检测装置制造方法及图纸

一种检测装置，适用于检测软性电路板或薄型印刷电路板，该检测装置包括有一检测装置主体、一待测物输送单元、一吸气单元、一光学检测单元，其中该待测物输送单元藉由吸气单元透过吸附方式使待测物平稳输送，该光学检测单元并可对待测物的上、下两面进行双面检测。

【技术实现步骤摘要】

本技术系关于一种自动光学检测系统(AutomatedOpticalInspection；AOI)，特别是用于检测软性电路板或薄型印刷电路板的检测装置及方法。
技术介绍
自动光学检测系统(AutomatedOpticalInspection；AOI)泛用于检测电子电路的各领域中，例如集成电路(IntegratedCircuit；IC)制程检测、印刷电路板(PrintedCircuitBoard；PCB)检测、液晶显示面板(LiquidCrystalDisplayPanel)检测等，主要目的在电路板、软板、显示面板等(通称为待测物)的生产过程中，能够适时透过AOI检测系统对其外观、线路、瑕疵等进行预筛检测。由于人工工资高涨，目前业界对于AOI的检测速度有极大的要求，并希望透过AOI检测能同时节省人力成本所需的工时。而随着电子产品往体积小、薄型化的方向发展，其相关零组件亦愈做愈小，在单位面积或体积中放入愈来愈多线路及电子组件，这也使得AOI检测面临极大的挑战。例如在薄型的印刷电路板检测中，待测物板厚约仅为0.1mm～3.5mm甚至更薄，此厚度在输送过程中，容易因翘曲不平整而影响AOI检测装置的光学对焦，导致检测的失准。故如何让AOI检测装置在提高检测速度、节省人力成本的同时，还要能因应薄型印刷电路板或软性电路板的检测需求，此实为业界极待解决的问题。
技术实现思路
本技术之一目的在提出一种可检测薄型印刷电路板或软性电路板的装置及方法。本技术之另一目的在提出一种可检测待测物双面以提高检测速度的装置及方法。本技术之又一目的为透过和待测物生产线脱机式(off-line)或在线式(in-line)的安排设置，以达到节省人力的目的。为达上述目的，本技术提出一种可平稳输送软性电路板或薄型印刷电路板的装置及方法，并可于光学检测单元中对待测物的双面进行检测，故可达到提高检测速度之目的。于本技术的实施例中，待测物传送单元系由环状的输送带所形成，并可在其所环绕的空间内设置有至少一气箱，该输送带上有复数个通孔，气箱可透过该复数个通孔吸附于输送带上的待测物，故可达到平稳传输软性电路板或薄型印刷电路板的目的。于本技术的实施例中，待测物传送单元可进一步设计成包括有左侧环状下输送带、环状上输送带及右侧环状下输送带，该左侧环状下输带及右侧环状下输送带之间形成有一间隙(光学检测口)，以供光学检测单元进行待测物底面的检测。于本技术的实施例中，光学检测单元可进一步设计成上光源检测装置及下光源检测装置，并对待测物进行双面检测。待测物于传送单元输送时，可先进行下光源检测装置的检测，再进行上光源检测装置的检测；其检测顺序也可相反不以此为限。本技术所述的检测装置，包括有一检测装置主体、一待测物输送单元，该待测物输送单元包括具有复数个通孔的环状输送带，分别在检测装置主体的两侧形成待测物入料口及待测物出料口，并于检测装置主体内形成光学检测口；该检测装置还包括有一吸气单元、一光学检测单元，该吸气单元包括至少一气箱，并设置于环状输送带所形成的区域内，该光学检测单元包括一上光源检测装置及一下光源检测装置，其中该下光源检测装置透过该光学检测口对待测物进行检测。所述的检测装置，其中该左侧环状下输送带及右侧环状下输送带分别和环状上输送带于垂直投影面上重迭至少一部分。所述的检测装置，其中该上光源检测装置设置于环状上输送带的左侧或右侧。所述的检测装置，其中该上光源检测装置和具吸附力的左侧环状下输带或右侧环状下输带上下对应设置。所述的检测装置，其中该左侧环状下输送带、右侧环状下输送带及环状上输送带三者系为等速输送待测物。所述的检测装置，其中该复数个通孔之间的间距系小于待测物边缘的不检测区域宽度。所述的检测装置，其中于待测物进入待测物入料口前，先经由整板机将待测物进行整板定位的动作。所述的检测装置，其中该气箱的吸附力大小，可于检测装置出厂前或透过人员操作接口进行设定。所述的检测装置，在该检测装置的前后检测流程上，另设置有整板机或分板机或暂存机或放板机或收板机或打标签机。所述的检测装置，可将其使用于在线式待测物检测流程(in-line)中。所述的检测装置，可将其使用于脱机式待测物检测流程(off-line)中。【附图说明】本文附图仅以举例方式描述本技术的某些实施例，于解释申请专利范围时，不应仅以图示为限。第1图是本技术检测装置的外观示意图。第2图是本技术检测装置的内部示意图。第3A图是本技术检测装置中的待测物输送单元120示意图。第3B图是本技术检测装置中的待测物输送单元120的再一示意图。图3C是本技术检测装置中的吸气单元130之气箱的示意图。第4图是本技术检测装置，待测物A传送至环状上输送带122时的上方俯视图。第5图是本技术检测装置应用于脱机式待测物检测流程(off-line)示意图。第6图是本发检测装置应用于在线式待测物检测流程(in-line)示意图。【具体实施方式】为充分说明本技术之目的、技术特征及功效，藉由下列具体实施例，并配合所附之图示，对本技术做一详细说明如后：首先请一并参阅图1～图3C，图1系本技术一实施例之检测装置10，该检测装置包括有一检测装置主体100、人员操作接口110、待测物输送单元120，该待测物输送单元120在检测装置主体100的两侧，形成有待测物入料口111及待测物出料口112，待测物入料口111系供待测物输送至检测装置主体100，于其进行光学检测后，再由待测物出料口112输送至下一站，下一站例如可为分板机或收板机或暂存机或打标签机(图未示)，此待测物出料口112输出的下一站可为业界实际需求而设置。待测物A于此实施例中可为由左至右，透过输送皮带由待测物入料口111进入检测装置主体100进行检测后，再由待测物出料口112输出。再请参阅图2及图3A，图2系图1检测装置10的进一步内部示意图，该检测装置10包括有一待测物输送单元120，该待测物输送单元120包含一左侧环状下输送带121、一环状上输送带122及一右侧环状下输送带123，于各输送带上并分别具有复数个通孔1201。该待测物输送单元120之环状输送带，于输送带围绕的区域内设置有至少一吸气单元130，该吸气单元包括有至少一气箱(1211或1221或1231)，藉由抽气泵(图未示)的吸气将气箱内的气压降低，并可透过气箱开口1301及环状输送带上复数个通孔1201于传送过程中吸附待测物A。图3A为待测物输送单元120的侧面示意图，在本实施例中待测物传送单元120系由左至右(不以此方向为限)将待测物A进行传送检测，又光学检测单元140包括有下光源检测装置1401及上光源检测装置1402，系分别对待测物A的双面进行检测。其中可注意到，左侧环状下输送带121及右侧环状下输送带123之间存有一间隙D(光学检测口)供下光源检测装置1401进行光源照射及CCD摄像分析，且左侧环状下输送带121及右侧环状下输送带123系分别和环状上输送带122在垂直投影面上重迭d1及d2的距离，该d1和d2的距离可相同或不相同。待测物A于左侧环状下输送带121上传送时，气箱1211透过输送带上复数个通孔1201吸附待测物A，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测装置，其特征在于该检测装置包含：一检测装置主体；一待测物输送单元，包括具有复数个通孔的环状输送带，该待测物输送单元分别在检测装置主体的两侧形成待测物入料口及待测物出料口，并于检测装置主体内形成光学检测口；一吸气单元，包括设置于环状输送带形成区域内的至少一气箱，吸气单元透过气箱上之气箱开口及环状输送带上之复数个通孔于输送过程中吸附待测物；及一光学检测单元，包括一上光源检测装置及一下光源检测装置，其中该下光源检测装置透过该光学检测口对待测物进行检测。

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于该检测装置包含：一检测装置主体；一待测物输送单元，包括具有复数个通孔的环状输送带，该待测物输送单元分别在检测装置主体的两侧形成待测物入料口及待测物出料口，并于检测装置主体内形成光学检测口；一吸气单元，包括设置于环状输送带形成区域内的至少一气箱，吸气单元透过气箱上之气箱开口及环状输送带上之复数个通孔于输送过程中吸附待测物；及一光学检测单元，包括一上光源检测装置及一下光源检测装置，其中该下光源检测装置透过该光学检测口对待测物进行检测。2.如权利要求1所述的检测装置，其特征在于该待测物输送单元包括一左侧环状下输送带、一环状上输送带及一右侧环状下输送带。3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于该左侧环状下输送带及右侧环状下输送带分别和环状上输送带于垂直投影面上部分重迭。4.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于设置于左侧环状下输送带和/或右侧环状下输送带内之气箱和设置于环状上输送带内之气箱于垂直投影面上部分重迭。5.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪光夏，王元男，何羽立，邱证家，陈辉毓，
申请(专利权)人：牧德科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾;71