一种基于荧光检测FDM系统技术方案

技术编号:14721337 阅读:143 留言:0更新日期:2017-02-27 18:48
本实用新型专利技术公开了一种基于荧光检测FDM系统,该FDM系统包括滤波片组(8)、荧光光路(9)和光功率探测器APD(10),所述滤波片组(8)平行设置有多片,激光光源(1)发射光束经过玻璃窗(2)作用在样本上产生荧光(4),通过透镜(5)将荧光(4)聚焦至滤波片组(8),通过滤波片组(8)的过滤作用,将不同通道的荧光(4)照射至光功率探测器APD(10),所述光功率探测器APD(10)连接于计算机(7)上。本实用新型专利技术能够实现实时、清晰地获取更多的荧光信号的功能。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及荧光检测
,具体为一种基于荧光检测的FDM系统。
技术介绍
目前,市场上用于荧光检测的是CCD。CCD器件及其应用技术主要应用在是在图像传感和非接触测量领域,可对被测物体进行准确的测量、分析。CCD的作用就像胶片一样,但它是把光信号转换成电荷信号。CCD上有许多排列整齐的光电二极管,能感应光线,并将光信号转变成电信号,经外部采样放大及模数转换电路转换成数字图像信号。所以在荧光检测方面,CCD做光谱分析和荧光信号的区分方面还是发挥着比较大的作用。尽管CCD有性能稳定、图像畸变小,无残像等优点,但用于基因分析的荧光检测上存在着两种不足:首先是CCD的光谱分析是通过光栅的色散性能把各种荧光检测出来,在技术上比较复杂;其次,受限于光栅的色散性能检测出来的信号荧光交叉严重,导致信息丢失,同时造成漏检和误报。
技术实现思路
针对以上问题,本技术提供了一种基于荧光检测FDM系统,可以有效解决
技术介绍
中的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种基于荧光检测的FDM系统,该FDM系统包括滤波片组、荧光光路和光功率探测器APD,所述滤波片组平行设置有多片,且滤波片组正上方设有透镜,所本文档来自技高网...
一种基于荧光检测FDM系统

【技术保护点】
一种基于荧光检测FDM系统,其特征在于,该FDM系统包括滤波片组(8)、荧光光路(9)和光功率探测器APD(10),所述滤波片组(8)平行设置有多片,激光光源(1)发射光束经过玻璃窗(2)作用在样本上产生荧光(4),通过透镜(5)将荧光(4)聚焦至滤波片组(8),通过滤波片组(8)的过滤作用,将不同通道的荧光(4)照射至光功率探测器APD(10),所述光功率探测器APD(10)连接于计算机(7)上。

【技术特征摘要】
1.一种基于荧光检测FDM系统,其特征在于,该FDM系统包括滤波片组(8)、荧光光路(9)和光功率探测器APD(10),所述滤波片组(8)平行设置有多片,激光光源(1)发射光束经过玻璃窗(2)作用在样本...

【专利技术属性】
技术研发人员:李劲东陈小颖王贵源万戈江杨旭
申请(专利权)人:贵州申科生物科技有限公司
类型:新型
国别省市:贵州;52

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1