应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例提供了一种应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置，其包括：一个IGBT半桥臂模块、第一连接支路和第二连接支路；以及在第一连接支路或第二连接支路上设置的熔断器接入端口；IGBT半桥臂模块的上、下桥臂连接；第一连接支路一端与IGBT半桥臂模块的桥臂中点连接、另一端与外接的三相交流电源的A相连接；第二连接支路一端与IGBT半桥臂模块的下桥臂连接、另一端与三相交流电源的B相连接。本实施例通过采用一个IGBT半桥臂模块便可完成测试单相短路的搭建，以检测熔断器对续流二极管的保护能力，既减小了器件体积，便于携带，又节省了成本。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电力电子
，特别涉及一种应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置。
技术介绍
现有的绝缘栅双极型晶体管(InsulatedGateBipolarTransistor，IGBT)功率模块通常包含多个IGBT半桥臂模块，每个IGBT半桥臂模块由上桥臂和下桥臂组成；上、下桥臂皆由一个IGBT和一个反接的续流二极管连接而成。现有技术中测试熔断器保护IGBT模块中续流二极管的单相短路的实验电路如图1所示，两路连接支路分别于两个IGBT半桥臂模块的桥臂中点连接，通过外接三相交流电中的两个相电压，来完成测试熔断器保护IGBT模块中续流二极管的单相短路的保护能力。现有技术存在如下缺陷：首先，整个测试电路中需要两个并联的IGBT半桥臂模块1，电路结构复杂；其次，该测试电路只能测试单相交流电对IGBT半桥臂模块1的影响，不能模拟测试现有三相交流电连接IGBT半桥臂模块时的工作场景。
技术实现思路
本技术的实施例提供一种应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置，通过采用一个IGBT半桥臂模块检测熔断器对续流二极管的保护能力。为达到上述目的，本技术的实施例提供了一种应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置，包括：一个IGBT半桥臂模块、第一连接支路和第二连接支路；以及在所述第一连接支路或所述第二连接支路上设置的熔断器接入端口；所述IGBT半桥臂模块的上、下桥臂连接；所述第一连接支路一端与所述IGBT半桥臂模块的桥臂中点连接、另一端与三相交流电源的A相连接；所述第二连接支路一端与所述IGBT半桥臂模块的下桥臂连接、另一端与所述三相交流电源的B相连接。如上所述的装置，所述测试装置还包括：第三连接支路，所述第三连接支路一端与所述IGBT半桥臂模块的下桥臂连接、另一端与所述三相交流电源的C相连接；当所述第二连接支路上设置有所述熔断器接入端口时，所述第三连接支路一端通过所述熔断器接入端口与所述IGBT半桥臂模块的下桥臂连接。如上所述的装置，所述测试装置还包括：串联单元，所述串联单元包括依次串联连接的电感、电阻和第一开关装置；所述第一连接支路及所述第二连接支路上设置有所述串联单元，或者，所述第一连接支路、所述第二连接支路及所述第三连接支路上设置有所述串联单元，各所述串联单元中的所述第一开关装置的一端与所述三相交流电源连接。如上所述的装置，每一所述串联单元包括依次串联连接的第二开关装置、所述电感、所述电阻及所述第一开关装置。如上所述的装置，所述测试装置中还包括所述三相交流电源。如上所述的装置，所述第一开关装置和所述第二开关装置为触点开关或单刀开关。本技术实施例提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置，通过采用一个IGBT半桥臂模块便可完成测试单相短路的搭建，以检测熔断器对续流二极管的保护能力，既减小了器件体积，便于携带，又节省了成本。附图说明图1为现有技术中一种测试熔断器保护IGBT模块中续流二极管的单相短路实验电路；图2为本技术提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置一个实施例的结构示意图；图3为本技术提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置另一个实施例的结构示意图；图4为本技术提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置再一个实施例的结构示意图；图5为本技术提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置又一个实施例的结构示意图。附图标号说明：S1-第一连接支路；S2-第二连接支路；1-IGBT半桥臂模块；2-熔断器接入端口；L-电感；R-电阻；K1-第一开关装置；K2-第二开关装置。具体实施方式下面结合附图对本技术实施例应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置进行详细描述。实施例一图2为本技术提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置一个实施例的结构示意图，该测试装置包括一个IGBT半桥臂模块1、第一连接支路S1和第二连接支路S2以及在第一连接支路S1或第二连接支路S2上设置的供接入熔断器的熔断器接入端口2。具体地，第一连接支路S1的一端与IGBT半桥臂模块1的桥臂中点连接，其另一端与三相交流电源的A相连接；第二连接支路S2的一端与IGBT半桥臂模块1的下桥臂连接，其另一端与三相交流电源的B相连接；IGBT半桥臂模块1的上、下桥臂连接，以形成回路。下面对测试的原理进行详细说明：按照图2的方式连接电路后接入熔断器，如果A、B间线电压为正向电压，则电流从A相流出，流经方向依次通过第一连接支路S1、熔断器、IGBT半桥臂模块1的桥臂中点、IGBT模块上桥臂的续流二极管、上桥臂和下桥臂的连线、第二连接支路S2、最后回到B相。如果A、B间线电压为反相电压，则电流从B相流出，流经方向依次通过第二连接支路S2、IGBT模块下桥臂的续流二极管、IGBT半桥臂模块1的桥臂中点、熔断器、第一连接支路S1，最后回到A相。在测试过程中，可以调节交流电源相电压的大小，当相电压达到续流二极管的损坏电压时，熔断器及时断开，说明熔断器的保护能力强，符合要求；如果相电压到达足够大，续流二极管已经被损坏，但熔断器仍然没有熔断，说明熔断器的保护能力弱。本技术实施例提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置，通过采用一个IGBT半桥臂模块便可完成测试单相短路的搭建，以检测熔断器对续流二极管的保护能力，既减小了器件体积，便于携带，又节省了成本。实施例二图3为本技术提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置另一个实施例的结构示意图。如图3所示，在图2的基础上，该测试装置还包括第三连接支路S3。具体地，第三连接支路S3的一端与IGBT半桥臂模块1的下桥臂连接，其另一端与三相交流电源的C相连接。在本实施例中，第二连接支路S2和第三连接支路S3靠近IGBT半桥臂模块1的一端设置有一个公共连接点。优选地，当第二连接支路S2上设置有熔断器接入端口2时，第三连接支路S3一端通过熔断器接入端口2与IGBT半桥臂模块1的下桥臂连接，如此，即可以使第二连接支路S2和第三连接支路S3共用一个熔断器。本技术实施例提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置，可以通过三相交流电源的A相和B相对熔断器进行测试，也可以通过B相和C相或者A相和C相对熔断器进行测试，完成测试单相短路的搭建；同时三相交流电源同时本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置，其特征在于，包括：一个IGBT半桥臂模块(1)、第一连接支路(S1)和第二连接支路(S2)；以及在所述第一连接支路(S1)或所述第二连接支路(S2)上设置的熔断器接入端口(2)；所述IGBT半桥臂模块(1)的上、下桥臂连接；所述第一连接支路(S1)一端与所述IGBT半桥臂模块(1)的桥臂中点连接、另一端与三相交流电源的A相连接；所述第二连接支路(S2)一端与所述IGBT半桥臂模块(1)的下桥臂连接、另一端与所述三相交流电源的B相连接。

【技术特征摘要】
1.一种应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置，其特征在于，包括：一个IGBT半桥臂模块(1)、第一连接支路(S1)和第二连接支路(S2)；以及在所述第一连接支路(S1)或所述第二连接支路(S2)上设置的熔断器接入端口(2)；所述IGBT半桥臂模块(1)的上、下桥臂连接；所述第一连接支路(S1)一端与所述IGBT半桥臂模块(1)的桥臂中点连接、另一端与三相交流电源的A相连接；所述第二连接支路(S2)一端与所述IGBT半桥臂模块(1)的下桥臂连接、另一端与所述三相交流电源的B相连接。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：第三连接支路(S3)，所述第三连接支路(S3)一端与所述IGBT半桥臂模块(1)的下桥臂连接、另一端与所述三相交流电源的C相连接；当所述第二连接支路(S2)上设置有所述熔断器接入端口(2)时，所述第三连接支路(S3)一端通过所述熔断器接入端口(2)与所述IGBT半桥臂模...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄晓波，张国驹，刘炳，
申请(专利权)人：北京天诚同创电气有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11