液晶显示面板用基板及液晶显示面板切割方法技术

本发明专利技术实施例公开一种液晶显示面板用基板及液晶显示面板切割方法。基板包括至少一个液晶显示面板区域及多个对位检查标记。每一对位检查标记设置于液晶显示面板区域的其中一个顶角。每一对位检查标记由至少两个呈方形的金属件等间距套设形成，每两个金属件构成“回”字形状，每一对位检查标记的中心与液晶显示面板区域的其中一个顶点重合。本发明专利技术中，将对位标记和检查标记合并为同一个标记，切割完成后，在液晶显示面板区域留下来的切割标记，可以用于检测切割工艺的准确程度。并且，将四个对位检查标记分别设置于液晶显示面板区域的四个角落，在一定程度上降低了边缘漏光的发生。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示面板用基板，特别涉及一种带有对位检查标记的。
技术介绍
在液晶显示制造领域，制造液晶显示面板通常包括如下过程:首先制作液晶显示面板用薄膜晶体管阵列基板和液晶显示面板用彩色滤光阵列基板，然后将薄膜晶体管阵列基板和彩色滤光片阵列基板进行对盒；对盒工艺完成后，需要将上下对盒后的薄膜晶体管阵列基板和彩色滤光片阵列基板切割形成液晶显示面板。在对盒薄膜晶体管阵列基板和彩色滤光片基板前，通常是在薄膜晶体管阵列基板和彩色滤光片阵列基板上设置对位标记和检查标记。根据对位标记的位置信息将对盒后的液晶显示面板用基板准确地放置在切割设备中，然后再进行切割，最后根据检查标记检查切割的准确性。图1及图2分别为现有技术中一种对位标记和检查标记的示意图。如图3所示，液晶显示面板用基板300包括若干个液晶显示面板区域301 (图中仅示意一个以做说明)，每一液晶显示面板区域301的四个顶点位置(a、b、c、d所示的位置)设置一个图1所示的对位标记，对位标记的中心与顶点重合。每一液晶显示面板区域301的顶点的周围(1、2、3、4、5、6、7、8所示的位置)设置图2所示的检查标记，每一顶点的周围设置两个检查标记。检查标记的中心线与两个对位标记的中心的连线重合。根据对位标记切割后，再根据留下来的检查标记检查切割的准确性。按照现有技术设置对位标记和检查标记的缺陷在于，需要在每一液晶显示面板区域的周围设置八个检查标记，并且由于在检查标记区域BM层(BM层，黑色遮光层)是整面挖开的，从而导致液晶显示面板区域中设置检查标记的八个区域容易出现漏光。
技术实现思路
本专利技术实施例公开了一种，以在切割后，可减少液晶显示面板区域的边缘漏光的发生。本专利技术实施例公开的液晶显示面板用基板包括至少一个液晶显示面板区域及多个对位检查标记，每一对位检查标记设置于所述液晶显示面板区域的其中一个顶角，每一对位检查标记由至少两个呈方形的金属件等间距套设形成，每两个金属件构成“回”字形状，每一对位检查标记的中心与所述液晶显示面板区域的其中一个顶点重合。在一个实施例中，每一金属件为正方形。在一个实施例中，每一金属件为矩形。在一个实施例中，所述基板为薄膜晶体管液晶显示器阵列基板。在一个实施例中，所述基板为薄膜晶体管液晶显示器彩色滤光片基板。本专利技术实施例公开的液晶显示面板切割方法，包括:将第一液晶显示面板用基板及第二液晶显示面板用基板对盒，其中，所述第一液晶显示面板用基板及第二液晶显示面板用基板上均包括至少一个液晶显示面板区域及多个对位检查标记，每一对位检查标记设置于所述液晶显示面板区域的其中一个顶角，每一对位检查标记由至少两个呈方形的金属件等间距套设形成，每两个金属件构成“回”字形状，每一对位检查标记的中心与所述液晶显示面板区域的其中一个顶点重合；根据所述第一液晶显示面板用基板及第二液晶显示面板用基板上的所述多个对位检查标记分别确定所述第一液晶显示面板用基板及第二液晶显示面板用基板的横向切割线和纵向切割线；以及分别沿着所述第一液晶显示面板用基板及所述第二液晶显示面板用基板的横向和纵向切割线进行切割，以获得一个液晶显示面板单元。在一个实施例中，每一金属件为正方形。在一个实施例中，每一金属件为矩形。在一个实施例中，所述基板为薄膜晶体管液晶显示器阵列基板。在一个实施例中，所述基板为薄膜晶体管液晶显示器彩色滤光片基板。本专利技术相较于现有技术，具有如下有益效果:将对位标记和检查标记合并为同一个标记，切割完成后，在液晶显示面板区域留下来的切割标记，可以用于检测切割工艺的准确程度，并且，将四个对位检查标记分别设置于液晶显示面板区域的四个角落，在一定程度上降低了边缘漏光的发生。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是现有技术中对位标记的示意图；图2是现有技术中检查标记的示意图；图3是现有技术中带有对位标记及检查标记的液晶显不面板用基板的不意图；图4是本专利技术第一实施例公开的对位检查标记的示意图；图5是本专利技术第二实施例公开的对位检查标记的示意图；图6是本专利技术第三实施例公开的对位检查标记的示意图；图7是本专利技术实施例公开的带有对位检查标记的液晶显不面板用基板的不意图；图8不意出切割后留在图7中的液晶显不面板区域上的切割标记的形状；图9不意出切割后留在图7中的液晶显不面板区域上的切割标记的另一种形状；图10是本专利技术实施例公开的一种液晶显示面板切割方法的流程图。【具体实施方式】下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图4为本专利技术第一实施例公开的对位检查标记的示意图。如图4所示，对位检查标记由五个呈正方形的金属件11等间距套设形成，每两个金属件11构成“回”字形状。每相邻两个金属件11的间隔为20 μ m，对位检查标记的中心距离最内层的金属件11的距离也为20 μ m，也即最内层的金属件11的边长为40 μ m。对位检查标记设置在液晶显示面板用基板的液晶显示面板区域顶角的位置，对位检查标记的中心与液晶显示面板区域的顶点重入口 ο图5为本专利技术第二实施例公开的对位检查标记的示意图。与图4所示的对位检查标记不同的是，图5所示意的对位检查标记由四个呈正方形的金属件12等间距套设形成，每相邻两个金属件12的间隔为25 μ m，对位检查标记的中心距离最内层的金属件1当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示面板用基板，其特征在于，包括至少一个液晶显示面板区域及多个对位检查标记，每一对位检查标记设置于所述液晶显示面板区域的其中一个顶角，每一对位检查标记由至少两个呈方形的金属件等间距套设形成，每两个金属件构成“回”字形状，每一对位检查标记的中心与所述液晶显示面板区域的其中一个顶点重合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李亚锋，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42