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本实用新型提供了一种用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置。发光装置包括：光源；分划板；发光筒，光源和分划板分别设置在发光筒的两端；安装座，发光筒绕发光筒的轴线可枢转地设置在安装座上。由于本实用新型中的光源和分划板集成在发光装置的发光筒...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

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