显示面板、阵列基板及其制造方法、检测电路技术

本公开提供一种显示面板、阵列基板及阵列基板的制造方法、检测电路。该检测电路包括检测线、第一连接线、绝缘层和第二连接线，检测线沿阵列基板的边缘设置并形成具有一开口的环路，检测线的第一端和第二端位于环路开口的位置；第一连接线第一端与检测线第一端连接且第一连接线第二端向阵列基板的显示区延伸形成第一测试端；绝缘层至少覆盖检测线以及第一连接线；第二连接线设于绝缘层上且具有一弯折部，第二连接线第一端与检测线第二端连接且至弯折部的部分跨过开口，第二连接线第二端向显示区延伸形成第二测试端。

Display panel, array substrate, method for manufacturing the same, and detection circuit

The present invention provides a display panel, an array substrate and an array substrate, a manufacturing method, and a detection circuit. The detection circuit comprises a detection line, a first connecting wire, an insulating layer and a second connecting line, testing line along the array substrate and the formation of a loop is arranged at the edge of the opening line, detecting a first end and a second end loop in the position of the opening of the first connecting wire; the first end and the first end is connected with the first test line connecting line second to the end of the array substrate display area is extended to form a first test end; an insulating layer covering at least the test line and the first connecting wire; second connecting wire is arranged on the insulating layer and is provided with a bending part, a first end and a second connection line line second is connected to the detection and bending part second is connected across the opening, line second to end the display area extends to form second end test.

【技术实现步骤摘要】
显示面板、阵列基板及其制造方法、检测电路
本公开涉及显示
，具体而言，涉及一种显示面板、阵列基板及阵列基板的制造方法、检测电路。
技术介绍
随着液晶显示屏的广泛应用，人们对于其质量的要求也越来越高。然而，在制造或搬运过程中，液晶显示屏难免会出现破角或裂纹等破损，这些破损通常出现液晶显示屏的边缘位置，会导致显示效果变差，甚至造成无法显示。因此，为了防止存在破损的产品流向市场，避免造成损失，需要在液晶显示屏出厂前，对其是否存在破损进行检测，从而提前筛选出破损产品，以便提高出厂产品的质量。现有技术中，检测破损一般是通过人眼观察的方式进行，需要大量的工作人员对产品进行观察，人力成本较高，且工作效率和准确性均较低；特别是对于尺寸较大的产品而言，要想发现细微的破损，难度较大。此外，对于封装后的产品，破损可能被包裹或遮挡，从而更难以通过肉眼发现。需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本公开的目的在于提供一种显示面板、阵列基板及阵列基板的制造方法、检测电路，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的一个或者多个问题。根据本公开的一个方面，提供一种检测电路，包括：检测线，沿阵列基板的边缘设置并形成具有一开口的环路，所述检测线的第一端和第二端位于所述环路开口的位置；第一连接线，所述第一连接线第一端与所述检测线第一端连接且所述第一连接线第二端向所述阵列基板的显示区延伸形成第一测试端；绝缘层，至少覆盖所述检测线以及所述第一连接线；第二连接线，设于所述绝缘层上且具有一弯折部，所述第二连接线第一端与所述检测线第二端连接且至所述弯折部的部分跨过所述开口，所述第二连接线第二端向所述显示区延伸形成第二测试端。在本公开的一种示例性实施例中，所述检测电路还包括：保护层，至少覆盖所述绝缘层和所述第二连接线；接线层，设于所述保护层上与所述第一测试端和第二测试端对应的位置并分别与所述第一测试端和第二测试端连接。在本公开的一种示例性实施例中，所述检测电路还包括：第一过孔，穿过所述绝缘层以连接所述第二连接线第一端与所述检测线第二端；第二过孔，穿过所述保护层以连接所述第一测试端和与所述第一测试端对应的接线层的区域；第三过孔，穿过所述保护层以连接所述第二测试端和与所述第二测试端对应的接线层的区域。在本公开的一种示例性实施例中，所述检测线和所述第一连接线均与所述阵列基板的栅极金属层的材质相同且同层设置。在本公开的一种示例性实施例中，所述第二连接线与所述阵列基板的源漏金属层的材质相同且同层设置。在本公开的一种示例性实施例中，所述接线层与所述阵列基板的透明电极层材质相同且同层设置。根据本公开的一个方面，提供一种阵列基板，包括：衬底基板；上述任意一项所述的检测电路，所述检测电路形成于所述衬底基板上。根据本公开的一个方面，提供一种显示面板，包括：上述任意一项所述的阵列基板；柔性电路板，连接于所述阵列基板周边，且所述柔性电路板上设有第一测试点和第二测试点，所述第一测试点与所述第一测试端连接，与所述第二测试点与所述第二测试端连接。在本公开的一种示例性实施例中，所述柔性电路板上设有接地端，所述第一测试点能与所述接地端连接或断开。根据本公开的一个方面，提供一种阵列基板的制造方法，包括：提供一衬底基板；在所述衬底基板上形成检测线，所述检测线为沿衬底边缘形成并具有一开口的环路，且所述检测线的第一端和第二端位于所述环路开口的位置；在所述衬底基板上形成第一连接线，所述第一连接线第一端与所述检测线第一端连接且所述第一连接线第二端向所述阵列基板的显示区延伸形成第一测试端；至少在所述检测线以及所述第一连接线上形成绝缘层；在所述绝缘层上形成第二连接线，所述第二连接线具有一弯折部，所述第二连接线第一端与所述检测线第二端连接且至所述弯折部的部分跨过所述开口，所述第二连接线第二端向所述显示区延伸形成第二测试端，其一端跨过所述第一测试端向所述显示区延伸以形成第二测试端。本公开的显示面板、阵列基板及阵列基板的制造方法、检测电路，由于检测线沿衬底基板的边缘设置，且第二连接线跨过检测线的开口，从而可形成一完整的环形线路；阵列基板边缘的破损会使检测线或第二连接线断裂；从而可通过检测第一测试端和第二测试端间的电阻值判断检测电路是否被截断或存在缺口，若检测到的电阻值趋于无穷大或大于预设值时，说明检测线或第二连接线至少存在一处断裂的位置，导致电阻值过大，这说明该阵列基板的边缘存在破损。由此，可根据检测到的电阻值判断是否存在破损，免于进行人工检查，从而提高工作效率和准确性，节省人力成本。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。附图说明此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本公开示例实施方式的阵列基板的示意图。图2为图1中的阵列基板发生破损时的示意图。图3为本公开示例实施方式的检测电路的局部剖视图一。图4为图3中的检测电路在设置检测线和第一连接线后的局部剖视图。图5为图3中的检测电路在设置绝缘层和第一过孔后的局部剖视图。图6为图3中的检测电路在设置第二连接线后的局部剖视图。图7为图3中的检测电路在设置保护层、第二过孔和第三过孔后的局部剖视图。图8为本公开示例实施方式的检测电路的局部剖视图二。图9为本公开示例实施方式的显示面板的示意图。具体实施方式现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本专利技术将全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略它们的详细描述。虽然本说明书中使用相对性的用语，例如“上”“下”来描述图标的一个组件对于另一组件的相对关系，但是这些术语用于本说明书中仅出于方便，例如根据附图中所述的示例的方向。能理解的是，如果将图标的装置翻转使其上下颠倒，则所叙述在“上”的组件将会成为在“下”的组件。当某结构在其它结构“上”时，有可能是指某结构一体形成于其它结构上，或指某结构“直接”设置在其它结构上，或指某结构通过另一结构“间接”设置在其它结构上。用语“一个”、“一”、“该”和“所述”用以表示存在一个或多个要素/组成部分/等；用语“包括”和“具有”用以表示开放式的包括在内的意思并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等；用语“第一”、“第二”和“第三”等仅作为标记使用，不是对其对象的数量限制。本示例实施方式提供了一种检测电路，用于阵列基板，该阵列基板具有显示区和非显示区，非显示区位于显示区的周边。如图1～图8，该检测电路可以包括检测线1、第一连接线2、绝缘层3和第二连接线4。在本示例实施方式中，如图4，检测线1可沿阵列基板的边缘设置，并形成具有一环路，该环路具有开口101；其中，该环路设置在该阵列基板的衬底基板1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测电路，其特征在于，包括：检测线，沿阵列基板的边缘设置并形成具有一开口的环路，所述检测线的第一端和第二端位于所述环路开口的位置；第一连接线，所述第一连接线第一端与所述检测线第一端连接且所述第一连接线第二端向所述阵列基板的显示区延伸形成第一测试端；绝缘层，至少覆盖所述检测线以及所述第一连接线；第二连接线，设于所述绝缘层上且具有一弯折部，所述第二连接线第一端与所述检测线第二端连接且至所述弯折部的部分跨过所述开口，所述第二连接线第二端向所述显示区延伸形成第二测试端。

【技术特征摘要】
1.一种检测电路，其特征在于，包括：检测线，沿阵列基板的边缘设置并形成具有一开口的环路，所述检测线的第一端和第二端位于所述环路开口的位置；第一连接线，所述第一连接线第一端与所述检测线第一端连接且所述第一连接线第二端向所述阵列基板的显示区延伸形成第一测试端；绝缘层，至少覆盖所述检测线以及所述第一连接线；第二连接线，设于所述绝缘层上且具有一弯折部，所述第二连接线第一端与所述检测线第二端连接且至所述弯折部的部分跨过所述开口，所述第二连接线第二端向所述显示区延伸形成第二测试端。2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括：保护层，至少覆盖所述绝缘层和所述第二连接线；接线层，设于所述保护层上与所述第一测试端和第二测试端对应的位置并分别与所述第一测试端和第二测试端连接。3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括：第一过孔，穿过所述绝缘层以连接所述第二连接线第一端与所述检测线第二端；第二过孔，穿过所述保护层以连接所述第一测试端和与所述第一测试端对应的接线层的区域；第三过孔，穿过所述保护层以连接所述第二测试端和与所述第二测试端对应的接线层的区域。4.根据权利要求1～3任一项所述的检测电路，其特征在于，所述检测线和所述第一连接线均与所述阵列基板的栅极金属层的材质相同且同层设置。5.根据权利要求1～3任一项所述的检测电路，其特征在于，所述第二连接线与所述阵列基板...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪祥，许伟，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11