一种用于X射线衍射仪的样品架，属于X射线衍射分析技术领域。包括：调节螺钉（1）、样品架主体（2）、顶盖（4）；顶盖（4）上配置有4个螺钉，用螺钉将顶盖（4）固定在样品架主体（2）上，样品架主体（2）的两侧有调节螺钉（1）。在安装样品时，首先将顶盖固定在样品架上，让被测样品的表面贴紧顶盖，然后通过两侧的调节螺钉将被测试样紧紧固定在样品架上，之后去掉顶盖，将样品架固定于测试台上。这样，在顶盖的辅助下，被测样品表面与X射线的聚焦面重合，另外，由于螺钉的固定，在测试过程中样品不会移动，从而确保了测量精度。优点在于，该样品架使用方便，不受样品尺寸、形状等因素的影响，测量精度高；另外，可以同时放入多个样品，通过左右螺钉的移动，实现样品的快速切换，大大缩短换样时间。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种用于X射线衍射仪的样品架，属于X射线衍射分析
。包括：调节螺钉（1）、样品架主体（2）、顶盖（4）；顶盖（4）上配置有4个螺钉，用螺钉将顶盖（4）固定在样品架主体（2）上，样品架主体（2）的两侧有调节螺钉（1）。在安装样品时，首先将顶盖固定在样品架上，让被测样品的表面贴紧顶盖，然后通过两侧的调节螺钉将被测试样紧紧固定在样品架上，之后去掉顶盖，将样品架固定于测试台上。这样，在顶盖的辅助下，被测样品表面与X射线的聚焦面重合，另外，由于螺钉的固定，在测试过程中样品不会移动，从而确保了测量精度。优点在于，该样品架使用方便，不受样品尺寸、形状等因素的影响，测量精度高；另外，可以同时放入多个样品，通过左右螺钉的移动，实现样品的快速切换，大大缩短换样时间。【专利说明】—种用于X射线衍射仪的样品架
本技术属于X射线衍射分析
，特别是涉及一种用于X射线衍射仪的样品架。
技术介绍
X射线衍射技术已广泛用于晶体结构分析、晶格常数计算、物相分析、织构分析、宏观内应力测量等，成为物理学、化学、材料科学、地质以及生物学等许多领域必不可少的测量与分析手段。X射线衍射仪是根据布拉格衍射的原理进行工作的，在测量的过程中，为了确保测量精度，要求被测样品的表面必须与X射线的聚焦平面严格重合，否则就会造成衍射峰的偏移，导致测量误差。为了实现这一点，在对粉末样品进行测量时，只需将粉末倒入特定的样品槽，用玻璃片压平即可；而测量块状样品时，由于不同的块体尺寸厚度不同、底部不平等因素的影响，往往需要借助于橡皮泥来调节:先将样品用橡皮泥粘到测试台上，然后用玻璃片轻轻下压样品，直到被测样品的表面重合于X射线的聚焦平面为止。然而，虽然使用橡皮泥很方便实现被测面与X射线焦平面的重合，但是在测量时间比较长的时候，橡皮泥往往受热软化造成样品移动，导致测量过程中样品表面逐渐脱离X射线的聚焦平面，这样测出来的结果误差很大。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于X射线衍射仪的样品架。解决了误差很大的问题。本技术包括:调节螺钉1、样品架主体2、顶盖4 ;其中，顶盖4上配置有4个小螺钉，用于将顶盖固定在样品架主体2上。样品架主体2的两侧有调节螺钉I。在安装样品时，首先将顶盖固定在样品架上，让被测样品的表面贴紧顶盖，然后通过两侧的调节螺钉将被测试样紧紧固定在样品架上，之后去掉顶盖，将样品架固定于测试台上。这样，在顶盖的辅助下，被测样品表面与X射线的聚焦面重合，另外，由于螺钉的固定，在测试过程中样品不会移动，从而确保了测量精度。该样品架使用方便，不受样品尺寸、形状等因素的影响；另外，对于尺寸较小的样品，可以同时固定在样品架上多个样品，这样在一个样品测完后，通过2个螺钉的左右移动，直接在测试台上实现测试样品的更换，大大缩短换样时间。【专利附图】【附图说明】图1为X射线衍射仪样品架的俯视图。图2为X射线衍射仪样品架的侧视图。图3为顶盖的示意图。图中，调节螺钉1、样品架主体2、螺钉3、顶盖4。【具体实施方式】下面结合附图1进一步描述本技术的优势和特点:本技术所述的X射线衍射仪样品架，包括调节螺钉1、样品架主体2、顶盖4，顶盖上配置有4个螺钉3，用于将顶盖4固定在样品架主体2上。在安装样品时，首先将顶盖4用螺钉3固定在样品架主体2上，让被测样品的表面贴紧顶盖4，然后通过两侧的调节螺钉I将被测样品紧紧固定在样品架主体2上，之后去掉顶盖4，将样品架主体2固定于X射线衍射仪的测试台上。这样，在顶盖4的辅助下，被测样品表面与X射线的聚焦面重合，另外，由于调节螺钉I的固定，在测试过程中样品不会移动，从而确保了测量精度。另外，对于尺寸较小的样品，可以同时固定在样品架上多个样品，这样在一个样品测完后，通过2个调节螺钉的左右移动，直接在测试台上实现样品的更换，从而大大缩短换样时间。【权利要求】1.一种用于X射线衍射仪的样品架，其特征在于，包括:调节螺钉(I)、样品架主体(2)、顶盖(4);顶盖(4)上配置有4个螺钉，用螺钉将顶盖(4)固定在样品架主体(2)上，样品架主体(2)的两侧有调节螺钉(I)。【文档编号】G01N23/20GK203732470SQ201420092414【公开日】2014年7月23日 申请日期:2014年3月2日 优先权日:2014年3月2日 【专利技术者】张玉成, 郭鹏, 鞠新华, 郝京丽 申请人:首钢总公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于X射线衍射仪的样品架，其特征在于，包括：调节螺钉（1）、样品架主体（2）、顶盖（4）；顶盖（4）上配置有4个螺钉，用螺钉将顶盖（4）固定在样品架主体（2）上，样品架主体（2）的两侧有调节螺钉（1）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张玉成，郭鹏，鞠新华，郝京丽，
申请(专利权)人：首钢总公司，
类型：新型
国别省市：北京;11
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