【技术实现步骤摘要】
ー种保持光学测试样品处于低温状态的装置
本专利涉及ー种光学元件安装装置,具体涉及ー种保持光学测试样品处于低温状态的装置。
技术介绍
目前,中红外HgCdTe探测器组件一般在低温下工作。低温光谱特性是中红外HgCdTe探测器组件ー个很重要的性能指标,而中红外HgCdTe探测器组件的低温响应光谱是由低温HgCdTe探測器的响应光谱和低温滤光片的透射光谱共同決定。因此,滤光片的低温透射光谱测试需要进行。低温滤光片透射光谱的测试需要ー个低温测试装置配合光谱仪来实现。低温测试装置一般具有真空腔体,滤光片放置在真空腔体内,通过对真空腔体内的冷头进行降温以达到低温测试的要求,并把装置放置在光谱测试的光路中进行测试。但是真空腔体对装置的气密性要求很高,一旦腔体中气体的压カ低于KT2Pa量级,在低温下,腔体内部和窗ロ表面就会凝结水气,水气的生成会影响光学元件的低温透射光谱测试的准确度。另外真空腔体更换光学元件也比较麻烦,需要放气抽气。所以真空方式的装置会给低温透射光谱测试带来ー些问题。国外已经成功研发低温测试平台用来测试光学元件的光谱,但是由于低温平台价格昂贵和市场普及率低,国内尚无低温状态下光学元件透射光谱测试平台的相关产品。本专利提出了ー种保持光学测试样品处于低温状态的装置。专利内容本专利的目的是:提供ー种保持光学测试样品处于低温状态的装置,解决低温状态下腔体内部和窗ロ表面凝结水气的问题。本专利所述的装置包括箱体1、上盖板2、金属环3、冷头4、加热片7和测温元件8,箱体I的上部通过螺纹与上盖板2连接;箱体ZnSe窗ロ 6用低温胶胶接在箱体I底部的通光孔上,上盖板 ...
【技术保护点】
一种保持光学测试样品处于低温状态的装置,它包括箱体(1)、上盖板(2)、金属环(3)、冷头(4)、加热片(7)和测温元件(8),其特征在于:箱体(1)的上部通过螺纹与上盖板(2)连接;箱体ZnSe窗口(6)用低温胶胶接在箱体(1)底部的通光孔上,上盖板ZnSe窗口(5)用低温胶胶接在上盖板(2)的通光孔上;冷头(4)通过锡焊固定在箱体(1)圆柱形空腔底部的中央处;金属环(3)嵌在冷头(4)上部的凹槽中;加热片(7)和测温元件(8)用低温胶胶接在冷头(4)的侧面,加热片(7)和测温元件(8)的导线通过安装在箱体(1)正面的加热片接线端(9)和测温元件接线端(10)引出;液氮导进管(11)和液氮导出管(12)安装在冷头(4)的侧面,并从测试箱的正面引出,液氮导进管(11)与液氮输入装置连接在一起;气体输入管接头(13)和气体输出管接头(14)安装在箱体(1)的左侧。
【技术特征摘要】
1.ー种保持光学测试样品处于低温状态的装置,它包括箱体(I)、上盖板(2)、金属环(3)、冷头(4)、加热片(7)和测温元件(8),其特征在于:箱体(I)的上部通过螺纹与上盖板(2)连接;箱体ZnSe窗ロ(6)用低温胶胶接在箱体(I)底部的通光孔上,上盖板ZnSe窗ロ(5)用低温胶胶接在上盖板(2)的通光孔上;冷头(4)通过锡焊固定在箱体(I)圆柱形空腔底部的中央处;金属环(3)嵌在冷头(4)上部的凹槽中;加热片(7)和测温元件(8)用低温胶胶接在冷头(4)的侧面,加热片(7)和测温元件(8)的导线通过安装在箱体(I)正面的加热片接线端(9)和测温元件接线端(10)引出;液氮导进管(11)和液氮导出管(12)安装在冷头(4)的侧面,并从测试箱的正面引出,液氮导进管(11)与液氮输入装置连接在一起;气体输入管接头(13)和气体输出管接头(14)安装在箱体(I)的左侧。2.根据权利要求1所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:贺香荣,汪洋,张亚妮,陈安森,庄馥隆,
申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所,
类型:实用新型
国别省市:
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