温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型提供了一种用于检测综合验光仪的光学系统和光学检测装置。光学系统包括：分光元件；第一物镜；第一反光元件，第一反光元件设置在分光元件和第一物镜之间；分划板，分划板设置于第一物镜的物方焦点上；调焦元件，第一物镜设置在调焦元件和第一反光元...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。