置有与测试插座匹配的接口;所述测试插座一端与测试电路板连接,另一端设置有与待测试的器件管脚匹配的接口;所述待测试的器件通过测试插座和测试电路板与集成电路测试系统中的相应测试接口连接,完成器件的基准电压测试。2.根据权利要求1所述的基准电压通用测试装置,其特征在于,所述测试插座中设置有扳手结构和铜片;其中,所述扳手结构用于通过按压铜片进而控制待测器件的管脚与测试插座的连接强度。...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁宇飞乔秀铭赵帅
申请(专利权)人:航天科工防御技术研究试验中心
类型:新型
国别省市:北京,11

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