用于线状样品测试的放射型样品托制造技术

本实用新型专利技术提供一种用于线状样品测试的放射型样品托，其特征在于，所述样品托呈空心圆柱状，其纵剖面为“工”字形，圆柱中心内孔的外端面处沿其圆周设有齿状凸台（１），所述齿状凸台（１）上平均布设若干凹槽（２）。本实用新型专利技术的积极效果是：①被测线状样品处于定形、定量状态，提高了测量结果的重现性和准确性。②保持被测线状样品处于一定张力状态，利于二次Ｘ荧光信号的收集与测量，为测量样品中微量有害元素提供了基础。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种承载测试用样品的装置，具体而言是一种用于线状样品测试 的放射型样品托。
技术介绍
X射线荧光光谱分析法具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析 F (9) U (92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末(需压制成块状)、液体、糊状物、油脂、 薄膜等。利用X射线荧光光谱技术分析样品具有很多优势，例如只需少量或无需样品制 备，快速无损分析，操作简单，可由生产人员操作，不会产生有害的化学物质。但是，到目前为止，由于线状样品不易固定和成形，尚无针对线状样品(例如纺织 物，医用缝合线等等)的应用。通常我们只能将线状样品团成一团放入X射线荧光光谱分析 仪中进行测量，这就使得待测样品的状态处于一种不受控制的随机状态，从而导致测量重 现性差，严重影响了测量的准确性。因此，我们急需一种可以适合承载线状样品的样品托，来控制线性样品的状态，保 证测量的重现性，使得X射线荧光光谱分析法能应用到线状样品的测量中。
技术实现思路
本技术的目的在于解决现有技术的不足，提供一种用于线状样品测试的放射 型样品托。为了解决实现上述目的，本技术的技术方案是这样的—种用于线状样品测试的放射型样品托，所述样品托呈空心圆柱状，其纵剖面为 “工”字形，圆柱中心内孔的外端面处沿其圆周设有齿状凸台，所述齿状凸台上平均布设若 干凹槽，所述凹槽以圆柱的圆心为中心呈放射状。所述样品托外圆周上设有U型凹槽。本技术的积极效果是1、被测线状样品处于定形、定量状态，提高了测量结果的重现性和准确性。2、保持被测线状样品处于一定张力状态，利于二次X荧光信号的收集与测量，为 测量样品中微量有害元素提供了基础。以下结合附图和具体实施方式来详细说明本技术。附图说明图1为纵剖视图。图2为立体结构示意图。图3为凹槽结构放大图。具体实施方式为了使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下 面结合具体图示，进一步阐述本技术。如图1、3所示，本技术的用于线状样品测试的放射型样品托呈空心圆柱状， 其纵剖面为“工”字形。中间部分可以用于线状样品的起始定位。圆柱中心内孔的外端面 处沿其圆周设有齿状凸台1，所述齿状凸台1上平均布设若干凹槽2，所述凹槽2以圆柱的 圆心为中心呈放射状。所述凹槽2用于放置线状样品，齿状凸台1的设计是为了便于绕线 以及在绕完线之后能保持整个装置的平稳性。如图2所示，所述样品托外圆周上设有U型凹槽3，其纵长方向指向内孔圆心，可以 用于线状样品的初始定位。使用时，可以先将线状样品在圆柱体的中间部分绕一圈并打结，然后将线状样品 嵌入任一 U型凹槽3中，完成线状样品的初始定位。定位之后，就可以开始绕线，绕线步骤 为将线状样品嵌入任一凹槽2中，然后将线状样品依次嵌入与此凹槽在直径方向上对应 的凹槽以及另一端面上相对应的凹槽，完成一组绕线。以此类推，将线状样品按上述方法依 次嵌入剩下的凹槽中，完成线状样品的绕线工作。在进行X射线荧光光谱分析时，只需将绕 线完成的样品托放入仪器的样品盘中即可。本技术的积极效果是1、被测线状样品处于定形、定量状态，提高了测量结果的重现性和准确性。2、保持被测线状样品处于一定张力状态，利于二次X荧光信号的收集与测量，为 测量样品中微量有害元素提供了基础。以上显示和描述了本技术的基本原理、主要特征和本技术的优点。本行 业的技术人员应该了解，本技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述 的只是说明本技术的原理，在不脱离本技术精神和范围的前提下本技术还会 有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本技术范围内。本技术要 求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。权利要求1.一种用于线状样品测试的放射型样品托，其特征在于，所述样品托呈空心圆柱状，其 纵剖面为“工”字形，圆柱中心内孔的外端面处沿其圆周设有齿状凸台(1)，所述齿状凸台 (1)上平均布设若干凹槽(2)，所述凹槽(2)以圆柱的圆心为中心呈放射状。2.根据权利要求1所述的用于线状样品测试的放射型样品托，其特征在于，所述样品 托外圆周上设有U型凹槽(3)。专利摘要本技术提供一种用于线状样品测试的放射型样品托，其特征在于，所述样品托呈空心圆柱状，其纵剖面为“工”字形，圆柱中心内孔的外端面处沿其圆周设有齿状凸台(1)，所述齿状凸台(1)上平均布设若干凹槽(2)。本技术的积极效果是①被测线状样品处于定形、定量状态，提高了测量结果的重现性和准确性。②保持被测线状样品处于一定张力状态，利于二次X荧光信号的收集与测量，为测量样品中微量有害元素提供了基础。文档编号G01N23/223GK201892667SQ20102065023公开日2011年7月6日 申请日期2010年12月9日 优先权日2010年12月9日专利技术者刁杰, 吕洋, 欧宏炜 申请人:牛津仪器(上海)有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种用于线状样品测试的放射型样品托，其特征在于，所述样品托呈空心圆柱状，其纵剖面为“工”字形，圆柱中心内孔的外端面处沿其圆周设有齿状凸台（１），所述齿状凸台（１）上平均布设若干凹槽（２），所述凹槽（２）以圆柱的圆心为中心呈放射状。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：欧宏炜，吕洋，刁杰，
申请(专利权)人：牛津仪器上海有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]