检测装置制造方法及图纸

在具备下方照明装置(88)、侧方照明装置(90)及相机(96)的拍摄装置(80)中，通过下方照明装置从下方向吸嘴(60)照射光，通过侧方照明装置从吸嘴的侧方照射光。并且，从下方照明装置照射的光经由第一光路(两条虚线(106、108、110)之间的路线)到达相机，从侧方照明装置照射的光经由第二光路(两条虚线(124、126、128)之间的路线)到达相机。而且，通过遮光块(92、94)进行遮挡，以使从下方照明装置照射的光不会沿第二光路到达相机。由此，能够防止重影图像显现在吸嘴的下表面侧的拍摄时的图像上。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种检测照射于被检测物的光的检测装置。
技术介绍
在检测照射于被检测物的光的检测装置中，例如，基于检测出的光拍摄被检测物，利用通过拍摄而形成的图像数据进行被检测物的检查。在下述专利文献1中记载有如下技术：用于通过两台拍摄装置从两个方向拍摄被检测物，并基于通过来自这两个方向的拍摄而形成的图像数据进行被检测物的检查。另外，由于通过两台拍摄装置从两个方向拍摄被检测物的效率较差，因此在下述专利文献2中记载有如下技术：用于通过一台拍摄装置从两个方向拍摄被检测物。专利文献1：日本特开2006-41158号公报专利文献2：日本特开2012-4306号公报
技术实现思路
如上述专利文献2所记载的那样，通过一台拍摄装置从两个方向拍摄被检测物，从而能够实现低成本化。但是，在通过一台拍摄装置从两个方向拍摄被检测物时，通常从第一方向拍摄被检测物的情况下的光的路线(以下，有时记载为“第一光路”)与从第二方向拍摄被检测物的情况下的光的路线(以下，有时记载为“第二光路”)不同，通过沿各个路线的光而形成有从第一方向拍摄到的被检测物的图像数据和从第二方向拍摄到的被检测物的图像数据。然而，存在有如下情况：从第一方向拍摄被检测物的情况下照射的光不仅进入到第一光路，还进入到第二光路。在这样的情况下，有可能因进入到第二光路的光而在被检测物的来自第一方向的拍摄时的图像上显现重影图像，从而无法适当地进行被检测物的检查。本专利技术就是鉴于这样的实际情况而作出的，本专利技术的课题是防止重影图像显现在被检测物的来自第一方向的拍摄时的图像上。为了解决上述课题，本申请所记载的检测装置为一种检测装置，用于检测照射于被检测物的光，上述检测装置的特征在于，具备：第一光源，从第一方向向上述被检测物照射光；第二光源，从第二方向向上述被检测物照射光；检测部，用于检测从上述第一光源照射的光和从上述第二光源照射的光；第一导光部件，将从上述第一光源照射的光经由第一光路引导至上述检测部；第二导光部件，将从上述第二光源照射的光经由第二光路引导至上述检测部；及遮光部件，遮挡从上述第一光源照射的光，以使从上述第一光源照射的光不会沿上述第二光路到达上述检测部。专利技术效果在本申请所记载的检测装置中，通过第一光源从第一方向向被检测物照射光，通过第二光源从第二方向向被检测物照射光。并且，从第一光源照射的光经由第一光路到达检测部，从第二光源照射的光经由第二光路到达检测部。而且，通过遮光部件进行遮挡，以使从第一光源照射的光不会沿第二光路到达检测部。由此，能够防止重影图像显现在被检测物的来自第一方向的拍摄时的图像上。附图说明图1是表示电子元件装配装置的立体图。图2是表示吸嘴的立体图。图3是表示吸嘴管理装置的立体图。图4是表示本专利技术的拍摄装置的概略图。图5是表示由本专利技术的拍摄装置所拍摄到的吸嘴的下表面的图像的图。图6是表示由本专利技术的拍摄装置所拍摄到的吸嘴的侧方的图像的图。图7是表示比较例的拍摄装置的概略图。图8是表示本专利技术的拍摄装置的概略图。图9是表示比较例的拍摄装置的概略图。图10是表示由比较例的拍摄装置所拍摄到的吸嘴的下表面的图像的图。图11是表示本专利技术的拍摄装置的概略图。具体实施方式以下，作为用于实施本专利技术的方式，参照附图详细地说明本专利技术的实施例。＜电子元件装配装置的结构＞在图1中示出电子元件装配装置(以下，有时省略为“装配装置”)10。装配装置10具有一个系统底座12和在该系统底座12之上相邻的两台电子元件装配机(以下，有时省略为“装配机”)14。此外，将装配机14的排列方向称为X轴方向，将与该方向呈直角的水平的方向称为Y轴方向。各装配机14主要具备装配机主体20、搬运装置22、装配头移动装置(以下，有时省略为“移动装置”)24、装配头26、供给装置28及吸嘴站30。装配机主体20由框架部32和架设在该框架部32上的横梁部34构成。搬运装置22具备两个输送装置40、42。这两个输送装置40、42以相互平行且沿X轴方向延伸的方式配设于框架部32。两个输送装置40、42分别通过电磁马达(省略图示)沿X轴方向搬运支撑于各输送装置40、42的电路基板。另外，电路基板由基板保持装置(省略图示)固定地保持在预定的位置。移动装置24是XY机器人型的移动装置。移动装置24具备使滑动件50沿X轴方向滑动的电磁马达(省略图示)和沿Y轴方向滑动的电磁马达(省略图示)。在滑动件50上安装有装配头26，该装配头26通过两个电磁马达的工作而向框架部32上的任意的位置移动。装配头26是对电路基板装配电子元件的装置。在装配头26的下端面设有吸嘴60。如图2所示，吸嘴60由躯干筒64、凸缘部66、吸附管68及卡挂销70构成。躯干筒64形成为圆筒状，凸缘部66以突出的方式固定于躯干筒64的外周面。吸附管68形成为细的管状，以从躯干筒64的下端部向下方延伸出的状态被躯干筒64保持为能够沿轴线方向移动。卡挂销70以沿躯干筒64的径向延伸的方式设于躯干筒64的上端部。吸嘴60利用卡挂销70以单触式能够装卸地安装于装配头26。另外，在装配头26内置有弹簧(省略图示)，该弹簧对安装于装配头26的吸嘴60的吸附管68赋予弹力。由此，通过内置于装配头26的弹簧的弹力对该吸附管68向从躯干筒64的下端部向下方延伸出的方向推压。另外，吸嘴60经由负压空气、正压空气通路而与正负压供给装置(省略图示)连通。各吸嘴60通过负压吸附保持电子元件，通过正压使保持的电子元件脱离。另外，装配头26具有使吸嘴60升降的吸嘴升降装置(省略图示)。装配头26通过该吸嘴升降装置来变更所保持的电子元件的上下方向上的位置。供给装置28是供料器型的供给装置，如图1所示，配设于框架部32的前方侧的端部。供给装置28具有带式供料器72。带式供料器72以卷绕的状态收容有带化元件。带化元件是对电子元件进行编带而得到的元件。并且，带式供料器72通过送出装置(省略图示)送出带化元件。由此，供料器型的供给装置28通过带化元件的送出，在供给位置供给电子元件。吸嘴站30具有收容多个吸嘴60的吸嘴托盘77。在该吸嘴站30，根据需要进行安装于装配头26的吸嘴60与收纳于吸嘴托盘77的吸嘴60的互换等。另外，吸嘴托盘77能够相对于吸嘴站30进行装卸，能够在装配机14的外部进行收容于吸嘴托盘77的吸嘴60的回收、吸嘴60向吸嘴托盘77的补给等。＜装配机的装配作业＞在装配机14中，根据上述结构，能够通过装配头26对保持于搬运装置22的电路基板进行装配作业。具体地说，根据装配机14的控制装置(省略图示)的指令，电路基板被搬运至作业位置并由基板保持装置固定地保持在该位置。另外，带式供料器72根据控制装置的指令送出带化元件，并在供给位置供给电子元件。并且，装配头26向电子元件的供给位置的上方移动，并通过吸嘴60吸附保持电子元件。接着，装配头26向电路基板的上方移动，并将所保持的电子元件向电路基板上装配。＜吸嘴的检查＞在装配机14中，如上所述，通过吸嘴60吸附保持由带式供料器72供给的电子元件，并将该电子元件向电路基板上装配。因此，当在吸嘴60产生有缺陷时，无法执行适当的装配作业。考虑到这样的问题，将吸嘴托盘77从装配机14的吸嘴站30取下，在吸嘴管理装置中进行收容于吸嘴托盘77的吸嘴60的检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测装置，用于检测照射于被检测物的光，所述检测装置的特征在于，具备：第一光源，从第一方向向所述被检测物照射光；第二光源，从第二方向向所述被检测物照射光；检测部，用于检测从所述第一光源照射的光和从所述第二光源照射的光；第一导光部件，将从所述第一光源照射的光经由第一光路引导至所述检测部；第二导光部件，将从所述第二光源照射的光经由第二光路引导至所述检测部；及遮光部件，遮挡从所述第一光源照射的光，以使从所述第一光源照射的光不会沿所述第二光路到达所述检测部。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种检测装置，用于检测照射于被检测物的光，所述检测装置的特征在于，具备：第一光源，从第一方向向所述被检测物照射光；第二光源，从第二方向向所述被检测物照射光；检测部，用于检测从所述第一光源照射的光和从所述第二光源照射的光；第一导光部件，将从所述第一光源照射的光经由第一光路引导至所述检测部；第二导光部件，将从所述第二光源照射的光经由第二光路引导至所述检测部；及遮光部件，遮挡从所述第一光源照射的光，以使从所述第一光源照射的光不会沿所述第二光路到达所述检测部。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，当由所述检测部检测从所述第一光...

【专利技术属性】
技术研发人员：星川和美，下坂贤司，
申请(专利权)人：富士机械制造株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP