一种平整度检测方法技术
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种平整度检测方法。
技术介绍
随着科技的发展，智能手机得到了长足的发展，人们的生活和工作越来越无法离开智能手机，作为智能手机中最主要的部件之一，智能手机屏幕在生产过程中对于屏幕表面平整度的要求越来越高，手机屏幕的平整度在很大程度上影响手机的性能和质量。现有的平整度检测装置结构复杂，且检测误差大，未能满足实际生产的需要。
技术实现思路
本专利技术提供了一种平整度检测方法，以解决现有技术中存在的检测装置结构复杂，且检测误差大的问题。为了解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是：一种平整度检测方法，包括以下步骤：S1：从待测平面中选取若干测量点，通过探测头探测所选测量点的三维坐标，包括X、Y、Z向，其中Z向代表高度；S2：针对测量点的三维坐标分别拟合出关于测量点高度的平面和曲面；S3：将拟合得到的曲面进行网格化，获得网格的交点及其坐标；S4：计算上述交点与步骤S2中拟合得到的平面之间沿Z向的距离，将其中最大的值作为所述待测平面的平整度值。进一步的，所述步骤S1中，还包括根据待测平面建立三维坐标系，其中X、Y向平行所述待测平面，Z向垂直所述待测平面，且正向朝上。进一步的，所述步骤S1中，所述测量点均匀分布于所述待测平面上。进一步的，所述步骤S1中，所述探测头采用激光测距的方式探测所选测量点的三维坐标。进一步的，所述步骤S1中，所述三维坐标的精度为um。进一步的，所述步骤S2中，采用最小二乘法拟合所述平面。进一步的，所述步骤S2中，采用MATLAB软件拟合所述曲面。进一步的，所述步骤S3中，所述网格中的单格为矩形。本专利技术提供的平整度检测方法，包括以...
【技术保护点】
一种平整度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：从待测平面中选取若干测量点，通过探测头探测所选测量点的三维坐标，包括X、Y、Z向，其中Z向代表高度；S2：针对测量点的三维坐标分别拟合出关于测量点高度的平面和曲面；S3：将拟合得到的曲面进行网格化，获得网格的交点及其坐标；S4：计算上述交点与步骤S2中拟合得到的平面之间沿Z向的距离，将其中最大的值作为所述待测平面的平整度值。
【技术特征摘要】
1.一种平整度检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：从待测平面中选取若干测量点，通过探测头探测所选测量点的三维坐标，包括X、Y、Z向，其中Z向代表高度；S2：针对测量点的三维坐标分别拟合出关于测量点高度的平面和曲面；S3：将拟合得到的曲面进行网格化，获得网格的交点及其坐标；S4：计算上述交点与步骤S2中拟合得到的平面之间沿Z向的距离，将其中最大的值作为所述待测平面的平整度值。2.根据权利要求1所述的平整度检测方法，其特征在于，所述步骤S1中，还包括根据待测平面建立三维坐标系，其中X、Y向平行所述待测平面，Z向垂直所述待测平面，且正向朝上。3.根据权利要求1所述的平整度...
【专利技术属性】
技术研发人员：靳登科，汪建，鹿呈志，
申请(专利权)人：苏州逸美德科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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