【技术实现步骤摘要】
用于检测综合验光仪的光学系统和光学检测装置
本技术涉及验光仪检测
,更具体地,涉及一种用于检测综合验光仪的光学系统和光学检测装置。
技术介绍
综合验光仪是一种可实现机械化的更换镜片从而实现屈光检查的功能的综合性屈光检查的仪器。综合验光仪的主要计量性能指标有:球镜顶焦度,柱镜顶焦度,棱镜度,柱镜轴位等。综合验光仪在生产、组装、使用的过程中,其性能指标有可能发生变化,这样就会导致验光不准,从而影响验光师的判断。现有技术中还没有用于检测综合验光仪的性能指标的光学检测装置,因而无法对综合验光仪的性能指标、验光准确性进行量化判断。相关术语解释:后顶焦度:以米为单位测得的镜片近轴后顶焦距的倒数。单位是米的倒数。镜片后顶点到近轴后焦点的距离称为近轴后顶焦距,如图1所示。一个镜片含有前、后两个顶焦度。根据眼科约定,镜片的顶焦度均指后顶焦度。球镜度:具有两个球面的镜片的后顶焦度;或者是散光度镜片的两个主子午面中,选择作为参考主子午面的顶焦度。一般用符号“S”表示。
技术实现思路
本技术旨在提供一种用于检测综合验光仪的光学系统和光学检测装置,以解决现有技术中无法对待检测设备 ...
【技术保护点】
一种用于检测综合验光仪的光学系统,其特征在于,包括:分光元件(10);第一物镜(20);第一反光元件(30),所述第一反光元件(30)设置在所述分光元件(10)和所述第一物镜(20)之间,且所述分光元件(10)和所述第一物镜(20)均位于所述第一反光元件(30)的反射光路中;分划板(40),所述分划板(40)上具有基准图案,所述分划板(40)位于所述分光元件(10)的反射光路中,且所述分划板(40)设置于所述第一物镜(20)的物方焦点上;调焦元件(50),所述第一物镜(20)设置在所述调焦元件(50)和所述第一反光元件(30)之间;第二物镜(60),所述第二物镜(60)设置 ...
【技术特征摘要】
1.一种用于检测综合验光仪的光学系统,其特征在于,包括: 分光元件(10); 第一物镜(20); 第一反光兀件(30),所述第一反光兀件(30)设置在所述分光兀件(10)和所述第一物镜(20)之间,且所述分光元件(10)和所述第一物镜(20)均位于所述第一反光元件(30)的反射光路中; 分划板(40),所述分划板(40)上具有基准图案,所述分划板(40)位于所述分光元件(10)的反射光路中,且所述分划板(40)设置于所述第一物镜(20)的物方焦点上; 调焦元件(50),所述第一物镜(20)设置在所述调焦元件(50)和所述第一反光元件(30)之间; 第二物镜(60 ),所述第二物镜(60 )设置在所述调焦元件(50 )和所述第一物镜(20 )之间,所述调焦元件(50)与所述第二物镜(60)之间的距离可调节; 成像元件(70),所述成像元件(70)位于所述分光元件(10)的出射光路中。2.根据权利要求1所述的光学系统,其特征在于,所述光学系统还包括第二反光元件(80),所述第二反光元件(80)设置在所述调焦元件(50)与所述第二物镜(60)之间,且所述调焦元件(50)与所述第二物镜(60)位于所述第二反光元件(80)的反射光路中。3.根据权利要求2所述的光学系统,其特征在于,所述第二物镜(60)是聚焦物镜。4.根据权利要求1所述的光学系统,其特征在于,所述成像元件(70)是电荷耦合元件。5.根据权利要求1所述的光学系统,其特征在于,所述光学系统还包括光阑(90),所述光阑(90)设置在所述第一物镜(20)和所述第二物镜(60)之间。6...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘文丽,李飞,洪宝玉,张吉焱,马振亚,孙劼,
申请(专利权)人:中国计量科学研究院,
类型:实用新型
国别省市:
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