【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种承载测试用样品的装置,具体而言是一种放射型线状样品托 的定位机构。
技术介绍
X射线荧光光谱分析法具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析 F (9) U (92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末(需压制成块状)、液体、糊状物、油脂、 薄膜等。利用X射线荧光光谱技术分析样品具有很多优势,例如只需少量或无需样品制 备,快速无损分析,操作简单,可由生产人员操作,不会产生有害的化学物质。但是,到目前为止,由于线状样品不易固定和成形,尚无针对线状样品(例如纺织 物,医用缝合线等等)的应用。通常我们只能将线状样品团成一团放入X射线荧光光谱分析 仪中进行测量,这就使得待测样品的状态处于一种不受控制的随机状态,从而导致测量重 现性差,严重影响了测量的准确性。因此,我们急需一种适合承载线状样品,且能够快速将线状样品在样品托上定位 的样品托,来控制线性样品的状态,保证测量的重现性,使得X射线荧光光谱分析法能应用 到线状样品的测量中。
技术实现思路
本技术的目的在于解决现有技术的不足,提供一种放射型线状样品托的定位 机构。为了解决实现上述目的,本技术的技术方案是这样的。—种放射型线状样品托的定位机构,所述定位机构由4个U形槽构成,设于圆形样 品托的外圆周上,所述第一 U形槽与第二 U形槽位于样品托上外圆周边缘,并处于同一直径 方向上,所述第三U形槽与第四U形槽位于样品托下外圆周边缘,并处于同一直径方向上, 且所述第一 U形槽与第四U形槽、第二 U形槽与第三U形槽分别位于上、下外圆周相同的位 置;U形槽自圆周边缘凹向圆心。本技术的积极效果是能够将线状样品快速定 ...
【技术保护点】
1.一种放射型线状样品托的定位机构,其特征在于,所述定位机构由4个U形槽构成,设于圆形样品托的外圆周上,所述第一U形槽(1)与第二U形槽(2)位于样品托上外圆周(5)边缘,并处于同一直径方向上,所述第三U形槽(3)与第四U形槽(4)位于样品托下外圆周(6)边缘,并处于同一直径方向上,且所述第一U形槽(1)与第四U形槽(4)、第二U形槽(2)与第三U形槽(3)分别位于上、下外圆周相同的位置;所述U形槽自圆周边缘凹向圆心。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:欧宏炜,吕洋,刁杰,
申请(专利权)人:牛津仪器上海有限公司,
类型:实用新型
国别省市:31[中国|上海]
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