【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体领域,尤其涉及一种氮化镓器件的加工方法和氮化镓器件。
技术介绍
目前,国际半导体产业已经进入以氮化镓(GaN)材料、碳化硅(SIC)材料和金刚石等为代表的第三代宽禁带半导体时代。氮化镓材料具有宽的直接带隙,强的原子键、高的热导率、化学稳定性好等性质和强的抗辐照能力,在光电子、高温大功率器件和高频微波器件应用方面有着广阔的前景。绝大部分氮化镓器件的制作工艺为:在衬底材料上外延生长成氮化铝晶核(AlN nucleation),在成核层上生长氮化镓外延,在氮化镓外延生长氮化镓层,然后在氮化镓层上生长一层硅搀杂的氮化铝镓(AlGaN),在氮化铝镓和氮化镓的沟道之间形成二维电子气和异质结沟道,最后用一薄的钝化层保护二维电子气和异质结沟道的表面。在制作以氮化镓材料为基础的二极管、晶体管和光探测器等氮化镓器件的过程中,需要对氮化镓器件进行刻蚀。刻蚀技术一般分为:湿法刻蚀技术和干法刻蚀技术。湿法刻蚀利用通过化学溶液的化学反应将不需要的薄膜去 ...
【技术保护点】
一种氮化镓器件的加工方法,其特征在于,该方法包括:在所述氮化镓器件的表面垫积一层氧化层,所述氧化层的材质为电绝缘材质;对所述氧化层进行刻蚀,以保留所述氮化镓器件的台阶的侧壁上的氧化层、并去除掉所述台阶的侧壁之外的其他部分的氧化层。
【技术特征摘要】
1.一种氮化镓器件的加工方法,其特征在于,该方法包括:
在所述氮化镓器件的表面垫积一层氧化层,所述氧化层的材质为电绝缘材
质;
对所述氧化层进行刻蚀,以保留所述氮化镓器件的台阶的侧壁上的氧化
层、并去除掉所述台阶的侧壁之外的其他部分的氧化层。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在对所述氧化层进行刻蚀,
以保留所述氮化镓器件的台阶的侧壁上的氧化层、并去除掉所述台阶的侧壁之
外的其他部分的氧化层之后,进一步包括:
在所述氮化镓器件的表面垫积一层金属层;
对所述金属层进行刻蚀,以保留所述台阶的左右两侧的金属层、并去除掉
所述台阶的前后两侧的金属层,将所述台阶的左右两侧中一侧的金属层作为所
述氮化镓器件的源极、另一侧的金属层作为所述氮化镓器件的漏极。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在对所述金属层进行刻蚀,
以保留所述台阶的左右两侧的金属层,并去除所述台阶的前后...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈建国,张枫,刘蓬,谢春诚,
申请(专利权)人:北大方正集团有限公司,深圳方正微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:北京;11
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