【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及X射线分析技术，特别涉及一种X射线荧光分析系统。
技术介绍
X射线荧光分析是现代分析技术的一种重要手段，它主要由X射线枪、探测系统以 及数据处理模块构成，X射线枪发出原级高能量X射线对被测样品辐射，样品中每一种元素 的原子均处于激发态，根据玻尔理论，电子发生能级跃迁，最终释放出X射线荧光，不同的 元素所放射出的X荧光具有特定的能量特性或波长特性，探测器接收X荧光，定量的分析出 样品中每种元素的种类及含量。利用X射线荧光系统，可分析固态、液态和气态等各种形态得物质，理论上可以测 量元素周期表中的每一种元素，并且具有无损、快速、环保、无污染、低成本、操作简单的优 点，因此广泛应用于金属冶炼、五金加工、采矿、考古、造纸、稀土、电子电器、商检、石化、建 材、钢铁、水泥、化工、环保、医药、实验室和科研院校等领域。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种稳定性好、测量精度高的X射线荧光分析系统。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是一种X射线荧光分析系统，包括承 载待测样品的基台、发出原级X射线轰击待测样品的X射线枪以及接收X荧光的探测器，探 测器上依次连...
【技术保护点】
一种Ｘ射线荧光分析系统，包括承载待测样品的基台（２）、发出原级Ｘ射线轰击待测样品的Ｘ射线枪（１）以及接收Ｘ荧光的探测器（３），探测器（３）上依次连接有前置放大器（４）、对被放大的模拟信号进行降噪、整形和数字转换的ＤＰＵ处理器（５）、对转换的数字信号进行二次处理的计算机（６），所述计算机（６）通过分析系统模块（１１）完成数据计算处理并通过显示器（１２）显示结果，其特征在于：所述的ＤＰＵ处理器（５）包括顺序连接的放大整形模块（５１）、ＡＤＣ转换模块（５２）、数字脉冲整形模块（５３）、谱线图形成逻辑模块（５５）、存储器（５６）和ｕＰＣ单片机接口逻辑电路（５７），所述的ＡＤＣ转换模...
【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光分析系统，包括承载待测样品的基台(2)、发出原级X射线轰击待测 样品的X射线枪⑴以及接收X荧光的探测器(3)，探测器(3)上依次连接有前置放大器(4)、对被放大的模拟信号进行降噪、整形和数字转换的DPU处理器(5)、对转换的数字信号 进行二次处理的计算机(6)，所述计算机(6)通过分析系统模块(11)完成数据计算处理并 通过显示器(12)显示结果，其特征在于所述的DPU处理器(5)包括顺序连接的放大整形 模块(51)、ADC转换模块(52)、数字脉冲整形模块(53)、谱线图形成逻辑模块(55)、存储器 (56)和uPC单片机接口逻辑电路(57)，所述的ADC转换模块(52)和谱线图形成逻辑模块 (55)之间还连接有脉冲选择逻辑处理模块(54)，谱线图形成逻辑模块(55)还连接有DAC 转换硬件调试电路(58)。2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光分析系统，其特征在于，计算机(6)及分析 系统模块(11)依次通过元素识别标定、光谱平滑处理、逃逸峰处理、堆积处理、背景移除处 理、康普顿波峰处理...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩晓朋，
申请(专利权)人：韩晓朋，梁志宏，杨培全，
类型：发明
国别省市：44[中国|广东]
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