液晶显示面板的检测方法技术

一种液晶显示面板的检测方法，首先提供一基板，接着在基板上形成多个面板，且每个面板具有多条第一导线与第二导线。第一导线与第二导线互相垂直并形成电性连接。随后，同时检测基板上的所有面板是否具有缺陷。

【技术实现步骤摘要】
液晶显示面板的检测方法
本专利技术关于一种液晶显示面板的检测方法，且更具体地，是关于一种具有改进检测方式的液晶显示面板检测方法。
技术介绍
液晶显示面板的制造过程，通常在一大型基板上，同时形成多个面板。当面板形成后，便对于每个面板逐一进行检测，以了解所制造的面板其功能是否正常。当检测完成后，便切割为个别的面板。图1绘示为现有技术在一大型玻璃基板上形成多个面板的配置图。玻璃基板10上具有四个相等尺寸的面板12，每个面板12中具有多条垂直的源极线14，与多条水平的闸极线16，这些源极线14与闸极线16的交点，则构成液晶显示面板12的图素数组。将玻璃基板10切割成为个别面板12之前，需对面板12进行检测，以得知每个面板12是否正常运作。检测的方式则是使用与面板12相同尺寸的一检测电路，检测电路具有多个探针，探针位置则分别对应于源极线14的源极垫13，以与闸极线16的闸极垫15。通过将检测电路的探针与面板的源极垫13与闸极垫15接触，检测个别的源极垫13或闸极垫15是否导通，便可得知每一源极线14或闸极线16是否得以正常运作。当检测电路完成一面板12的检测后，便移动至玻璃基板10上的其它面板12，逐一检测玻璃基板10上的所有面板12。例如图1中所示，玻璃基板10上具有四个面板12，则检测电路需通过机械手臂，分别移动至此四个面板12位置，逐一进行检测。然而，此种检测方式需耗费许多时间在检测电路的移动上，以将检测电路定位至需进行检测的面板位置。当基板上的面板数目越多时，所需耗费的检测时间也将随之增加。此外，若基板上所形成的面板具有不同尺寸时，所需的检测时间将更显著增加。因为，对于不同尺寸的面板，则需使用相对应大小的检测电路，故在检测过程中，需进一步地更换所使用的检-->测电路，而更增加检测所需的时间。图2为在玻璃基板20上具有不同尺寸面板的配置图。玻璃基板20上具有大尺寸的面板22a与小尺寸的面板22b。在进行检测时，便需分别使用与面板22a及面板22b尺寸相符的检测电路，分段进行检测，更换检测电路将进一步造成检测时间增加。若基板上具有数种不同尺寸的面板，则相对应地需具有多种不同尺寸的检测电路，也将造成检测成本的增加。因此，需要一种改进的液晶显示面板检测方法，得以减少检测电路移动时所耗费的时间，更快速地对基板的所有面板进行检测，且可适用于具有不同尺寸面板的基板，以缩短检测所需花费的时间。
技术实现思路
因此本专利技术的目的在于提供一种液晶显示面板的检测方法，得以同时检测基板上的所有面板，缩短检测时间。根据本专利技术的上述目的，提出一种液晶显示面板的检测方法。首先提供一基板；接着在基板上，形成多个面板，每个面板具有多条第一导线与第二导线；第一导线与第二导线互相垂直并形成电性连接；随后，同时检测基板上的所有面板是否具有缺陷。根据本专利技术的液晶显示面板检测方法，可同时检测多片具有相同或不同尺寸的面板，简化检测过程，减少移动检测电路所需的时间，缩短检测与制程时间，进而增进制造速度与产率，降低检测设备的成本。附图说明由以下本专利技术中较佳具体实施例的细节描述，可以对本专利技术的目的、观点及优点有更佳的了解。同时参考下列本专利技术的附图加以说明：图1为现有技术的液晶显示面板配置图。图2为现有技术的液晶显示面板配置图。图3为依照本专利技术的液晶显示面板检测流程图。图4为依照本专利技术一较佳具体实施例的液晶显示面板配置图。图5为依照本专利技术另一较佳具体实施例的液晶显示面板配置图。-->附图标记说明：10、20、40、50                      玻璃基板12、22a、22b                        面板42a、42b、42c、42d、52a、52b        面板13、43a、43b、43c、43d              源极垫14、44a、44b、44c、44d              源极线15、45a、45b、45c、45d              闸极垫16、46a、46b、46c、46d              闸极线47a、47b、47c、47d、57a、57b        电性连接302    步骤304    步骤306    步骤具体实施方式图3为根据本专利技术的液晶显示面板检测方法流程图。首先提供一基板(步骤302)。接着在基板例如玻璃基板上，形成多个面板，每一面板具有多条第一导线与第二导线，且第一导线与第二导线互相垂直并形成电性连接(步骤304)。随后，使用与所有面板尺寸总和相同的检测电路，同时检测这些面板是否具有缺陷(步骤306)。请参照图4，其为依照本专利技术一较佳具体实施例的液晶显示面板配置图。根据本专利技术的液晶显示面板检测方法，首先在玻璃基板40上形成四个尺寸相等的面板，分别为42a，42b，42c与42d。面板42a，42b，42c与42d中分别具有多条垂直的源极线44a，44b，44c与44d，以及多条水平的闸极线46a，46b，46c与46d。此外，每列闸极线46a，46b，46c与46d的左侧含有一闸极垫45a，45b，45c与45d，且每行源极线44a，44b，44c与44d的上方含有一源极垫43a，43b，43c与43d。在玻璃基板40上形成面板42a，42b，42c与42d后，接着便将每一面板中的闸极线，与水平相邻面板相对应的闸极线加以电性连接。例如，在面板42a中，闸极线46a分别与水平相邻面板42b的闸极垫45b形成电性连接47a。在面板42c中，闸极线46c分别与水平相邻面板42d的闸极垫-->45d形成电性连接47c。相似地，接着将每一面板的源极线，与垂直相邻面板相对应的源极线加以电性连接。例如，在面板42a中，源极线44a分别与垂直相邻面板42c的源极垫43c形成电性连接47b。在面板42b中，源极线44b分别与垂直相邻面板42d的源极垫43d形成电性连接47d。也就是，通过电性连接47a与47c，便可使水平相邻面板42a与42b，以及水平相邻面板42c与42d间的闸极线连接。同时，通过电性连接47b与47d，便可将垂直相邻面板42a与42c，以及垂直相邻面板42b与42d的源极线连接。随后当欲对于此四个面板进行检测时，只需使用尺寸等于此四个面板面积总和的检测电路，便可同时对于此四个面板进行检测。用于检测的检测电路，在垂直方向具有对应于闸极垫45a与45c数目总和与位置的检测接脚，且在水平方向具有对应于源极垫43a与43b数目总和与位置的检测接脚。当使用此一检测电路进行检测时，便可同时检测此四个面板的所有源极线与闸极线。若玻璃基板上形成非均等尺寸的面板，根据本专利技术的检测方法更可大幅缩减所需的检测时间。请参照图5，其为依照本专利技术另一较佳具体实施例的面板配置图。玻璃基板50上具有多个大型面板52a与小型面板52b。根据本专利技术的检测方法，无论是大型面板52a或小型面板52b，仅需使水平相邻面板的闸极线间形成电性连接57a，且在垂直相邻面板的源极线间形成电性连接57b，便可同时对玻璃基板50上不同尺寸的面板同时进行检测，而无须使用不同尺寸的检测电路。根据本专利技术的液晶显示面板检测方法，可同时检测多片具有相同或不同尺寸的面板，简化检测过程，减少移动检测电路所需的时间本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示面板的检测方法，该检测方法包含：提供一基板；在基板上形成多个面板，这些面板具有多条第一导线与多条第二导线且这些第一导线与第二导线互相垂直并形成电性连接；以及同时检测这些面板。

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示面板的检测方法，该检测方法包含：提供一基板；在基板上形成多个面板，这些面板具有多条第一导线与多条第二导线且这些第一导线与第二导线互相垂直并形成电性连接；以及同时检测这些面板。2.如权利要求1所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，所述的这些第一导线为多条源极线。3.如权利要求1所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，所述的这些第二导线为多条闸极线。4.如权利要求1所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，所述的基板为一玻璃基板。5.如权利要求1所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，所述的这...

【专利技术属性】
技术研发人员：余志隆，范家毓，
申请(专利权)人：中华映管股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]