X-射线荧光光谱分析仪用样品杯制造技术

本实用新型专利技术公开了一种X-射线荧光光谱分析仪用样品杯，包括杯体、杯盖及透光膜，杯体内具有样品腔，杯体的底部具有与样品腔相通的通孔，杯盖盖在杯体上，透光膜封闭在通孔处使样品腔成为密闭腔。本实用新型专利技术的结构能将样品的样品腔与真空腔分离，且能实现样品的分析。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及X-射线荧光光谱分析仪，特别是X-射线荧光光谱分析仪用样品杯。
技术介绍
任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成，原子核外电子按其能量的高低分层分布而形成不同的能级，因此，一个原子核可以具有多种能级状态。能量最低的能级状态称为基态能级，其余能级称为激发态能级，能量最低的激发态则称为第一激发态。正常情况下，原子处于基态，核外电子在各自能量最低的轨道上运动。如果将一定外界能量如光能提供给该基态原子，当外界光能量E恰好等于该基态原子中基态和某一较高能级之间的能级差δΕ时，该原子将吸收这一特征波长的光，外层电子由基态跃迀到相应的激发态，形成原子吸收光谱。电子跃迀到较高能级以后处于激发态，但激发态电子是不稳定的，经过一较短时间后，激发态电子将返回基态或其它较低能级，并将电子跃迀时所吸收的能量以光的形式释放出去，这个过程形成原子发射光谱。可见原子吸收光谱过程吸收辐射能量，而原子发射光谱过程则释放辐射能量。X-射线荧光光谱分析仪的分析原理是:光源发射出原级X-射线，该射线照射样品，待测元素的原子吸收相应的能量形成激发态，外层电子向低能级电子层跃迀，同时发射出次级X-射线，即X-射线荧光，以释放能量，通过探测器检测X-射线荧光的强度，进而求得待测元素的含量。现有的X-射线荧光光谱分析仪是将样品放置到真空腔内，然后将真空腔抽成真空，通过X-射线和探测器检测样品中的成分。如在申请号为201320411650.X的专利文献中公开了一种射线荧光光谱仪，其包括样品腔和分析腔，在分析样品时，样品腔和真空腔均处在真空状态下，这种方式适合于固态样品的测试，如果将液态或粉末态的样品放置到真空腔内，则液态很容易挥发，粉末态容易出现悬浮现象，因此，会影响分析的结果。如果将真空腔与放置样品的容器分开，由于真空腔内为负压，同时光线又需要通过真空腔照射到样品上来分析样品，因此，如果不将样品放置到真空腔内，则需要解决一重要问题是:在存在压差的情况下如何实现对样品的检测分析。
技术实现思路
为了将样品的样品腔与真空腔分离，且能实现样品的分析，本技术提供了一种X-射线荧光光谱分析仪用样品杯。为达到上述目的，X-射线荧光光谱分析仪用样品杯，包括杯体、杯盖及透光膜，杯体内具有样品腔，杯体的底部具有与样品腔相通的通孔，杯盖盖在杯体上，透光膜封闭在通孔处使样品腔成为密闭腔。上述结构，样品腔用于盛装样品，由于在杯体的底部设置了透光膜，因此，射线管的射线能经真空腔透过透光膜照射到样品，可以利用射线管和探测器分析样品；由于样品腔内能形成密闭腔，在装入样品后，样品腔与外界隔离，样品腔不收外界大气压的影响，当将样品杯的下端伸入到真空腔内后，即使真空腔处于真空状态，透光膜两侧的压差也小，因此，透光膜不容易破裂，这样，利用本技术的样品杯不仅能将真空腔与样品腔分离，而且能较可靠的分析样品。进一步的，杯盖与杯体为一体结构，能使样品杯的结构简单，制造简单，制造成本低。进一步的，杯盖活动链接在杯体上，在杯体与杯盖之间设有第一密封圈，这样能提高密封性能，减小外界大气压对样品腔的影响。进一步的，在杯体的上表面设有第一密封槽，第一密封圈卡置在第一密封圈内，该结构可可靠的定位第一密封圈。进一步的，透光膜的边缘自杯体的底部边缘向上翻折，在杯体上套有夹持透光膜翻折部分的杯套。该结构，利用杯套能可靠的夹持透光膜，可减小透光膜脱离杯体的可能性，另外，利用杯套也可以起到保护透光膜的作用，同时，方便整体取放样品杯。进一步的，杯体的上边缘具有向外延伸的第一凸缘；在第一凸缘与杯套之间设有第二密封圈，以提高密封性能。进一步的，在杯套的上表面设有第二密封槽，第二密封圈卡置在第二密封槽内，该结构能可靠的定位第二密封圈。进一步的，杯套上端部设有向外延伸的第二凸缘，第二凸缘上设有一个以上的通槽；所述的杯盖包括盖体及夹扣，夹扣设在杯盖上，夹扣的下端部具有卡扣，卡扣卡置在第二凸缘上。该结构，当需要盖杯盖时，先让夹扣对准通槽，然后将杯盖推向杯套，让夹扣的卡扣顺着通槽滑动，当卡扣滑动穿过通槽后，旋转杯盖，让卡扣卡置到第二凸缘上实现杯盖与杯套的活动链接，如要拆卸杯盖，则与上述过程相反，采用这种结构实现杯盖与杯套的连接，不仅结构简单，操作快捷，而且连接的可靠性好。进一步的，在杯套上设有限位环，所述的限位环用于限制样品杯插入到真空腔的位置。进一步的，杯体的下端部具有台阶，透光膜的边缘自杯体的底部向上翻折，在台阶上套有夹持透光膜翻折部分的套环。该结构，通过套环夹持透光膜，可使透光膜的夹持牢固、可靠，而且该样品杯的结构简单。【附图说明】图1为X-射线荧光光谱分析仪的立体图。图2为X-射线荧光光谱分析仪箱盖打开时的状态图。图3为去掉箱体和箱盖后X-射线荧光光谱分析仪的示意图。图4为去掉箱体和箱盖后X-射线荧光光谱分析仪另一视角示意图。图5为去掉箱体和箱盖后X-射线荧光光谱分析仪另一视角示意图。图6为去掉箱体和箱盖后X-射线荧光光谱分析仪的分解图。图7为样品杯的分解图。 【具体实施方式】下面结合附图和【具体实施方式】对本技术进行进一步详细说明。如图1和图2所示，X-射线荧光光谱分析仪包括箱体100和铰接在箱体100上的箱盖200。在箱体100内设有分析装置，所述的分析装置包括真空腔体座1、射线管单元2、探测器单元3、样品杯4、密封结构5及保护装置6。如图6所示，真空腔体座I包括座体11和上盖板12。座体11内具有真空腔113 ;上盖板12通过螺钉固定在座体11上，在座体11与上盖板12之间设有密封圈，以提高密封性能，在上盖板12上设有与真空腔113相通的放置孔121。如图3至图6所示，所述的射线管单元2包括X-RAY射线管21、准直器22和法兰23。法兰23固定座体11的底部，X-RAY射线管21固定在法兰23上，X-RAY射线管发生的光线垂直向上射出；准直器22穿过座体11伸入到真空腔113内，且对着准直器22。如图3至图6所示，所述的探测器单元3包括探测器31、探测器固定板32、探测器固定板支撑座33、探测器密封圈压板34、探测当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
X‑射线荧光光谱分析仪用样品杯，其特征在于：包括杯体、杯盖及透光膜，杯体内具有样品腔，杯体的底部具有与样品腔相通的通孔，杯盖盖在杯体上，透光膜封闭在通孔处使样品腔成为密闭腔。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：韩晓朋，
申请(专利权)人：韩晓朋，
类型：新型
国别省市：广东;44