本实用新型专利技术提供了一种测试探针，该测试探针包括探针本体、弹性件和探针头，其中探针本体沿其轴向设置有通腔，探针本体的内壁设置有第一支撑部，第一支撑部将通腔分隔成分别与探针本体的两端连通的第一容置腔和第二容置腔，第一容置腔用于接收金手指，弹性件设置于第二容置腔内且弹性件的一端支撑于第一支撑部上，探针头部分设置于第二容置腔内，且支撑于性件的另一端上。通过以上公开内容，本实用新型专利技术可解决目前的探针组装比较困难，对通孔的加工要求较高，且上电不稳定的技术问题。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提供了一种测试探针，该测试探针包括探针本体、弹性件和探针头，其中探针本体沿其轴向设置有通腔，探针本体的内壁设置有第一支撑部，第一支撑部将通腔分隔成分别与探针本体的两端连通的第一容置腔和第二容置腔，第一容置腔用于接收金手指，弹性件设置于第二容置腔内且弹性件的一端支撑于第一支撑部上，探针头部分设置于第二容置腔内，且支撑于性件的另一端上。通过以上公开内容，本技术可解决目前的探针组装比较困难，对通孔的加工要求较高，且上电不稳定的技术问题。【专利说明】一种测试探针
本技术涉及电子测控
，特别是涉及一种测试探针。
技术介绍
在生产印刷电路板的过程中需要对印刷电路板进行电性测试，以判断印刷电路板各组件的电性参数(例如阻值、容值或感抗等)是否合乎标准。 常见的印刷电路板的测试方式是在印刷电路板上设置测试点，将锡膏印刷于测试点表面，通过自动化测试设备或在线测试设备，以探针直接接触测试点的锡膏部位以取得相关的电性参数。 目前的在线测试设备中的探针组装比较困难，对通孔的加工要求较高，且上电不稳定。
技术实现思路
有鉴于此，本技术实施例提供了一种测试探针，以解决上述技术问题。 本技术提供一种测试探针，测试探针包括探针本体、弹性件和探针头，其中探针本体沿其轴向设置有通腔，探针本体的内壁设置有第一支撑部，第一支撑部将通腔分隔成分别与探针本体的两端连通的第一容置腔和第二容置腔，第一容置腔用于接收金手指，弹性件设置于第二容置腔内且弹性件的一端支撑于第一支撑部上，探针头部分设置于第二容置腔内，且支撑于弹性件的另一端上。 其中，第一容置腔内设置有向内挤压探针本体而形成的至少两个凸部，至少两个凸部用于夹持固定金手指。 其中，探针头在沿其轴向的推力作用下可使得弹性件收缩，从而令测试探针的长度缩短。 其中，第一支撑部为向内挤压探针本体而形成的第一凸缘或形成于探针本体的内壁上的阶梯结构。 其中，探针头包括针杆以及设置于针杆一端的针柄，其中针柄的截面尺寸大于针杆的截面尺寸，针柄设置于第二容置腔内，探针本体的内壁设置有第二支撑部，第二支撑部用于将针柄限定在第二容置腔内。 其中，第二支撑部为向内挤压探针本体而形成的第二凸缘。 其中，弹性件为金属弹簧。 其中，第一容置腔的轴向长度设置为小于金手指的插入长度，使得金手指的一端插入第二容置腔并与第二容置腔内的金属弹簧接触。 其中，金手指包括对端连接的插入部和固定部，固定部的截面尺寸大于插入部的截面尺寸，进而在插入部与固定部的连接处形成阶梯面，探针本体的一端支撑于阶梯面上。 通过上述技术方案，本技术实施例提供了一种测试探针，通过探针本体的第一容置腔接收金手指，进而与金手指进行接插配合，，从而以解决目前的探针组装比较困难，对通孔的加工要求较高，且上电不稳定的技术问题。 【专利附图】【附图说明】 为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。 图1是本技术一种测试探针实施例的立体示意图； 图2是本技术一种测试探针实施例的剖视图； 图3是本技术一种测试探针组件实施例在组装完成前的立体示意图； 图4是本技术一种测试探针组件实施例在组装完成前的剖视图； 图5是本技术一种测试探针组件实施例在组装完成后的立体示意图； 图6是本技术一种测试探针组件实施例在组装完成后的剖视图； 图7是本技术一种测试探针组件实施例在探针头受力压缩后的立体示意图； 图8是本技术一种测试探针组件实施例在探针头受力压缩后的剖视图； 图9是本技术一种测试探针组件实施例的分解示意图； 图10是本技术一种测试平台第一实施例的结构示意图；以及 图11是本技术一种测试平台第二实施例的结构示意图。 【具体实施方式】 为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。 本技术实施例提供一种测试探针，以下请一并参见图1和图2，其中图1是本技术一种测试探针实施例的立体示意图，图2是本技术一种测试探针实施例的剖视图。 如图1和图2所示，在本技术测试探针实施例中，测试探针30包括探针本体301、弹性件302和探针头303，其中探针本体301的一端为中空设计，进而与金手指40 (于下文会详细介绍)进行接插配合。 具体可参见图2，探针本体301沿其轴向设置有通腔，探针本体301的内壁设置有第一支撑部304，第一支撑部304将通腔分隔成分别与探针本体301的两端连通的第一容置腔305和第二容置腔306，第一容置腔305用于接收金手指40，弹性件302设置于第二容置腔306内且弹性件302的一端支撑于第一支撑部304上，探针头303部分设置于第二容置腔306内，且支撑于弹性件302的另一端上。 探针头303具体包括针杆3031以及设置于针杆3031 —端的针柄3032，其中针柄3032的截面尺寸大于针杆3031的截面尺寸，针柄3032设置于第二容置腔306内，探针本体301的内壁设置有第二支撑部308，第二支撑部308用于将针柄3032限定在第二容置腔306 内。 因此，探针头303的针柄3032及弹性件302被限位于第二容置腔306内，在针杆3031的另一端受到沿探针本体301轴向且向探针头303的针柄3032方向的压力的作用时，弹性件302收缩，使得探针头303向第一支撑部304运动，从而令测试探针30的长度缩短，同时由于弹性件302具有弹性，因此针杆3031的另一端会与施加压力的物件紧密抵靠。 以下请进一步参见图3至图6，图3是本技术一种测试探针组件实施例在组装完成前的立体示意图，图4是本技术一种测试探针组件实施例在组装完成前的剖视图，图5是本技术一种测试探针组件实施例在组装完成后的立体示意图，图6是本技术一种测试探针组件实施例在组装完成后的剖视图。 如图3和图4所示，在测试探针组件实施例中，测试探针组件包括图1和图2所揭示的测试探针30和金手指40，金手指40包括对端连接的插入部401和固定部402，固定部402的截面尺寸大于插入部401的截面尺寸，进而在插入部401与固定部402的连接处形成阶梯面403，探针本体301的第一容置腔305可沿图3和图4中箭头所示方向与金手指40的插入部401进行插接，且在插接后，阶梯面403可与探针本体301的一端抵靠。 如图5和图6所示，测试探针30插接于金手指40的插入部401以完成组装后，探针本体301的一端支撑于阶梯面403上，由于金手指40的固定部402固定于电路板，因此，阶梯面403可顶抵探针本体30本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试探针，其特征在于，所述测试探针包括探针本体、弹性件和探针头，其中所述探针本体沿其轴向设置有通腔，所述探针本体的内壁设置有第一支撑部，所述第一支撑部将所述通腔分隔成分别与所述探针本体的两端连通的第一容置腔和第二容置腔，金手指插入所述第一容置腔，所述弹性件设置于所述第二容置腔内且所述弹性件的一端支撑于所述第一支撑部上，所述探针头部分设置于所述第二容置腔内，且支撑于所述弹性件的另一端上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：聂林红，
申请(专利权)人：深圳市策维科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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