一种液晶穿刺检测设备及其检测方法技术

本发明专利技术公开一种液晶穿刺检测设备，包括：落射光源，用于提供入射至所述液晶面板的入射光线；成像装置，用于接收来自所述液晶面板的反射光线，所述落射光源与所述成像装置成预设角度；起偏器，设置在所述落射光源与所述液晶面板之间；检偏器，设置在所述成像装置与所述液晶面板之间，其中，所述起偏器的偏振方向与所述检偏器的偏振方向垂直；检测模块，用于在所述落射光源发出的入射光线经所述起偏器、所述液晶面板、所述检偏器射入所述成像装置后，从所述成像装置获得图像，根据所述图像确定所述液晶面板的液晶穿刺状态。本发明专利技术实施例的液晶穿刺检测设备操作简单，自动化程度高，节约人力资源，有效地提高了液晶穿刺的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种液晶穿刺检测设备及其检测方法
本专利技术涉及液晶显示
，特别是涉及一种液晶穿刺检测设备及其检测方法。
技术介绍
随着液晶显示高分辨率的极速发展以及窄边框的市场需求的加深，封框胶的宽度越来越窄，为了提高透过率，负性液晶也越来越多的使用到液晶显示产品中，而液晶穿刺也成为了液晶显示产品中不可避免的问题。在液晶面板中，穿刺发生50％以上有断胶漏液晶的风险；穿刺发生50％以内，封框胶的粘附力会降低，导致两个基板分离(Peeloff)，最终导致显示不良。目前，为了避免出现Peeloff的风险，通常是使用专用的显微镜观察面板(panel)进行液晶穿刺监控。每个班组抽检一个Qpanel(一个Qpanel包括50个singlepanel)进行监控，每个Qpanel监控需要花费30min～60min。这样的监控方式对于液晶穿刺可以起到监控作用，但是由于检测数量较少，自动化程度低，不具代表性，且每次检测需要专用显微镜及工程师长时间的对应，造成人力和财力的浪费。
技术实现思路
本专利技术提供了一种液晶穿刺检测设备，以解决现有技术中对液晶穿刺检测耗时长、自动化程度低的问题。一方面，本专利技术提供一种液晶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶穿刺检测设备，其特征在于，包括：落射光源，用于提供入射至所述液晶面板的入射光线；成像装置，用于接收来自所述液晶面板的反射光线，所述落射光源与所述成像装置成预设角度；起偏器，设置在所述落射光源与所述液晶面板之间；检偏器，设置在所述成像装置与所述液晶面板之间，其中，所述起偏器的偏振方向与所述检偏器的偏振方向垂直；检测模块，用于在所述落射光源发出的入射光线经所述起偏器、所述液晶面板、所述检偏器射入所述成像装置后，从所述成像装置获得图像，根据所述图像确定所述液晶面板的液晶穿刺状态。

【技术特征摘要】
1.一种液晶穿刺检测设备，其特征在于，包括：落射光源，用于提供入射至所述液晶面板的入射光线；成像装置，用于接收来自所述液晶面板的反射光线，所述落射光源与所述成像装置成预设角度；起偏器，设置在所述落射光源与所述液晶面板之间；检偏器，设置在所述成像装置与所述液晶面板之间，其中，所述起偏器的偏振方向与所述检偏器的偏振方向垂直；检测模块，用于在所述落射光源发出的入射光线经所述起偏器、所述液晶面板、所述检偏器射入所述成像装置后，从所述成像装置获得图像，根据所述图像确定所述液晶面板的液晶穿刺状态。2.根据权利要求1所述的液晶穿刺检测设备，其特征在于，所述检测模块用于检测所述图像中明亮区域的尺寸，根据所述明亮区域的尺寸确定液晶穿刺尺寸，其中，所述图像中的明亮区域通过所述检偏器入射至所述成像装置中的光线产生。3.根据权利要求2所述的液晶穿刺检测设备，其特征在于，所述检测模块还用于获得所述液晶面板的封框胶的胶宽，并根据穿刺尺寸与所述胶宽确定所述封框胶的液晶穿刺程度。4.根据权利要求1所述的液晶穿刺检测设备，其特征在于，所述起偏器及所述检偏器的位置可调节；在所述液晶穿刺检测设备对所述液晶面板的液晶穿刺程度检测结束后，所述起偏器可移出所述落射光源与所述液晶面板之间；所述检偏器可移出所述成像装置与所述液晶面板之间。5.根据权利要求1所述的液晶穿刺检测设备，其特征在于，所述液晶穿刺检测设备还用于对所述液晶面板进行对位检测及封框胶胶...

【专利技术属性】
技术研发人员：付帅，庞鲁，白强强，张明亮，王磊，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11