一种IGBT模块测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种IGBT模块测试装置，包括具有探针且位置固定的测试工装，还包括用以固定IGBT模块的热板，所述热板能够带动所述IGBT模块向所述测试工装的方向运动，以实现所述IGBT模块的针状端子与所述探针接触，所述针状端子与所述探针之间设置导电片，且所述导电片包括用以与所述针状端子相接触的倾斜端和用以与所述探针相接触的水平端。上述IGBT模块测试装置，提高了测试的稳定性，并且消除了在测试过程中，对IGBT模块针状端子产生的机械损伤，延长了使用寿命。

IGBT module test device

The invention discloses a IGBT module testing device, including probe and fixed position test tool, but also includes with hot plate fixation of the IGBT module, the hot plate can drive the IGBT module to the test fixture in the direction of movement, in order to achieve the needle shaped terminal of the IGBT module and the probe contact, a conductive sheet is arranged between the needle terminal and the probe, and the conductive sheet includes a slanted end contact with the needle shaped terminal and probe for contacting the level of the end. The IGBT module test device improves the stability of the test, and eliminates the mechanical damage to the needle terminals of the IGBT module during the testing process and prolongs the service life.

【技术实现步骤摘要】
一种IGBT模块测试装置
本专利技术涉及测试装置领域，特别涉及一种IGBT模块测试装置。
技术介绍
在IGBT模块工艺流程中，为评估模块的电参数特性，需要对完成封装的IGBT模块进行测试。通常来说，通过母排端子将IGBT模块内部互连电路引出，以提供和外部电路测试和连接的端口。在现有技术中，对于带针状端子的IGBT模块，由于针状端子的尺寸较小，且间距较窄，无法使用接触面积较大的弹簧探针对模块进行测试，且探针在与针状端子接触过程中，由于IGBT模块的定位偏差及接触打滑等因素，容易导致接触不良，影响IGBT模块的测试。无法确保针状端子与弹簧探针对准，容易导致探针与模块针状端子接触不良，进而影响IGBT模块测试。在运动过程中，由于在接触时可能会发生打滑，在这种应力的作用下，模块针状端子可能会发生变形，甚至断裂，而导致模块无法使用。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种IGBT模块测试装置，该IGBT模块测试装置可以实现弹簧探针与IGBT模块良好的接触，提高测试的稳定性，并消除测试过程中，对模块针状端子产生的机械损伤。为实现上述目的，本专利技术提供一种IGBT模块测试装置，包括具有探针且位置固定的测试工装，还包括用以固定IGBT模块的热板，所述热板能够带动所述IGBT模块向所述测试工装的方向运动，以实现所述IGBT模块的针状端子与所述探针接触，所述针状端子与所述探针之间设置导电片，且所述导电片包括用以与所述针状端子相接触的倾斜端和用以与所述探针相接触的水平端。相对于上述
技术介绍
，本专利技术提供的IGBT模块测试装置，利用导电片的倾斜端和水平端分别与针状端子和探针相接触，由于水平端具有一定的长度，因此水平端与探针相接触时，探针在水平方向上可以有一定的误差或位移，只要探针位于水平端的区域范围之内，均可以实现对IGBT模块进行测试，这样一来，避免了现有技术中，由于针状端子和探针直接接触所导致的容易发生变形等事故；换句话说，本专利技术的核心在于将针状端子和探针之间类似于轴孔接触的方式改变为面面接触，即，在针状端子与探针之间设置导电片，且导电片的倾斜端和水平端分别与针状端子和探针的接触面积增大，进而提高了测试的稳定性，并且消除了在测试过程中，对IGBT模块针状端子产生的机械损伤，延长了使用寿命。优选地，还包括用以固定所述导电片的适配板，所述适配板设置于所述IGBT模块上。优选地，所述适配板包括相互连接的上板和下板，所述上板设置用以将所述导电片固定于所述上板的定位块。优选地，所述上板的上表面设置用以固定所述水平端的导电片定位槽；所述上板的下表面设置用以固定定位块的定位块定位槽；所述导电片还包括与所述水平端连接的侧边，底边分别连接于所述侧边和所述倾斜端，且所述导电片具体为能够供所述定位块嵌入的凹槽状；所述导电片定位槽与所述定位块定位槽之间设置有能够供所述水平端由所述下表面伸入所述导电片定位槽的通槽；所述下板设置用以供所述针状端子伸入并与所述倾斜端接触的扁平槽。优选地，所述定位块为凸台，所述凸台的顶部通过所述通槽设置于所述上表面，且所述凸台的两侧卡接于所述定位块定位槽的两侧。优选地，所述下板设置用以容纳所述底边的容纳槽。优选地，所述容纳槽与所述底边涂胶粘贴。优选地，还包括用以带动所述热板在竖直方向上运动的活塞缸。优选地，所述导电片集成于注塑一体成型的所述上板与所述定位块中。优选地，所述上板与所述下板可拆卸连接。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为IGBT模块的结构示意图；图2为本专利技术实施例所提供的适配板的结构示意图；图3为图2的底面的示意图；图4为图2的爆炸示意图；图5为图2中上板的上表面示意图；图6为图2中上板的下表面示意图；图7为图2中下板的上表面示意图；图8为本专利技术实施例所提供的适配板与IGBT模块连接的示意图；图9为图8与测试工装在检测过程中示意图。其中：1-针状端子、2-主导电端、3-上板、4-下板、5-导电片、6-紧固孔、7-扁平槽、8-定位块、9-容纳槽、10-导电片定位槽、11-定位块定位槽、12-水平端、13-倾斜端、14-测试工装、15-探针、16-主母排探针。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。为了使本
的技术人员更好地理解本专利技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步的详细说明。请参考图1至图9，图1为IGBT模块的结构示意图；图2为本专利技术实施例所提供的适配板的结构示意图；图3为图2的底面的示意图；图4为图2的爆炸示意图；图5为图2中上板的上表面示意图；图6为图2中上板的下表面示意图；图7为图2中下板的上表面示意图；图8为本专利技术实施例所提供的适配板与IGBT模块连接的示意图；图9为图8与测试工装在检测过程中示意图。本专利技术提供的一种IGBT模块测试装置，主要包括热板，测试工装14以及导电片5。IGBT模块的结构如说明书附图1所示。针状端子1位于IGBT模块本体的边缘，IGBT模块本体的两端设置主导电端2；IGBT模块固定于热板，热板的上表面设置限位槽等限位部件，且热板的底部设置气缸等活塞缸，带动热板与IGBT模块朝向竖直方向运动。IGBT模块的上方设置有位置固定不动的测试工装14，测试工装14的结构如说明书附图9所示，测试工装14的底部设置探针15和主母排探针16，探针15用于与针状端子1导通，主母排探针16用于与主导电端2导通。在测试过程中，热板与IGBT模块竖直向上运动，靠近测试工装14；本专利技术的核心在于，利用导电片5实现探针15与针状端子1的导通；具体来说，导电片5包括倾斜端13和水平端12，倾斜端13与针状端子1之间具有一定夹角，能够与针状端子1相接触，水平端12能够与探针15相接触，进而实现IGBT模块的电流依次通过针状端子1、导电片5和探针15进而实现测试工装14的测试工作。探针15与针状端子1均竖直设置，而导电片5的倾斜端13相对于探针15与针状端子1具有一定的角度，进而可以增大倾斜端13与针状端子1之间的接触面积；导电片5的水平端12相对于探针15与针状端子1垂直，由于探针15的底部具有导电座，导电座的截面尺寸大于探针15的竖直本体的截面尺寸，因此探针15的导电座与水平端12之间的接触面积较大，且导电座可以在水平端12所处区域内移动，能够在一定程度上弥补热板和/或IGBT模块的运动误差。探针15与针状端子1之间不直接接触，而是利用导电片5作为电能传输部件，有效降低探针15与针状端子1因直接接触而带来的损耗，有效延长IGBT模块测试装置的使用寿命。由于导电片5的水平端12具有一定的长度，因此水平端12与探针15相接触时，探针15在水平方向上可以有一定的误差或位移，只要探针15位于水平端12的区域范围之内均可以实现对IGBT模本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种IGBT模块测试装置，其特征在于，包括具有探针且位置固定的测试工装，还包括用以固定IGBT模块的热板，所述热板能够带动所述IGBT模块向所述测试工装的方向运动，以实现所述IGBT模块的针状端子与所述探针接触，所述针状端子与所述探针之间设置导电片，且所述导电片包括用以与所述针状端子相接触的倾斜端和用以与所述探针相接触的水平端。

【技术特征摘要】
1.一种IGBT模块测试装置，其特征在于，包括具有探针且位置固定的测试工装，还包括用以固定IGBT模块的热板，所述热板能够带动所述IGBT模块向所述测试工装的方向运动，以实现所述IGBT模块的针状端子与所述探针接触，所述针状端子与所述探针之间设置导电片，且所述导电片包括用以与所述针状端子相接触的倾斜端和用以与所述探针相接触的水平端。2.根据权利要求1所述的IGBT模块测试装置，其特征在于，还包括用以固定所述导电片的适配板，所述适配板设置于所述IGBT模块上。3.根据权利要求2所述的IGBT模块测试装置，其特征在于，所述适配板包括相互连接的上板和下板，所述上板设置用以将所述导电片固定于所述上板的定位块。4.根据权利要求3所述的IGBT模块测试装置，其特征在于，所述上板的上表面设置用以固定所述水平端的导电片定位槽；所述上板的下表面设置用以固定定位块的定位块定位槽；所述导电片还包括与所述水平端连接的侧边，底边分别连接于所述侧边和所述倾斜端，且所述导电片具体为能够供所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：方杰，李义，彭勇殿，窦泽春，吴义伯，宋自珍，陈彦，万超群，余伟，罗海辉，
申请(专利权)人：株洲中车时代电气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖南,43