一种芯片调试装置、调试方法及SOC芯片系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片调试装置、调试方法及SOC芯片系统，该芯片调试装置通过转换模块将输入的调试命令数据进行串并转换；通过解析模块将串并转换后的调试命令数据解析成AMBA总线命令，且获取芯片执行AMBA总线命令的执行结果数据，即可以根据AMBA总线命令去访问芯片内部的功能模块，对芯片内部的功能模块进行读取和写入的操作，且将操作结果返给转换模块，转换模块将操作结果并串转换后输出，即完成了芯片的调试。相对于现有技术本发明专利技术实施例提供的芯片调试装置调试芯片过程中不需要CPU的参与，不会占用CPU资源，且基于AMBA总线命令调试芯片，因此可以调试SOC芯片内部的功能模块，提高了芯片调试的健全性。

Chip debugging device, debugging method and SOC chip system

The invention discloses a chip debug device, debugging method and system of SOC chip, the chip debugging device through the conversion module debugging command data input string and convert the string; analytical debug command data and converted into AMBA bus command through the analysis module, and obtain the chip to perform AMBA bus command execution result that is, to access function module chip based on AMBA bus command, function module of the chip to read and write operation, and the operation result is returned to the conversion module, conversion module operating results and the string conversion output, complete the chip debugging. Compared with the prior art, the embodiment of the invention provides a CPU chip chip debugging does not need to participate in the process of debugging device, not occupy CPU resources, and based on AMBA bus chip debug, therefore can debug function module of SOC chip, improve the health of the whole chip debugging.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信
，尤其涉及一种芯片调试装置、调试方法及SOC芯片系统。
技术介绍
SOC(SystemofChip)芯片内部包含CPU(CentralProcessingUnit)，该CPU通过并行总线连接至少两个功能模块，在SOC芯片的开发过程中，为了实现不同的功能，则需要集成不同的功能模块，在SOC芯片内部的架构搭建完成之后，需要对SOC芯片内部的功能模块进行调试。现有的芯片调试方案：例如方案1(专利申请号：CN201010593731.3)，如图1所示，该芯片调试设备包括上机位和硬件调试工具；上机位通过通用端口与硬件调试工具连接，硬件调试工具通过I2C总线与芯片连接，芯片内部包括CPU和多个功能模块；该芯片调试过程中需要硬件调试工具通过I2C总线将调试指令发送给CPU处理，I2C通信协议的识别程序与I2C通信协议的解码程序必须复制到CPU的程序寄存器中，整个解析过程由CPU执行，这样会占用CPU资源并且执行速度较低。现有方案2(专利申请号：CN201410765065.5)，如图2所示，该芯片调试设备主要包括UART调试单元，该芯片调试方案的调试命令遵循monitor-51协议或其他自定义协议，该芯片通过自身的通用异步收发器UART接口与终端建立通信，通过UART调试单元根据预置调试协议解析及执行调试命令，得到执行结果并返回给终端。具体调试过程为通过接受子块接收调试命令，并通过基于monitor-51协议的解析子块解析，通过下载模块将固件下载到程序存储器中，通过控制模块控制固件运行，通过获取模块获取固件运行中的变量、存储器中的数据并通过发送子块反馈给终端。由于该调试方案没有基于规范的SOC内部总线进行设计，该UART调试单元不能调试SOC芯片内部AMBA(AdvancedMicrocontrollerBusArchitecture)总线的功能模块。综上可知，现有的芯片调试方法存在占用CPU资源且执行速度低，或者不能调试SOC内部AMBA总线的功能模块的问题。因此，如何解决芯片调试占用CPU资源，不能调试SOC芯片内部AMBA总线的功能模块的问题，提高芯片调试的健全性，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种芯片调试装置、调试方法及SOC芯片系统，用以解决现有技术中存在的芯片调试占用CPU资源，不能调试SOC芯片内部AMBA总线的功能模块的问题。本专利技术实施例提供了一种芯片调试装置，用于调试SOC芯片，所述芯片调试装置包括：转换模块和解析模块；其中，所述转换模块用于将所述SOC芯片接收的外部调试命令数据进行串并转换后输出到所述解析模块，且将所述解析模块返回的数据进行并串转换后输出；所述解析模块用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成AMBA总线命令，且获取所述SOC芯片执行AMBA总线命令的执行结果数据并返回给所述转换模块。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述芯片调试装置中，所述解析模块具体用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成AMBA总线命令，且获取所述SOC芯片根据所述AMBA总线命令通过所述AMBA总线对芯片内各功能模块进行读取和写入的操作结果数据并返回给所述转换模块。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述芯片调试装置中，所述AMBA总线命令包括：AXI总线命令、AHB总线命令和APB总线命令；所述AMBA总线包括：AXI总线、AHB总线和APB总线；所述解析模块具体包括：AXI处理单元、AHB处理单元和APB处理单元；其中，所述解析模块与所述AMBA总线交互的总线为AXI总线时，所述AXI处理单元用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成AXI总线命令，且获取所述SOC芯片根据所述AXI总线命令通过所述AXI总线对各所述功能模块进行读取和写入的操作结果数据并返回给所述转换模块；所述解析模块与所述AMBA总线交互的总线为AHB总线时，所述AHB处理单元用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成AHB总线命令，且获取所述SOC芯片根据所述AHB总线命令通过所述AHB总线对各所述功能模块进行读取和写入的操作结果数据并返回给所述转换模块；所述解析模块与所述AMBA总线交互的总线为APB总线时，所述APB处理单元用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成APB总线命令，且获取所述SOC芯片根据所述APB总线命令通过所述APB总线对各所述功能模块进行读取和写入的操作结果数据并返回给所述转换模块。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述芯片调试装置中，所述芯片调试装置通过所述解析模块的AMBA总线接口分别与所述AXI总线、所述AHB总线和所述APB总线连接。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述芯片调试装置中，所述转换模块为通用异步收发器。本专利技术实施例提供了一种本专利技术实施例提供的上述芯片调试装置的芯片调试方法，包括：将SOC芯片接收的外部调试命令数据进行串并转换；将串并转换后的调试命令数据解析成AMBA总线命令，且获取所述SOC芯片执行AMBA总线命令的执行结果数据；将执行结果数据进行并串转换后输出。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述芯片调试方法中，将串并转换后的调试命令数据解析成AMBA总线命令，且获取所述SOC芯片执行AMBA总线命令的执行结果数据，具体包括：将串并转换后的调试命令数据解析成AMBA总线命令，且获取所述SOC芯片根据所述AMBA总线命令通过所述AMBA总线对各所述功能模块进行读取和写入的操作结果数据并返回给所述转换模块。在一种可能的实施方式中，本专利技术实施例提供的上述芯片调试方法中，所述AMBA总线命令包括：AXI总线命令、AHB总线命令和APB总线命令；所述AMBA总线包括：AXI总线、AHB总线和APB总线；将串并转换后的调试命令数据解析成AMBA总线命令，且获取所述SOC芯片根据所述AMBA总线命令通过所述AMBA总线对各所述功能模块进行读取和写入的操作结果数据并返回给所述转换模块，具体包括：所述解析模块与所述AMBA总线交互的总线为AXI总线时，将串并转换后的调试命令数据解析成AXI总线命令，且获取所述SOC芯片根据所述AXI总线命令通过所述AXI总线对各所述功能模块进行读取和写入的操作结果数据并返回给所述转换模块；所述解析模块与所述A本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片调试装置，用于调试SOC芯片，其特征在于，所述芯片调试装置包括：转换模块和解析模块；其中，所述转换模块用于将所述SOC芯片接收的外部调试命令数据进行串并转换后输出到所述解析模块，且将所述解析模块返回的数据进行并串转换后输出；所述解析模块用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成AMBA总线命令，且获取所述SOC芯片执行AMBA总线命令的执行结果数据并返回给所述转换模块。

【技术特征摘要】
1.一种芯片调试装置，用于调试SOC芯片，其特征在于，所述芯片调试
装置包括：转换模块和解析模块；其中，
所述转换模块用于将所述SOC芯片接收的外部调试命令数据进行串并转
换后输出到所述解析模块，且将所述解析模块返回的数据进行并串转换后输
出；
所述解析模块用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成
AMBA总线命令，且获取所述SOC芯片执行AMBA总线命令的执行结果数据
并返回给所述转换模块。
2.如权利要求1所述的芯片调试装置，其特征在于，所述解析模块具体
用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成AMBA总线命令，且
获取所述SOC芯片根据所述AMBA总线命令通过所述AMBA总线对芯片内
各功能模块进行读取和写入的操作结果数据并返回给所述转换模块。
3.如权利要求2所述的芯片调试装置，其特征在于，所述AMBA总线命
令包括：AXI总线命令、AHB总线命令和APB总线命令；所述AMBA总线
包括：AXI总线、AHB总线和APB总线；所述解析模块具体包括：AXI处理
单元、AHB处理单元和APB处理单元；其中，
所述解析模块与所述AMBA总线交互的总线为AXI总线时，所述AXI处
理单元用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成AXI总线命令，
且获取所述SOC芯片根据所述AXI总线命令通过所述AXI总线对各所述功能
模块进行读取和写入的操作结果数据并返回给所述转换模块；
所述解析模块与所述AMBA总线交互的总线为AHB总线时，所述AHB
处理单元用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成AHB总线命
令，且获取所述SOC芯片根据所述AHB总线命令通过所述AHB总线对各所
述功能模块进行读取和写入的操作结果数据并返回给所述转换模块；
所述解析模块与所述AMBA总线交互的总线为APB总线时，所述APB

\t处理单元用于将所述转换模块串并转换后的调试命令数据解析成APB总线命
令，且获取所述SOC芯片根据所述APB总线命令通过所述APB总线对各所
述功能模块进行读取和写入的操作结果数据并返回给所述转换模块。
4.如权利要求3所述的芯片调试装置，其特征在于，所述芯片调试装置
通过所述解析模块的AMBA总线接口分别与所述AXI总线、所述AHB总线
和所述APB总线连接。
5.如权利要求1-4任一项所述的芯片调试装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁明耀，
申请(专利权)人：浙江大华技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33