本发明专利技术提供用于通过一个或多个候选过程效应的特征的识别来改进轮胎均匀性的方法和系统。与一个或多个候选过程效应相关联的过程谐波的幅值可以通过针对一组轮胎组合均匀性测量结果来识别以实现所述过程谐波的采样的增强分辨率。所述增强分辨率方法可以组合一组多个轮胎的略微地偏离彼此的均匀性测量结果以生成复合过程谐波采样。具体而言，所述复合过程谐波采样可以通过基于每个轮胎上的过程谐波的最大幅值的方位角位置对齐所述轮胎的组中的每个轮胎的均匀性测量结果而生成。随后可以使用所述复合过程谐波采样确定所述过程谐波的所述幅值。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术设及轮胎均匀性并且更确切地说设及通过估计过程谐波的特征来改进轮 胎的均匀性。
技术介绍
在轮胎的某些可量化特性中，轮胎非均匀性与关于轮胎的旋转轴线的对称性（或 缺乏对称性）相关。不幸的是，常规轮胎成型方法具有许多产生在轮胎中的非均匀性的机 会。在轮胎旋转期间，存在于轮胎结构中的非均匀性在车轮轴线处产生周期性变化的力。当 运些力变化作为明显的振动传送到车辆和车辆乘员时，轮胎非均匀性是重要的。运些力通 过车辆的悬架传送并且可W在车辆的座椅和方向盘上被感觉到，或者作为噪声在乘客室中 传送。传送到车辆乘员的振动的量已经被分类为轮胎的"乘坐舒适"或"舒适"。 轮胎均匀性参数或属性一般被分类为尺寸或几何变化（径向偏屯、和横向偏屯、）、 质量变量，W及滚动力变化（径向力变化、横向力变化W及切向力变化，有时也称为纵向或 前后力变化）。均匀性测量机器通常通过测量在轮胎围绕其轴线旋转时在轮胎周围的多个 点处的力来计算上述和其它均匀性特性W生成均匀性波形。 轮胎的所测量均匀性波形可W由具有轮胎效应W及过程效应两者的制造效应引 起。轮胎效应的实例包含由于W下项的效应：轮胎材料组成（例如，外壳纺织层、带层、钢丝 圈、内衬、胎面和轮胎的其它橡胶层中的一个或多个的产品起始点或接合重叠位置）、制造 技术（例如，绿色轮胎被引入在成型鼓上、放置到模具或硫化机中的相对位置等等），和/或 用于轮胎构造过程中的可控制条件（例如，在硫化过程或其它制造步骤期间绿色轮胎所经 受的溫度和压力）。过程效应的实例可W从此类制造条件产生为漉影响、挤出机喘振、过程 条件（例如，溫度、压力、速度等）中的波动等。 轮胎效应和过程效应在所测量均匀性波形内的影响对应地由复合均匀性波形的 "轮胎谐波"或"过程谐波"分量表示。轮胎谐波分量具有在轮胎圆周内符合整数倍的周期。 过程谐波分量具有在轮胎圆周内并不符合整数倍的周期。 用于估计过程谐波分量的幅值（即，过程谐波幅值）的一个实例已知技术设及使 用回归分析估计每个轮胎的一个或多个候选过程效应的过程谐波幅值。随后对每个轮胎的 过程谐波幅值进行平均W提供与每个候选过程效应相关联的过程谐波幅值的估计。当多个 过程效应被识别为分析的候选时、尤其当候选过程效应的引入的速率紧挨着时，基于不同 过程谐波的区分可W存在此技术的实际限制。运些限制可W至少部分由针对每个轮胎执行 的均匀性测量结果的采样分辨率（例如，针对每个轮胎的128个点）引起。具体而言，分离 具有由与允许的轮胎上的测量点的采样分辨率相比间隔更加紧密的引入速率的候选过程 效应可能是困难的。 另外，过程谐波通常将具有位于不同轮胎中的不同点处的峰值（例如，最大幅 值）。换句话说，过程谐波的峰值将是在轮胎间变动的。运可W引起过程效应的峰值位于轮 胎上的两个离散测量点之间，与同任何观察到的测量点的恰好协同定位相反。当考虑多个 轮胎时，测量点并不自然地对所述过程效应的相同点采样。 因此，存在对改进均匀性数据的采样分辨率W用于过程谐波幅值的估计的需求。 一种可W增大均匀性数据的采样分辨率而无需轮胎的堆叠的系统和方法将是尤其有用的。
技术实现思路
本专利技术的方面和优点将部分在W下描述中进行阐述，或可W从所述描述中显而易 见，或可W通过实践本专利技术来习得。 本专利技术的一个实例方面设及改进轮胎的均匀性的方法。所述方法包含针对一组多 个轮胎中的每个轮胎识别至少一个候选过程效应并且获得均匀性参数的均匀性测量结果。 每个轮胎的均匀性测量结果是针对围绕轮胎的多个点获得的。均匀性测量结果含有与至少 一个候选过程效应相关联的过程谐波。所述方法进一步包含至少部分地基于所述轮胎的组 中的每个轮胎上的过程谐波的最大幅值的方位角位置对齐轮胎的组的均匀性测量结果W 构建复合过程谐波采样。所述方法进一步包含通过计算装置从复合过程谐波采样中估计过 程谐波的幅值。所述方法进一步包含基于过程谐波的幅值修改轮胎制造。 在本专利技术的此实例方面的特定实施方案中，在第一采样分辨率下针对围绕轮胎的 多个点获得每个轮胎的均匀性测量结果。复合过程谐波采样与第二采样分辨率相关联。第 二采样分辨率大于第一采样分辨率。 本专利技术的另一实例方面设及用于改进轮胎的均匀性的系统。所述系统包含经配置 W测量用于多个测试轮胎中的每一轮胎的均匀性波形的测量机器。每个轮胎的均匀性波形 包含用于围绕轮胎的多个测量点的均匀性参数的多个均匀性测量结果。所述系统进一步包 含禪合到所述测量机器的一个或多个计算装置。所述一个或多个计算装置可包含一个或多 个处理器和至少一个存储器。所述存储器可W存储计算机可读指令，所述指令在由所述一 个或多个处理器执行时使得所述一个或多个处理器执行操作。所述操作包含本专利技术的任何 方法的一个或多个方面。 参考W下描述W及所附权利要求书，本专利技术的运些W及其它特征、方面W及优点 将得到更好的理解。并入在本说明书中并且构成本说明书的一部分的【附图说明】了本专利技术的 实施例，并且与所述描述一起用来阐释本专利技术的原理。【附图说明】 本专利技术的针对所属领域的一般技术人员的完整且能够实现的公开内容（包括其 最佳模式）在说明书中得到阐述，所述公开内容参考附图，在所述附图中： 图1描述跨越五个不同轮胎体现的实例过程谐波。图1绘制沿着横坐标的数据点 和沿着纵坐标的过程谐波。 图2描述根据本专利技术的一个实例实施例的用于改进轮胎的均匀性的实例方法的 流程图。 图3描述根据本专利技术的一个实例实施例的用于对齐均匀性测量结果的实例方法 的流程图。 图4描述根据本专利技术的一个实例实施例的用于一组轮胎的对齐的均匀性测量结 果。图4绘制沿着横坐标的数据点和沿着纵坐标的过程谐波。 图5和6描述根据本专利技术的一个实例实施例的从对齐均匀性测量结果中构建的复 合过程谐波采样。图5和6绘制沿着横坐标的数据点和沿着纵坐标的过程谐波。 图7描述根据本专利技术的另一实例实施例的用于对齐均匀性测量结果的实例方法 的流程图。 图8描述根据本专利技术的一个实例实施例的用于从复合过程谐波采样中估计过程 谐波的幅值的实例方法的流程图。 图9描述根据本专利技术的一个实例实施例的用于从复合过程谐波采样中估计过程 谐波的幅值的实例方法的流程图。 图10描述根据本专利技术的一个实例实施例的用于改进轮胎的均匀性的实例系统。【具体实施方式】 所属领域的一般技术人员将理解，本论述仅是对实例实施例的描述，且并不意图 为限制本专利技术的更广泛的方面。每个实例作为本专利技术的说明而非本专利技术的限制而提供。实 际上，所属领域的技术人员将显而易见，在不脱离本专利技术的范围或精神的情况下可W在本 专利技术中进行各种修改和改变。举例来说，说明或描述为一个实施例的一部分的特征可W与 另一实施例一起使用W产生再一个实施例。因此，希望本专利技术涵盖此类修改W及变化，所述 修改W及变化处于所附权利要求书W及其等效物的范围内。避述 本专利技术的实例方面设及用于通过一个或多个候选过程效应的特征的识别来改进 轮胎均匀性的方法和系统。在分析轮胎均匀性时，可W针对多个轮胎测量多种不同的均匀 性参数。所获得的均匀性测量结果通常对应于表示在围绕轮胎的圆周的多个数据点（例 如，128个点）处的均匀性测量结果的均匀性波形。均匀性波形可W(举例来说）使用傅立 叶分析分解成许多相应的本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于改进轮胎的均匀性的方法，其包括：识别至少一个候选过程效应；针对一组多个轮胎中的每个轮胎获得均匀性参数的均匀性测量结果，每个轮胎的所述均匀性测量结果是针对围绕所述轮胎的多个点获得的，所述均匀性测量结果含有与所述候选过程效应相关联的过程谐波；至少部分地基于所述轮胎的组中的每个轮胎上的所述过程谐波的最大幅值的方位角位置通过一个或多个计算装置对齐所述轮胎的组的所述均匀性测量结果以构建复合过程谐波采样；通过所述一个或多个计算装置从所述复合过程谐波采样中估计所述过程谐波的幅值；以及基于所述过程谐波的所述幅值修改轮胎制造。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：W·D·玛弗布伊，
申请(专利权)人：米其林集团总公司，米其林研究和技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：法国;FR
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