测量在两个环向元件之间的受限空间中的相对同心度偏差制造技术

技术编号:16034745 阅读:76 留言:0更新日期:2017-08-19 15:46
本发明专利技术涉及测量在两个环向元件之间的受限空间中的相对同心度偏差。具体地,一种工具测量在两个环向元件例如涡轮转子和涡轮隔板之间的受限空间中的相对同心度偏差。工具包括壳体,以及与壳体相联接的传感器,该传感器测量从壳体至上述两个环向元件中之一的距离。轴向弹簧柱塞连接至壳体,以及径向弹簧柱塞连接至壳体并且布置成正交于轴向弹簧柱塞。工具还包括滑动或滚动表面,其位于壳体的与轴向弹簧柱塞和径向弹簧柱塞中之一相反的侧面上。

【技术实现步骤摘要】
测量在两个环向元件之间的受限空间中的相对同心度偏差
本专利技术主要涉及一种测量工具和方法,并且更具体地涉及一种用于测量在两个环向元件之间例如在涡轮转子和涡轮隔板(diaphragm)之间的受限空间中的相对同心度偏差的工具和方法。
技术介绍
为了涡轮更加有效地操作,在其组装期间或者检修期间,对于转子有利的是相对于定子满足一定的同心度要求。常常期望的是测量转子和定子的同心度,其中转子保持就位。然而,对于此种方式的难点在于转子和定子隔板之间小的径向间隙由于不能进入和空间受约束而无法手动地测量。
技术实现思路
在一示例性实施例中,一种工具测量在两个环向元件之间的受限空间(或狭窄空间)中的相对同心度偏差。工具包括壳体,以及与壳体相联接的传感器,该传感器测量从壳体至上述两个环向元件中之一的距离。轴向弹簧柱塞连接至壳体,以及径向弹簧柱塞连接至壳体并且布置成正交于轴向弹簧柱塞。工具还包括滑动或滚动表面,其位于壳体的与轴向弹簧柱塞和径向弹簧柱塞中之一相反的侧面上。在另一示例性实施例中,一种测量在两个环向元件之间的受限空间中的相对同心度偏差的方法包括以下步骤:(a)将壳体定位在两个环向元件之间;(b)使轴向本文档来自技高网...
测量在两个环向元件之间的受限空间中的相对同心度偏差

【技术保护点】
一种用于测量在两个环向元件之间的受限空间中的相对同心度偏差的工具,所述工具包括:壳体(12,32);与所述壳体相联接的传感器(14,34),所述传感器测量从所述壳体至所述两个环向元件中之一的距离;连接至所述壳体的轴向弹簧柱塞(16,35);连接至所述壳体并且正交于所述轴向弹簧柱塞的径向弹簧柱塞(18,36);以及滑动或滚动表面(20,38,39),其位于所述壳体的与所述轴向弹簧柱塞和所述径向弹簧柱塞中之一相反的侧面上。

【技术特征摘要】
2015.10.05 US 14/8750241.一种用于测量在两个环向元件之间的受限空间中的相对同心度偏差的工具,所述工具包括:壳体(12,32);与所述壳体相联接的传感器(14,34),所述传感器测量从所述壳体至所述两个环向元件中之一的距离;连接至所述壳体的轴向弹簧柱塞(16,35);连接至所述壳体并且正交于所述轴向弹簧柱塞的径向弹簧柱塞(18,36);以及滑动或滚动表面(20,38,39),其位于所述壳体的与所述轴向弹簧柱塞和所述径向弹簧柱塞中之一相反的侧面上。2.根据权利要求1所述的工具,其特征在于,所述两个环向元件包括内环向元件和外环向元件,并且其中,所述轴向弹簧柱塞(16,35)和所述径向弹簧柱塞(18,36)相对于所述壳体(12,32)定位成以便与所述内环向元件相接合。3.根据权利要求2所述的工具,其特征在于,所述滑动或滚动表面(20,38,39)相对于所述壳体(12,32)定位成以便与所述外环向元件相接合。4.根据权利要求1所述的工具,其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员:PK兹齐奥尔PH戴维森AA克勒奇JM德尚
申请(专利权)人:通用电气公司
类型:发明
国别省市:美国,US

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