用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置制造方法及图纸

技术编号:9708607 阅读:126 留言:0更新日期:2014-02-22 11:12
本实用新型专利技术提供了一种用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置。发光装置包括:光源;分划板;发光筒,光源和分划板分别设置在发光筒的两端;安装座,发光筒绕发光筒的轴线可枢转地设置在安装座上。由于本实用新型专利技术中的光源和分划板集成在发光装置的发光筒中,因而发光装置既能在光学系统中起到照亮光路的作用,还是光学系统中的目标参考物,从而简化了光学系统的结构,提高了光学系统的工作可靠性。由于设置有分划板的发光筒可枢转地设置在安装座上,因而提高了发光装置的运动自由度,使发光装置可以满足不同光学系统的使用要求,从而扩大了发光装置的使用范围、提高了发光装置的使用可靠性。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置
本技术涉及验光仪检测
,更具体地,涉及一种用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置。
技术介绍
综合验光仪是一种可实现机械化的更换镜片从而实现屈光检查的功能的综合性屈光检查的仪器。综合验光仪的主要计量性能指标有:球镜顶焦度,柱镜顶焦度,棱镜度,柱镜轴位等。综合验光仪在生产、组装、使用的过程中,其性能指标有可能发生变化,这样就会导致验光不准,从而影响验光师的判断。现有技术中还没有用于检测综合验光仪的性能指标的光学检测装置,因而无法对综合验光仪的性能指标、验光准确性进行量化判断。在测量镜片的基底取向时,需要使发光装置(带有分划板)在光学检测装置内转动一定角度,而现有技术中还没有可用于上述光学检测装置中的发光装置。
技术实现思路
本技术旨在提供一种用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置,以解决现有技术中带有分划板的发光装置无法转动的问题。为解决上述技术问题,根据本技术的一个方面,提供了一种发光装置,包括:光源;分划板;发光筒,光源和分划板分别设置在发光筒的两端;安装座,发光筒绕发光筒的轴线可枢转地设置在安装座上。进一步地,发光装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种发光装置,其特征在于,包括:光源(10);分划板(20);发光筒(30),所述光源(10)和所述分划板(20)分别设置在所述发光筒(30)的两端;安装座(40),所述发光筒(30)绕所述发光筒(30)的轴线可枢转地设置在所述安装座(40)上。

【技术特征摘要】
1.一种发光装置,其特征在于,包括: 光源(10); 分划板(20); 发光筒(30),所述光源(10)和所述分划板(20)分别设置在所述发光筒(30)的两端; 安装座(40),所述发光筒(30)绕所述发光筒(30)的轴线可枢转地设置在所述安装座(40)上。2.根据权利要求1所述的发光装置,其特征在于,所述发光装置还包括用于测量所述发光筒(30)的转动角度的检测元件(50),所述检测元件(50)与所述发光筒(30)连接。3.根据权利要求2所述的发光装置,其特征在于,所述检测元件(50)为旋转编码器,所述旋转编码器与所述发光筒(30)同轴设置。4.根据权利要求3所述的发光装置,其特征在于,所述发光装置还包括联轴器(60),所述发光筒(30)通过所述联轴器(60)与所述旋转编码器连接。5.根据权利要求1所述的发光装置,其特征在于,所述发光装置还包括套筒(70),所述发光筒(30)的一部分可转动地穿设在所述套筒(70)内,所述套筒(70)与所述安装座(40)连接。6.根据权利要求1所述的发光装置,其特征在于,所述发光装置还包括驱动部(80),所述驱动部(80 )与所述发光筒(30 )相连接并驱动所述发光筒(30...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘文丽李飞洪宝玉张吉焱马振亚孙劼
申请(专利权)人:中国计量科学研究院
类型:实用新型
国别省市:

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