本实用新型专利技术涉及粉体材料红外发射率测试装置，该装置包括测量单元、控温仪表、加热体、功率调节器和数据分析及显示单元，其特征在于所述测量单元包括样品室、下传热板、上吸热板、保温护套、样品上表面温度传感器和样品下表面温度传感器；所述样品室为上吸热板、下传热板和保温护套所围成的圆柱形腔室，所述保温护套由上至下将上吸热板、下传热板完全包裹，且保温护套包括内层保温护套和外层保温护套，所述内层保温护套为两端开口的圆筒，所述外层保温护套为顶端封闭下端开口的圆筒；所述上吸热板和下传热板均采用具有良好导热性能的材料制成，所述上吸热板和下传热板的纵截面分别呈倒“T”和正“T”字形。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及粉体材料红外发射率测试装置，该装置包括测量单元、控温仪表、加热体、功率调节器和数据分析及显示单元，其特征在于所述测量单元包括样品室、下传热板、上吸热板、保温护套、样品上表面温度传感器和样品下表面温度传感器；所述样品室为上吸热板、下传热板和保温护套所围成的圆柱形腔室，所述保温护套由上至下将上吸热板、下传热板完全包裹，且保温护套包括内层保温护套和外层保温护套，所述内层保温护套为两端开口的圆筒，所述外层保温护套为顶端封闭下端开口的圆筒；所述上吸热板和下传热板均采用具有良好导热性能的材料制成，所述上吸热板和下传热板的纵截面分别呈倒“T”和正“T”字形。【专利说明】粉体材料红外发射率测试装置
本技术涉及材料红外发射性能测量
，具体地说是一种粉体材料红外发射率测试装置。
技术介绍
红外发射率是表征物体热辐射特性的重要参数之一，随着科学技术的发展，粉体材料的红外发射性能在环境保护、生物保健、工业水处理、饮用水处理、燃油燃气活化及室内空气环境净化等领域具有广泛的应用。红外发射率以往其测量方法均采用量热法、反射计法、辐射能量法和多波长测量法等。如在中国专利201010031343.6公开的粉体材料红外发射率的测试装置及其测试方法中，其装置结构是由恒温加热、温度测量和样品承载装置三部分构成，样品承载装置由长宽大小正好放在加热板上的铁制品槽构成，由于采用铁质材料造成热传递难以达到平衡，导致了热对流的产生；再如专利申请号为201120344045.2的测试矿物材料红外发射性能的装置，其由“温度控制仪、微处理器、两个红外检测器、样品台上盖、样品台外壳、恒温样品台、加热体、控温温度传感器和检测温度传感器”构成，基于采用红外检测器与检测温度传感器测试不同物质的温度，因而导致测试结果存在较大偏差，影响测试结果的准确性。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术拟解决的技术问题是:提供一种粉体材料红外发射率测试装置。该测试装置具有良好的保温效果，测试过程热量传输损失最小，粉体试样受热均匀，系统在较短的时间内即可达到热平衡，同时实现了粉体材料红外发射率的快速准确的测试。 本技术解决所述技术问题所采用的技术方案是:提供一种粉体材料红外发射率测试装置，该装置包括测量单元、控温仪表、加热体、功率调节器和数据分析及显示单元，其特征在于所述测量单元包括样品室、下传热板、上吸热板、保温护套、样品上表面温度传感器和样品下表面温度传感器；所述样品室为上吸热板、下传热板和保温护套所围成的圆柱形腔室，所述保温护套由上至下将上吸热板、下传热板完全包裹，且保温护套包括内层保温护套和外层保温护套，所述内层保温护套为两端开口的圆筒，所述外层保温护套为顶端封闭下端开口的圆筒；所述上吸热板和下传热板均采用具有良好导热性能的材料制成，所述上吸热板和下传热板的纵截面分别呈倒“T”和正“T”字形，上吸热板和下传热板均由直径不等的两个圆柱构成，包括大圆柱和小圆柱，大圆柱和小圆柱的直径之比为1.2-2.0 ;上吸热板与下传热板的大圆柱的直径及高度均相等，上吸热板与下传热板的小圆柱的直径相等，但高度不等，且上吸热板与下传热板的小圆柱高度之比为0.5-1.0 ;所述样品室的直径与上吸热板的大圆柱直径相等；所述上吸热板和下传热板的同侧设有安装孔，样品上表面温度传感器和样品下表面温度传感器分别穿过上吸热板和下传热板的安装孔分别与样品的上、下表面接触。 与现有技术相比，本技术采用具有良好导热性的黄铜材料制成的上吸热板、下传热板，样品上、下表面温度传感器同侧对应安装以及采用双层保温护套结构，使具有良好导热性的上吸热板、下传热板热量传输损失最小，粉体试样受热均匀，系统在最短的时间内达到稳态，实现粉体材料红外发射率的快速、准确测试。采用本技术测试待测试样时，测试时间缩短，仅为15min，其相对误差平均值为0.156%，同时该测试装置具有价格较低、结构简单、测试过程易操作等特点，满足了市场及技术人员的需求。 【专利附图】【附图说明】 图1为本技术粉体材料红外发射率测试装置一种实施例的结构示意图； 图2为本技术粉体材料红外发射率测试装置一种实施例测量单元I的结构示意图； 图中，1.测量单元、2.控温仪表、3.加热体、4.功率调节器、5.数据分析及显示单兀，101.上吸热板、102.样品室、103.下传热板、104.样品上表面温度传感器、105.样品下表面温度传感器、106.保温护套、1061.内层保温护套、1062.外层保温护套。 【具体实施方式】 下面结合实施例及附图对本技术作进一步说明。 本技术粉体材料红外发射率测试装置(简称测试装置，参见图1-2)包括测量单元1、控温仪表2、加热体3、功率调节器4和数据分析及显示单元5，其特征在于所述测量单元I包括样品室102、下传热板103、上吸热板101、保温护套106、样品上表面温度传感器104和样品下表面温度传感器105 ;所述样品室102为上吸热板101、下传热板103和保温护套106所围成的圆柱形腔室，所述保温护套106由上至下将上吸热板101、下传热板103完全包裹，且保温护套106包括内层保温护套1061和外层保温护套1062，所述内层保温护套1061为两端开口的圆筒，所述外层保温护套1062为顶端封闭下端开口的圆筒；所述上吸热板101和下传热板103均采用具有良好导热性能的材料制成，所述上吸热板101和下传热板103的纵截面分别呈倒“T”和正“T”字形，上吸热板101和下传热板103均由直径不等的两个圆柱构成，包括大圆柱和小圆柱，大圆柱和小圆柱的直径之比为1.2-2.0 ;上吸热板101与下传热板103的大圆柱的直径及高度均相等，上吸热板101与下传热板103的小圆柱的直径相等，但高度不等，且上吸热板101与下传热板103的小圆柱高度之比为0.5-1.0 ；所述样品室102的直径与上吸热板101的大圆柱直径相等；所述上吸热板101和下传热板103的同侧设有安装孔，样品上表面温度传感器104和样品下表面温度传感器105分别穿过上吸热板101和下传热板103的安装孔分别与样品的上、下表面接触。 在图1所示的实施例中，测量单元I采用数据线分别与控温仪表2、数据分析及显示单元5相连接，控温仪表2也采用数据线与数据分析及显示单元5相连接，功率调节器4一端与控温仪表2相连,另一端与加热体3相连,所述加热体3位于下传热板103底部,控温仪表2控制功率调节器4通过加热体3为测量单元I提供加热源。 图2所示实施例表明，在虚线框内所示的本技术的样品室102为由上吸热板101、下传热板103以及保温护套106围成的圆柱形腔室，样品上表面温度传感器104、样品下表面温度传感器105分别穿过上吸热板101、下传热板103与样品上、下表面接触，两传感器的安装孔位于上吸热板101、下传热板103同侧，保温护套106由上至下将上吸热板101、下传热板103完全包裹。 本技术的进一步特征在于所述上吸热板101与下传热板103的大圆柱直径为30-50mm、高度为上吸热板101与下传热板103的小圆柱直径为20-40mm,上吸热板本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种粉体材料红外发射率测试装置，该装置包括测量单元、控温仪表、加热体、功率调节器和数据分析及显示单元，其特征在于所述测量单元包括样品室、下传热板、上吸热板、保温护套、样品上表面温度传感器和样品下表面温度传感器；所述样品室为上吸热板、下传热板和保温护套所围成的圆柱形腔室，所述保温护套由上至下将上吸热板、下传热板完全包裹，且保温护套包括内层保温护套和外层保温护套，所述内层保温护套为两端开口的圆筒，所述外层保温护套为顶端封闭下端开口的圆筒；所述上吸热板和下传热板均采用具有良好导热性能的材料制成，所述上吸热板和下传热板的纵截面分别呈倒“T”和正“T”字形，上吸热板和下传热板均由直径不等的两个圆柱构成，包括大圆柱和小圆柱，大圆柱和小圆柱的直径之比为1.2‑2；上吸热板与下传热板的大圆柱的直径及高度均相等，上吸热板与下传热板的小圆柱的直径相等，但高度不等，且上吸热板与下传热板的小圆柱高度之比为0.5‑1.0；所述样品室的直径与上吸热板的大圆柱直径相等；所述上吸热板和下传热板的同侧设有安装孔，样品上表面温度传感器和样品下表面温度传感器分别穿过上吸热板和下传热板的安装孔分别与样品的上、下表面接触。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王猛，丁燕，刘承喆，刘奇，常平平，
申请(专利权)人：河北工业大学，
类型：新型
国别省市：天津;12
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