半导体器件制造技术

本发明专利技术涉及一种半导体器件。在内部寄存器(41)中保存用来控制闪存(11)的动作的值。电源切断检测用寄存器(47)在发生电源切断时所保持的值变化，并写入存储在特定的存储器单元(36)中的数据。然后，EX‑OR电路(48)比较存储在特定的存储器单元(36)中的数据和电源切断检测用寄存器(47)的值来检测电源切断。在检测到电源切断时，再次设定内部寄存器(41)的值。由此，可以防止在发生电源切断时闪存(11)进行误动作。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种包含非易失性存储器(11)的半导体器件，其特征在于，包含：保存用来控制上述非易失性存储器(11)的动作的值的内部寄存器(41)；在发生电源切断时所保持的值变化的电源切断检测用寄存器(47)；以及根据保存在上述内部寄存器(41)中的值控制上述非易失性存储器(11)的动作的控制部件(34)，在通过上述电源切断检测用寄存器(47)保持的值的变化检测到电源切断时，上述控制部件(34)再次设定上述内部寄存器(41)的值，上述电源切断检测用寄存器(47)由与上述内部寄存器(41)相比在电源切断发生时所保持的值更容易变化的锁存电路构成。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：鹤田环，加藤多实结，
申请(专利权)人：瑞萨电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP