一种定子叠片的平整度检测方法技术

本发明专利技术公开了一种定子叠片的平整度检测方法，包括下述步骤：通过包括热处理的制造工序准备出包括多个定子叠片批次；从定子叠片批次中抽出至少一个定子叠片作为检测用叠片；通过分析方法1对定子叠片表面的多个分析部位进行分析来获得分析值，以及将包含在同一批次内作为检测用叠片，由上述检测判断为定子叠片的平整度合格出厂。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种定子叠片的平整度检测方法，可用于检测定子叠片的平整度，确保电机具有较高，属于风力发电机领域。
技术介绍
电机定子通过叠片叠加形成定子铁心，能够极大的降低涡流损耗及其他损耗，避免高速马达转矩降低，大块铁心在磁场中运动或处在变化的磁场中，都要产生感应电动势，形成涡流，引起较大的涡流损耗，定子叠片能够降低该损耗。由于定子叠片在生产过程中表面会产生不平整，而当多片定子叠片叠压成定子时会产生较大的偏差，会引起更大的损耗。为了防止定子叠片的不平整引起叠压后产生较大的涡流损耗，所采用的技术方案为：对生产的定子叠片进行监测，通过分析方法分析叠片是否存在不平整度，如果存在，则重新加工，这样极大的降低了定子的次品率，提高了了电机的性能。
技术实现思路
本专利技术主要是提供一种对定子叠片的平整度检测方法，其特征在于，它包括下述步骤：通过分析方法1对定子叠片表面的多个分析部位进行分析来获得分析值，其中，分析方法1包括因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M，因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V，和在多个分析部位中，估算出定子叠片易出现不平整的分析部位的数量P；其中：当通过因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M时，所有分析部位的分析值按升序排列，从最小值数到第i个部位时的分析值Mi若小于或等于由加权函数规定的正常值的下限值，则判断出检测对象的不平整性存在，若分析值Mi超过由加权函数规定的正常值的下限值，则判断出检测对象不平整性不存在；以及当因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V时，所有分析部位的分析值按升序排列，从最大值数到第n个部位时的分析值Vn若大于或等于由加权函数规定的正常值的上限值，则判断出检测对象不平整性存在，若分析值Vn小于由加权函数规定的正常值的上限值，则判断出检测对象不平整性不存在，其中1≤i≤P，1≤n≤P，i、n为自然数。所述加权分布函数是正态分布，在通过所述M获得分析值的情况下，由所述加权分布函数规定的正常值的下限值是X-Y*σ，其中，X表示所有分析部位的分析值的平均值，σ表示标准偏差，Y为介于5～7范围内的数值，以及在通过所述N获得分析值的情况下，由所述加权分布函数规定的正常值的上限值是X+Y*σ，其中，X表示所有分析部位的分析值的平均值，σ表示标准偏差，Y为介于5～7范围内的数值。还包括光照射部件，光接收部件，偏移模型，所述检测对象偏移基准位置通过光照射部件在分析部位照射，光接收部件接收光时反射角度、反射位置，将所述反射角度、反射位置信息通过偏移模型计算偏移基准位置。通过包括热处理的制造工序准备出包括多个定子叠片批次；从定子叠片批次中抽出至少一个定子叠片作为检测用叠片；利用权利要求1至3中任一项所述的定子叠片的平整度检测方法对抽出的检测用叠片进行检测；以及将包含在同一批次内作为检测用叠片，由上述检测判断为定子叠片的平整度合格出厂。附图说明图1是对定子叠片的平整度检测方法框图。具体实施方式本专利技术所要解决的技术问题为克服现有技术中的不足之处，提供一种定子叠片的平整度检测方法与定子叠片的制造方法。参照附图1，本专利技术主要是提供一种对定子叠片的平整度检测方法，其特征在于，它包括下述步骤：通过分析方法1对定子叠片表面的多个分析部位进行分析来获得分析值，其中，分析方法1包括因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M，因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V，和在多个分析部位中，估算出定子叠片易出现不平整的分析部位的数量P；其中：当通过因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M时，所有分析部位的分析值按升序排列，从最小值数到第i个部位时的分析值Mi若小于或等于由加权函数规定的正常值的下限值，则判断出检测对象的不平整性存在，若分析值Mi超过由加权函数规定的正常值的下限值，则判断出检测对象不平整性不存在；以及当因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V时，所有分析部位的分析值按升序排列，从最大值数到第n个部位时的分析值Vn若大于或等于由加权函数规定的正常值的上限值，则判断出检测对象不平整性存在，若分析值Vn小于由加权函数规定的正常值的上限值，则判断出检测对象不平整性不存在，其中1≤i≤P，1≤n≤P，i、n为自然数。所述加权分布函数是正态分布，在通过所述M获得分析值的情况下，由所述加权分布函数规定的正常值的下限值是X-Y*σ，其中，X表示所有分析部位的分析值的平均值，σ表示标准偏差，Y为介于5～7范围内的数值，以及在通过所述N获得分析值的情况下，由所述加权分布函数规定的正常值的上限值是X+Y*σ，其中，X表示所有分析部位的分析值的平均值，σ表示标准偏差，Y为介于5～7范围内的数值。还包括光照射部件，光接收部件，偏移模型，所述检测对象偏移基准位置通过光照射部件在分析部位照射，光接收部件接收光时反射角度、反射位置，将所述反射角度、反射位置信息通过偏移模型计算偏移基准位置。通过包括热处理的制造工序准备出包括多个定子叠片批次；从定子叠片批次中抽出至少一个定子叠片作为检测用叠片；利用权利要求1至3中任一项所述的定子叠片的平整度检测方法对抽出的检测用叠片进行检测；以及将包含在同一批次内作为检测用叠片，由上述检测判断为定子叠片的平整度合格出厂。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对定子叠片的平整度检测方法，其特征在于， 它包括下述步骤： 通过分析方法1对定子叠片表面的多个分析部位进行分析来获得分析值，其中，分析方法1包括因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M，因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V，和在多个分析部位中，估算出定子叠片易出现不平整的分析部位的数量P；其中：当通过因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M时，所有分析部位的分析值按升序排列，从最小值数到第i个部位时的分析值Mi若小于或等于由加权函数规定的正常值的下限值，则判断出检测对象的不平整性存在，若分析值Mi超过由加权函数规定的正常值的下限值，则判断出检测对象不平整性不存在；以及当因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V时，所有分析部位的分析值按升序排列，从最大值数到第n个部位时的分析值Vn若大于或等于由加权函数规定的正常值的上限值，则判断出检测对象不平整性存在，若分析值Vn小于由加权函数规定的正常值的上限值，则判断出检测对象不平整性不存在，其中1≤i≤P，1≤n≤P，i、n为自然数。

【技术特征摘要】
1.一种对定子叠片的平整度检测方法，其特征在于，它包括下述步骤：通过分析方法1对定子叠片表面的多个分析部位进行分析来获得分析值，其中，分析方法1包括因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M，因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V，和在多个分析部位中，估算出定子叠片易出现不平整的分析部位的数量P；其中：当通过因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越小M时，所有分析部位的分析值按升序排列，从最小值数到第i个部位时的分析值Mi若小于或等于由加权函数规定的正常值的下限值，则判断出检测对象的不平整性存在，若分析值Mi超过由加权函数规定的正常值的下限值，则判断出检测对象不平整性不存在；以及当因检测对象偏移基准位置越多则用于检测的分析值越大V时，所有分析部位的分析值按升序排列，从最大值数到第n个部位时的分析值Vn若大于或等于由加权函数规定的正常值的上限值，则判断出检测对象不平整性存在，若分析值Vn小于由加权函数规定的正常值的上限值，则判断出检测对象不平整性不存在，其中1≤i≤P，1≤n≤P，i、n为自然数。2.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王汉清，
申请(专利权)人：南通沃特光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32