触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置，该触摸屏面板的位置检测方法包括以下步骤：(a)确定在被分割成多个导电区域的导电膜上是否存在与所述触摸屏面板的接触；(b)如果所述步骤(a)确定不存在接触，则测量在检测到不存在接触后的时间，并且确定所测量的时间是否小于预定时间；以及(c)如果所测量的时间小于所述预定时间，则确定为接触继续。

【技术实现步骤摘要】
触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置本申请是基于申请号为201010169396.4，申请日为2010年4月22日，专利技术名称为“触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置”的中国专利申请的分案申请。
本专利技术涉及触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置。
技术介绍
触摸屏面板是能够向显示器进行直接输入的输入设备。触摸屏面板设置于并用于显示器的前表面。能够根据在显示器上视觉获取的信息进行直接输入的触摸屏面板已经广泛用于各种用途。在触摸屏面板当中，利用电阻膜的触摸屏面板是众所周知的。在电阻膜类型的触摸屏面板中，设置上部电极基板和下部电极基板，使得它们各自的透明导电膜彼此相对，从而响应于对上部电极基板上的点施加力而使透明导电膜彼此接触。结果，可以检测到施加了力的点的位置。电阻膜类型的触摸屏面板可以大致分为4线型和5线型。4线型触摸屏面板具有设置在上部电极基板和下部电极基板中的一个上的X轴电极和设置在上部电极基板和下部电极基板中的另一个上的Y轴电极。而5线型触摸屏面板将X轴和Y轴电极都设置在下部电极基板上，并且将上部电极基板用作检测电压的探测器(例如请参见日本公开专利申请No.2004－272722和日本公开专利申请No.2008－293129)。作为例子，参照图1和图2说明5线型触摸屏面板。图1是5线型触摸屏面板的透视图。图2是5线型触摸屏面板的简要截面图。参照图1和图2，5线型触摸屏面板200(以下称为“触摸屏面板200”)包括膜210和玻璃220。膜210在其一侧形成透明导电膜230，并且用作上部电极基板。玻璃220在其一侧形成透明导电膜240，并且用作下部电极基板。膜210和玻璃220设置成使得透明导电膜230和透明导电膜240经由隔板250彼此面对。触摸屏面板200通过电缆260电连接至主计算机(未图示)。图3A和3B是示出检测触摸屏面板200中的坐标的方法的图。根据具有上述结构的触摸屏面板200，如图3A所示，利用设置在透明导电膜240的4个边的端部的电极241、242、243和244，在X轴和Y轴方向上交替地施加电压。响应于透明导电膜230和透明导电膜240在接触点(位置)A相互接触，如图3B所示，通过透明导电膜230检测出电位Va，从而检测出X轴坐标位置和Y轴坐标位置。根据上述参照图1～图3B说明的(5线型)触摸屏面板200，可以检测一个点处的接触位置。但是，如果同时在多个点进行接触，则不能检测出位置。即，如图4A所示，通过设置在透明导电膜240的4个对应的边上的电极241、242、243和244在X轴和Y轴方向上交替地施加了电压的情况下，如果透明导电膜230和透明导电膜240在两个接触点(位置)A和B处相互接触，则会检测出点A和B之间的、位置没有被按压的中点处的坐标位置。这是因为，通过透明导电膜230仅检测出一个电位Vc，从而尽管透明导电膜230和透明导电膜240在两个接触点(位置)A和B处接触，由于该位置检测方法是基于电位检测，因此确定接触位置是一个点。
技术实现思路
根据本专利技术的一个方面，提供一种触摸屏面板的位置检测方法、触摸屏面板和电子装置，即使同时在多个接触位置进行了接触时，也能够检测各个接触位置，并且即使在接触位置移动时，也能够执行位置检测。根据本专利技术的一个方面，一种触摸屏面板的位置检测方法包括以下步骤：(a)确定在被分割成多个导电区域的导电膜上是否存在与所述触摸屏面板的接触；(b)如果所述步骤(a)确定不存在接触，则测量在检测到不存在接触后的时间，并且确定所测量的时间是否小于预定时间；以及(c)如果所测量的时间小于所述预定时间，则确定为接触继续。根据本专利技术的一个方面，一种触摸屏面板的位置检测方法包括以下步骤：(a)确定在将触摸屏面板的导电膜分割而成的多个导电区域中的相邻的两个导电区域中是否存在与所述触摸屏面板的接触；(b)如果所述步骤(a)确定存在接触，则计算在所述相邻的两个导电区域中接触的两个位置的坐标；(c)根据接触的两个位置的坐标计算这两个位置之间的间隔，并且将所计算的间隔与预定距离进行比较；以及(d)如果所计算的间隔小于所述预定距离，则计算所述两个位置的坐标的平均值，并将该平均值确定为接触位置的坐标。根据本专利技术的一个方面，一种触摸屏面板的位置检测方法包括以下步骤：(a)逐个地按顺序扫描将所述触摸屏面板的导电膜分割而成的多个导电区域，以检测在所述导电区域中与所述触摸屏面板的接触的第一位置；(b)在所述步骤(a)之后，逐个地按顺序扫描所述导电区域，以检测在所述导电区域中与所述触摸屏面板的接触的第二位置；以及(c)如果在所述步骤(a)和所述步骤(b)中分别检测到所述第一位置和所述第二位置，则根据在以所述第一位置为中心的预定区域内是否存在所述第二位置，确定所述第一位置与所述第二位置之间的关系。根据本专利技术的一个方面，一种触摸屏面板包括：第一电极基板，具有形成在第一基板上的第一导电膜，该第一导电膜被分割成多个导电区域；第二电极基板，具有形成在第二基板上的第二导电膜，该第二导电膜面向所述第一导电膜；电极，沿着所述第二导电膜的4个边设置，以在所述第二导电膜中产生电位分布；和驱动电路，驱动所述触摸屏面板，该驱动电路包括处理部分，该处理部分响应于导电区域中的接触从存在切换到不存在，将表示在导电区域中存在与所述触摸屏面板的接触的信号的输出延迟预定时间。根据本专利技术的一个方面，一种触摸屏面板包括：第一电极基板，具有形成在第一基板上的第一导电膜，该第一导电膜被分割成多个导电区域；第二电极基板，具有形成在第二基板上的第二导电膜，该第二导电膜面向所述第一导电膜；电极，沿着所述第二导电膜的4个边设置，以在所述第二导电膜中产生电位分布；和驱动电路，驱动所述触摸屏面板，该驱动电路包括处理部分，如果在相邻的两个导电区域中接触了所述触摸屏面板，则该处理部分计算在所述相邻的两个导电区域中与所述触摸屏面板的接触的两个位置的坐标的平均值，并且将该平均值确定为接触位置的坐标。根据本专利技术的一个方面，一种电子装置包括触摸屏面板和驱动电路，其中，所述触摸屏面板包括：第一电极基板，具有形成在第一基板上的第一导电膜，该第一导电膜被分割成多个导电区域；第二电极基板，具有形成在第二基板上的第二导电膜，该第二导电膜面向所述第一导电膜；以及电极，沿着所述第二导电膜的4个边设置，以在所述第二导电膜中产生电位分布，所述驱动电路驱动所述触摸屏面板，该驱动电路包括处理部分，该处理部分响应于导电区域中的接触从存在切换到不存在，将表示在导电区域中存在与所述触摸屏面板的接触的信号的输出延迟预定时间。根据本专利技术的一个方面，一种电子装置包括触摸屏面板和驱动电路，其中，所述触摸屏面板包括：第一电极基板，具有形成在第一基板上的第一导电膜，该第一导电膜被分割成多个导电区域；第二电极基板，具有形成在第二基板上的第二导电膜，该第二导电膜面向所述第一导电膜；以及电极，沿着所述第二导电膜的4个边设置，以在所述第二导电膜中产生电位分布，所述驱动电路驱动所述触摸屏面板，该驱动电路包括处理部分，如果在相邻的两个导电区域中接触了所述触摸屏面板，则该处理部分计算在所述相邻的两个导电区域中与所述触摸屏面板的接触的两个位置的坐标的平均值，并且将该平均值确定本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触摸屏面板的位置检测方法，其特征在于，包括以下步骤：(a)逐个地按顺序扫描将所述触摸屏面板的导电膜分割而成的多个导电区域，以检测在所述导电区域中与所述触摸屏面板的接触的第一位置；(b)在所述步骤(a)中检测触摸的第一位置之后，逐个地按顺序扫描所述导电区域，以检测在所述导电区域中与所述触摸屏面板的接触的第二位置；(c)如果在所述步骤(a)和所述步骤(b)中分别检测到所述第一位置和所述第二位置，则确定所述第二位置是否在以所述第一位置为中心的预定区域内；以及(d)基于步骤(c)中的确定来确定所述第一位置与所述第二位置之间的关系。

【技术特征摘要】
2009.04.22 JP 2009-104366;2009.07.01 JP 2009-157161.一种触摸屏面板的位置检测方法，其特征在于，包括以下步骤：(a)逐个地按顺序扫描将所述触摸屏面板的导电膜分割而成的多个导电区域，以检测在所述多个导电区域中与所述触摸屏面板的接触的第一位置，所述多个导电区域彼此电气绝缘；(b)在所述步骤(a)中检测触摸的第一位置之后，逐个地按顺序扫描所述多个导电区域，以检测在所述多个导电区域中与所述触摸屏面板的接触的第二位置；(c)如果在所述步骤(a)中检测到所述第一位置并且在所述步骤(b)中检测到所述第二位置，则确定在所述步骤(b)中检测到的所述第二位置是否在以在所述步骤(a)中检测到的所述第一位置为中心的预定区域内；以及(d)基于步骤(c)中的确定的结果来确定所述第一位置与所述第二位置之间的关系。2.如权利要求1所述的位置检测方法，其特征在于，在所述步骤(c)中确定第二位置在所述预定区域内的情况下，所述步骤(d)确定接触从所述第一位置移动到所述第二位置。3.如权利要求1所述的位置检测方法，其特征在于，在所述步骤(c)中确定第二位置在所述预定区域外的情况下，所述步骤(d)确定所述第二位置是与所述触摸屏面板的新的接触的位置。4.如权利要求1所述的位置检测方法，其特征在于，在所述步骤(c)中确定第二位置在所述预定区域外的情况下，所述步骤(d)确定失去接触。5.如权利要求1所述的位置检测方法，其特征在于，如果在所述步骤(a)中检测到多个第一位置，并且在所述步骤(c)中确定所述第二位置位于以所述第一位置为中心的预定区域外，则所述步骤(d)确定接触从离所述第二位置最近的一个第一位置移动到所述第二位置。6....

【专利技术属性】
技术研发人员：近藤幸一，中岛孝，清水信吉，羽山正伸，远藤孝夫，一川大辅，
申请(专利权)人：富士通电子零件有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP