一种老人机手机电路板按键功能测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种老人机手机电路板按键功能测试电路，包括单片机，还包括第一数控选通开关模块和第二数控选通开关模块；第1、2、3...N按键位的第一触点与第一数控选通开关模块的第1、2、3...N输入端对应连接；第1、2、3...N按键位的第二触点与第二数控选通开关模块的第1、2、3...N输入端对应连接；第一数控选通开关模块的输出端与第二数控选通开关模块的输出端相连接；第一数控选通开关模块和第二数控选通开关模块的数控选通端均与单片机的输出口相连接。本实用新型专利技术具有能够适应低成本要求并且测试效率高、测试准确率高的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种老人机手机电路板按键功能测试电路
本技术涉及一种手机电路板按键功能测试电路，具体是一种适用于老人机手机的手机电路板按键功能测试电路，属于测试仪器设计
。
技术介绍
手机(目前主要是采用按键板的老年手机)产品出厂前需要进行电路板按键功能测试，实际上对按键功能的测试目的是要测试电路扳上与按键相关的线路是否存在故障。 在现有技术中，特别是一些规模较小的老年手机生产制造厂家由于缺少功能完善、价格昂贵的手机测试系统，往往通过人工验证方式进行测试，具体情况是:通常单片机通过串口与手机进行连接，进入手机工程模式，使用相应的AT指令使得手机进入按键功能测试模式，在此模式下:手机屏幕会出现与按键键位数量相等，位置对应的彩色方格阵列；当某个按键按下(该按键对应的电路板上的按键位的两个触点短接连通)，如果该按键位对应的线路不存在故障，那么该按键对应的屏幕上的彩色方格便会消失；当所有的按键都被按下，如果所有按键位对应的线路都不存在故障，那么所有的彩色方各消失，手机会通过串口向单片机发送一条字符串，单片机收到字符串表示该手机电路板的按键位相关线路正常，不存在故障，电路板按键功能正常，当然如果所有按键都被按完后，彩色方格没有完全消失，单片机也没有收到表示按键位功能完全正常的字符串，那么该电路板的按键位相关线路即存在故障。需要特别指出的是在上述现有技术所采用的测试手段中，为了逐一验证按键位相关线路，需要依靠人工触按每一个按键，例如一台老人手机电路板上设置有15个按键位，那么每块电路板测试时就需要触按15次按键，这不仅浪费人力，而且由于操作工人长时间进行简单机械的测试工作，容易产生疲劳从而造成误按或者漏按。
技术实现思路
针对现有技术存在的上述不足，本技术的目的是:怎样提供一种能够适应低成本要求并且测试效率高、测试准确率高的老人机手机电路板按键功能测试电路。 为了实现上述目的，本技术采用了以下的技术方案。 一种老人机手机电路板按键功能测试电路，包括单片机，其特征在于，还包括第一数控选通开关模块和第二数控选通开关模块； 被测手机电路板上有N个按键位，每个按键位均具有第一触点和第二触点； 第一数控选通开关模块和第二数控选通开关模块的输入端口个数均为M个，其中M^N； 第1、2、3...N按键位的第一触点与第一数控选通开关模块的第1、2、3...N输入端对应连接； 第1、2、3...N按键位的第二触点与第二数控选通开关模块的第1、2、3...N输入端对应连接； 第一数控选通开关模块的输出端与第二数控选通开关模块的输出端相连接； 第一数控选通开关模块的数控选通端与单片机的输出口相连接； 第二数控选通开关模块的数控选通端与单片机的输出口相连接。 进一步步地，所述第一数控选通开关模块(2)和第二数控选通开关模块(3)均由至少一片⑶4051芯片所组成。 相比现有技术，本技术具有如下优点: 本技术采用两个输出端相连接的数控选通开关模块实现按键位的第一触点和第二触点的电连通，因此相比现有技术中采用人工触按实现按键位的第一触点和第二触点电连通的方式具有工作效率高的优点；本技术采用光检测电路摸组对按键板背光灯灯光进行检测，相比现有技术中通过人工肉眼观察的方式相比具有工作效率高、测试准确度高的优点。 【附图说明】 图1为本技术的原理框图； 图2为16通道数控选通开关模块的示意图； 【具体实施方式】 下面结合附图和【具体实施方式】对本技术作进一步详细说明。 如图1所示，一种老人机手机电路板按键功能测试电路，包括单片机I，还包括第一数控选通开关模块2和第二数控选通开关模块3 ; 被测手机电路板上有N个按键位，每个按键位均具有第一触点和第二触点，手机实际使用时，当按键被按下后，第一触点和和第二触点便被短接连通。 第一数控选通开关模块2和第二数控选通开关模块3的输入端口个数均为M个，其中M多N，例如常见的老年手机共有15个按键，电路板上有对应的15个按键位，那么第一数控选通开关模块2和第二数控选通开关模块3的输入端口个数需大于15，比如16个即可满足需要。 第一数控选通开关模块2和第二数控选通开关模块3的功能是从其多路输入中选出一路输入连接至输出端，选择哪一路输入由数控选通端输入的二进制数码决定。 第1、2、3...N按键位的第一触点与第一数控选通开关模块2的第1、2、3...N输入端对应连接； 第1、2、3...N按键位的第二触点与第二数控选通开关模块3的第1、2、3...N输入端对应连接； 第一数控选通开关模块2的输出端与第二数控选通开关模块(3)的输出端相连接; 第一数控选通开关模块2的数控选通端与单片机I的输出口相连接； 第二数控选通开关模块3的数控选通端与单片机I的输出口相连接。 其中第一数控选通开关模块2和第二数控选通开关模块3均由至少一片⑶4051芯片所组成。 ⑶4051是单8通道数字控制模拟电子开关，有A、B和C三个二进制数控选通端，CD4051具有低导通阻抗和很低的截止漏电流。幅值为4.5?20V的数字信号可控制峰峰值至20V的模拟信号三位二进制信号可以选通8通道中的一个通道，连接该输入端至输出。当按键位的数量为15个时候，如图2所示，可以将两片CD4051进行级连，具体的两片CD4051的输出端相连接作为总输出端，则两片CD4051具有16个输入通道，控制两片CD4051的数控选通端可从16个输入通道中单独选通任何一个通道，其中两片CD4051的数控选通端为三位信号，分别是S2、SI和S0。 本技术工作过程如下: 单片机I通过串口与手机进行连接，进入手机工程模式，使用相应的AT指令使得手机进入按键功能测试模式，在此模式下:手机屏幕会出现与按键键位数量相等，位置对应的彩色方格阵列； 单片机I通过向第一数控选通开关模块2和第二数控选通开关模块3的数控选通端发送相同的选通信号使得第一数控选通开关模块2和第二数控选通开关模块3序号相同的输入端信号短接。比如:单片机I通过向第一数控选通开关模块2和第二数控选通开关模块3发送选通信号000000，则选中第一数控选通开关模块2的第一输入端，第一数控选通开关模块2的第I输入端便被连接到第一数控选通模块2的输出端；同时第二数控选通开关模块3的第I输入端也被连接到第一数控选通模块2的输出端；由于第一数控选通开关模块2和第二数控选通开关模块3的输出端是相互连接的，因此实际上第一数控选通开关模块2的第I输入端与第二数控选通开关模块3的第I输入端也实现了相互连接；而第一数控选通开关模块2的第I输入端与第二数控选通开关模块3的第I输入端又是分别与第I按键位的第一触点和第二触点相互连接的，因此综上所述，单片机I通过向第一数控选通开关模块2和第二数控选通开关模块3发送选通信号000001实际上实现了第I按键位的第一触点和第二触点的相互短接(这就代替了传统检测方式中所使用的通过人工按压按键来使得按键的两个按键位短接的方式)，剩余14个按键的按键位触点短接的方式和上述描述相同，单片机分别发送选通信号000001、000010、000011、000100、000101、000本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种老人机手机电路板按键功能测试电路，包括单片机(1)，其特征在于，还包括第一数控选通开关模块(2)和第二数控选通开关模块(3)；被测手机电路板上有N个按键位，每个按键位均具有第一触点和第二触点；第一数控选通开关模块(2)和第二数控选通开关模块(3)的输入端口个数均为M个，其中M≥N；第1、2、3...N按键位的第一触点与第一数控选通开关模块(2)的第1、2、3...N输入端对应连接；第1、2、3...N按键位的第二触点与第二数控选通开关模块(3)的第1、2、3...N输入端对应连接；第一数控选通开关模块(2)的输出端与第二数控选通开关模块(3)的输出端相连接；第一数控选通开关模块(2)的数控选通端与单片机(1)的输出口相连接；第二数控选通开关模块(3)的数控选通端与单片机(1)的输出口相连接。

【技术特征摘要】
1.一种老人机手机电路板按键功能测试电路，包括单片机(I)，其特征在于，还包括第一数控选通开关模块(2)和第二数控选通开关模块(3); 被测手机电路板上有N个按键位，每个按键位均具有第一触点和第二触点； 第一数控选通开关模块(2)和第二数控选通开关模块(3)的输入端口个数均为M个，其中M彡N ; 第1、2、3...N按键位的第一触点与第一数控选通开关模块(2)的第1、2、3...N输入端对应连接； 第1、2、3...N按键位的第二触点与第...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑和，梁卫华，王二，况君，林稳章，刘修军，
申请(专利权)人：重庆电讯职业学院，
类型：新型
国别省市：重庆;85