半导体装置及其制造方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及半导体装置及其制造方法。一种半导体装置的制造方法包括以下步骤：提供一透光衬底；形成一栅极于透光衬底上；形成一栅极绝缘层覆盖于栅极上；形成一氧化半导体层于栅极绝缘层上，并至少部分位于栅极上方；形成一蚀刻终止层于栅极上方，并至少覆盖部分氧化半导体层；形成一电极层于部分氧化半导体层上；以及将氧化半导体层未被蚀刻终止层及电极层覆盖的部分进行低电阻化处理而形成一像素电极。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一种半导体装置及其制造方法。特别是指一种使用氧化半导体而形成的半导体装置及其制造方法，尤其是关于一种液晶显示装置或有机EL显示装置的主动矩阵衬底及其制造方法。此处，半导体装置包含主动矩阵衬底或具备其的显示装置。
技术介绍
光罩制程(Photo Engraving Process,PEP)是半导体制程中常使用的制程工艺，一道光罩制程通常包括沉积、显影、及蚀刻等步骤。现行薄膜晶体管衬底的制程中，栅极、漏极、源极、通道、蚀刻终止层、钝化层或像素电极等结构通常是透过光罩制程来形成，因此制程繁杂并且容易产生对位公差等问题。
技术实现思路
依据本专利技术的一种半导体装置的制造方法包括以下步骤：提供一透光衬底；形成一栅极于透光衬底上；形成一栅极绝缘层覆盖于栅极上；形成一氧化半导体层于栅极绝缘层上，并至少部分位于栅极上方；形成一蚀刻终止层于栅极上方，并至少覆盖部分氧化半导体层；形成一电极层于部分氧化半导体层上；以及将氧化半导体层未被蚀刻终止层及电极层覆盖的部分进行低电阻化处理而形成一像素电极。在一实施例中，在形成栅极绝缘层之前，进一步包括以下步骤：形成一共用电极于透光衬底上，共用电极与栅极共平面且分隔设置，其中栅极绝缘层进一步覆盖于共用电极上。在一实施例中，制造方法进一步包括以下步骤：形成一钝化层覆盖像素电极、蚀刻终止层及电极层；及形成一共用电极于钝化层上。在一实施例中，低电阻化处理包括真空电浆处理或高温退火处理。依据本专利技术的一种半导体装置包括一透光衬底、一栅极、一栅极绝缘层、一氧化半导体层、一蚀刻终止层以及一电极层。栅极设置于透光衬底上。栅极绝缘层覆盖于栅极上。氧化半导体层设置于栅极绝缘层上，并至少部分位于栅极上方。蚀刻终止层设置于栅极上方，并至少覆盖部分氧化半导体层。电极层设置于部分氧化半导体层上。氧化半导体层未被蚀刻终止层及电极层覆盖的部分为一像素电极。在一实施例中，半导体装置进一步包括一共用电极，其设置于透光衬底上。共用电极与栅极共平面且分隔设置。栅极绝缘层进一步覆盖于共用电极上。在一实施例中，半导体装置进一步包括一钝化层及一共用电极。钝化层覆盖像素电极、蚀刻终止层及电极层。共用电极设置于钝化层上。在一实施例中，共用电极的材料包括铟锡氧化物(ITO)、铟锌氧化物(IZO)、掺氟氧化锡(FTO)、掺铝氧化锌(AZO)、掺镓氧化锌(GZO)、或铟镓锌氧化物(IGZO)。在一实施例中，当共用电极的材料为铟镓锌氧化物(IGZO)，共用电极透过低电阻化处理而为一电极。在一实施例中，氧化半导体层的材料包括铟镓锌氧化物(IGZO)。在一实施例中，氧化半导体层包括第一氧化半导体层及第二氧化半导体层，其中第一氧化半导体层位于栅极绝缘层与第二氧化半导体层之间，且第二氧化半导体层掺杂p型杂质或n型杂质。在一实施例中，像素电极进一步包括第一氧化半导体层及第二氧化半导体层。承上所述，本专利技术的半导体装置及其制作方法，藉由将未被蚀刻终止层覆盖的部分氧化半导体层进行低电阻化处理，而形成像素电极，而不需另外设置一像素电极层，进而减少使用光罩的制程工艺，并且免去形成像素电极层可能产生的公差。附图说明图1为本专利技术第一实施例的一种半导体装置的制造方法的步骤流程
图。图2至图5为半导体装置的制造流程示意图。图6为本专利技术第一实施例的一种半导体装置的剖面图。图7为图6的半导体装置的上视图。图8A及图8B分别为半导体装置的不同态样的示意图。图9为本专利技术第一实施例的另一种半导体装置的制造方法的步骤流程图。图10A为本专利技术第二实施例的一种半导体装置的制造方法流程图。图10B为本专利技术第二实施例的一种半导体装置的剖面图。具体实施方式以下将参照相关附图，说明依本专利技术较佳实施例的一种半导体装置及其制造方法，其中相同的组件将以相同的参照符号加以说明。图1为本专利技术第一实施例的一种半导体装置的制造方法的步骤流程图，图2至图5为半导体装置的制造流程示意图，图6为本专利技术第一实施例的一种半导体装置S1的剖面图。请参照图1并搭配图2至图6所示，本专利技术的半导体装置S1及其制造方法可应用于液晶显示装置或有机EL(Organic Electro-Luminescence)显示装置的主动矩阵衬底，例如是薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)数组衬底，特别是应用于边缘电场转换(Fringe Field Switching,FFS)技术的液晶显示装置的主动矩阵衬底。于此，半导体装置S1可包含主动矩阵衬底或具备其的显示装置。半导体装置S1的制造方法包括以下步骤：提供一透光衬底(S01)；形成一栅极于透光衬底上(S02)；形成一共用电极于透光衬底上，共用电极与栅极共平面且分隔设置(S03)；形成一栅极绝缘层覆盖于栅极及共用电极上(S04)；形成一氧化半导体层于栅极绝缘层上，并至少部分位于栅极上方(S05)；形成一蚀刻终止层于栅极上方，并至少覆盖部分氧化半导体层(S06)；形成一电极层于部分氧化半导体层上(S07)；以及将氧化半导体层未被蚀刻终止层及电极层覆盖的部分进行低电阻化处理而形成一像素电极(S08)。于步骤S01及步骤S02中，如图2所示，提供一透光衬底1。透光
衬底1可为玻璃衬底、塑料衬底、或蓝宝石衬底。接着，形成一栅极2于透光衬底1上。具体而言，栅极2可透过溅镀沉积一层金属层于透光衬底1上，并于金属层上覆盖光刻胶，利用光罩对光刻胶进行曝光、显影、以及蚀刻等制程工艺而形成栅极2。其中金属层(以及由金属层形成的栅极2)的材料可包括钽(Ta)、钕(Nd)、铬(Cr)、钨(W)、钛(Ti)、钼(Mo)、铝(Al)、铜(Cu)、或其组合。在步骤S03中，共用电极CE与栅极2共平面地设置于透光衬底1上，并且彼此分隔设置以电性隔离。共用电极CE的材料可包括导电层，例如铟锡氧化物(ITO)、铟锌氧化物(IZO)、掺氟氧化锡(FTO)、掺铝氧化锌(AZO)、或掺镓氧化锌(GZO)，其可藉由沉积、曝光、显影、及蚀刻等制程工艺而形成。值得一提的是，共用电极CE的材料也可以是氧化半导体层，如铟镓锌氧化物(IGZO)。其中，当共用电极CE的材料为铟镓锌氧化物(IGZO)，共用电极CE可透过低电阻化处理而为一导体。具体而言，低电阻化处理可包括真空电浆处理或高温退火处理。例如使用有化学气相沈积(Chemical Vapor Deposition，简称CVD)装置的氢电浆处理、使用有蚀刻装置的氩电浆处理、及还原环境下的高温退火处理等或氢电浆搭配高温退火处理等多种方法搭配使用的低电阻化处理方法。或者，例如将使用铟镓锌氧化物(IGZO)的共用电极CE置于氢气环境中经由250℃至400℃的高温处理1至2小时，使得共用电极CE的氧离子被还原而形成导体。接着，请参照图3所示，形成一栅极绝缘层3覆盖于栅极2上。于步骤S04中，栅极绝缘层3可例如以化学气相沉积(Chemical VaporDeposition,CVD)的方式形成于透光衬底1上，其中栅极绝缘层3的材料包括硅氧化物(SiOx)、硅氮化物(SiNx)、硅氮氧化物(SiOxNy)、氧化铝(Al2O3)、氮化铝(AlN)、或聚亚酰胺(Polyimide,PI)。此外，在本实施例中，栅极绝缘层3进一步覆盖共用电极C本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体装置的制造方法，包括以下步骤：提供一透光衬底；形成一栅极于所述透光衬底上；形成一栅极绝缘层覆盖于所述栅极上；形成一氧化半导体层于所述栅极绝缘层上，并至少部分位于所述栅极上方；形成一蚀刻终止层于所述栅极上方，并至少覆盖部分所述氧化半导体层；形成一电极层于部分所述氧化半导体层上；以及将所述氧化半导体层未被所述蚀刻终止层及所述电极层覆盖的部分进行低电阻化处理而形成一像素电极。

【技术特征摘要】
1.一种半导体装置的制造方法，包括以下步骤：提供一透光衬底；形成一栅极于所述透光衬底上；形成一栅极绝缘层覆盖于所述栅极上；形成一氧化半导体层于所述栅极绝缘层上，并至少部分位于所述栅极上方；形成一蚀刻终止层于所述栅极上方，并至少覆盖部分所述氧化半导体层；形成一电极层于部分所述氧化半导体层上；以及将所述氧化半导体层未被所述蚀刻终止层及所述电极层覆盖的部分进行低电阻化处理而形成一像素电极。2.如权利要求1所述的制造方法，其中在形成所述栅极绝缘层之前，进一步包括以下步骤：形成一共用电极于所述透光衬底上，所述共用电极与所述栅极共平面且分隔设置，其中所述栅极绝缘层进一步覆盖于所述共用电极上。3.如权利要求1所述的制造方法，进一步包括以下步骤：形成一钝化层覆盖所述像素电极、所述蚀刻终止层及所述电极层；及形成一共用电极于所述钝化层上。4.如权利要求1所述的制造方法，其中所述低电阻化处理包括真空电浆处理或高温退火处理。5.一种半导体装置，包括：一透光衬底；一栅极，设置于所述透光衬底上；一栅极绝缘层，覆盖于所述栅极上；一氧化半导体层，设置于所述栅极绝缘层上，并至少部分位于所述栅极上方；一蚀刻终止层，设置于所述栅极上方，并至少覆盖部分所述氧化半导体层；以及一电极层，设置于部分所述氧化半导...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴健豪，李懿庭，胡宪堂，
申请(专利权)人：南京瀚宇彩欣科技有限责任公司，瀚宇彩晶股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32