一种低功耗低温度系数的电压基准源电路制造技术

一种低功耗低温度系数的电压基准源电路，其特征在于包括PTAT电流产生电路和负载电路；PTAT电流产生电路与负载电路一端相连，基准电压源由所述负载电路输出，所述PTAT电流产生电路由PM0、PM1、PM2、PM3、NM0、NM1、NM2、NM5和NM6组成，PM0、PM1、PM2、PM3为PMOS管，NM0、NM1、NM2、NM5和NM6为NMOS管。本发明专利技术与已有技术相比，具有即使是低电压，甚至是超低电压下，也能正常工作的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片的电压基准源
，尤其涉及一种低功耗低温度系数的电压基准源电路。
技术介绍
基准电压源是集成电路中极为重要的模块，广泛应用于模拟、数字、模数混合电路中，特别是在数模转化器和模数转换器等系统中。对模拟系统而言，基准电压源的性能直接影响整个系统的精度，而基准电压源的性能主要受温度的影响，因此需要设计出一种输出与温度无关的基准电压源。传统的基准电压源采用带隙基准技术设计，这些设计中，都是利用双极型晶体管的基极—发射极电压具有负温度特性，而工作在不同电流密度下的基极—发射极电压之差则具有正温度特性，两者相互补偿可得到与温度无关的输出电压。采用带隙基准技术设计的基准电压源的输出电压大于1V，其典型值是1.25V，而当今由于移动电子设备的增多，要求模拟集成电路的电源电压能够降至1V左右，功耗在uW量级上，降低功耗的一个重要方法就是降低电源电压，因此带隙基准难以达到低功耗要求。与此同时，随着CMOS工艺发展到深亚微米，一些标准CMOS工艺未提供三极管器件，带隙基准不再适用。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，本专利技术提供了一种输出的基准电压源低于1V，室温本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种低功耗低温度系数的电压基准源电路，其特征在于包括PTAT电流产生电路和负载电路；PTAT电流产生电路与负载电路一端相连，基准电压源由所述负载电路输出，所述PTAT电流产生电路由PM0、PM1、PM2、PM3、NM0、NM1、NM2、NM3、NM5和NM6组成，PM0、PM1、PM2、PM3为PMOS管，NM0、NM1、NM2、NM3、NM5和NM6为NMOS管，PM0漏极d与NM3漏极d连接，PM0栅极g与PM2栅极d连接，PM0源极s与电源VDD连接，PM0衬底与电源VDD相连；PM1漏极d与其栅极g连接，PM1源极s与电源VDD连接，PM1衬底接电源VDD；PM2漏极d与其栅极g连接，...

【技术特征摘要】
1.一种低功耗低温度系数的电压基准源电路，其特征在于包括PTAT电流产生电路和负载电路；PTAT电流产生电路与负载电路一端相连，基准电压源由所述负载电路输出，所述PTAT电流产生电路由PM0、PM1、PM2、PM3、NM0、NM1、NM2、NM3、NM5和NM6组成，PM0、PM1、PM2、PM3为PMOS管，NM0、NM1、NM2、NM3、NM5和NM6为NMOS管，PM0漏极d与NM3漏极d连接，PM0栅极g与PM2栅极d连接，PM0源极s与电源VDD连接，PM0衬底与电源VDD相连；PM1漏极d与其栅极g连接，PM1源极s与电源VDD连接，PM1衬底接电源VDD；PM2漏极d与其栅极g连接，PM2源极s与电源VDD连接，PM2衬底与电源VDD连接；PM3漏极d与NM1漏极d连接，PM3栅极g与PM1栅极g连接，PM3源极s与电源VDD连接，PM3衬底与电源VDD连接；NM0漏极d与PM1漏极d连接，NM0栅极g与NM3栅极g连接，NM0源极s与NM6漏极d连接，NM0衬底接地GND；NM1漏极d与其栅极g连接，NM1源极s接地GND，...

【专利技术属性】
技术研发人员：段志奎，陈建文，吴江旭，王兴波，谭海曙，朱珍，于昕梅，樊耘，杨发权，肖永豪，周月霞，
申请(专利权)人：佛山科学技术学院，
类型：发明
国别省市：广东;44