热敏电阻变换器测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种热敏变换器测试设备。该设备包括供电电源、产品选择开关、多个公连接器、多个母连接器、测试电阻选择开关、测试电阻和产品测试开关。由于本实用新型专利技术通过设置产品选择开关、产品开关和测试电阻选择开关，通过测试电阻选择开关将不同的负载接入测试回路，通过产品选择开关可以选择不同的被测热敏电阻变换器，所以，本实用新型专利技术能够连续对多个被测热敏电阻变换器进行检测，测试工作效率高，而且，在测试时，只需要闭合产品选择开关和测试电阻选择开关即可获得不同的负载情况，所以，操作简单。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开一种热敏变换器测试设备。该设备包括供电电源、产品选择开关、多个公连接器、多个母连接器、测试电阻选择开关、测试电阻和产品测试开关。由于本技术通过设置产品选择开关、产品开关和测试电阻选择开关，通过测试电阻选择开关将不同的负载接入测试回路，通过产品选择开关可以选择不同的被测热敏电阻变换器，所以，本技术能够连续对多个被测热敏电阻变换器进行检测，测试工作效率高，而且，在测试时，只需要闭合产品选择开关和测试电阻选择开关即可获得不同的负载情况，所以，操作简单。【专利说明】热敏电阻变换器测试设备
本技术涉及热敏电阻变换器测试设备，尤其涉及一种可同时测试多台产品的热敏电阻变换器测试设备。
技术介绍
目前热敏电阻变换器进行电气性能测试通过外加电源进行产品供电、外接电阻和外部万用表分别测试不同负载下的电气性能，工作效率低，操作复杂。
技术实现思路
本技术解决的问题是现有的热敏电阻变换器测试工作效率低和操作复杂的问题。为解决上述问题，本技术提供一种热敏电阻变换器测试设备，该设备包括供电电源、产品选择开关、多个公连接器、多个母连接器、测试电阻选择开关、测试电阻和产品测试开关，其中，所述产品选择开关为单刀多位开关，该产品开关的公共端连接供电电源，该产品选择开关的接线端的数量与被测热敏电阻变换器数量相等；所述公连接器的数量与被测热敏电阻变换器的数量相等，一个公连接器的输入端连接产品选择开关的一个接线端；所述母连接器的数量与被测热敏电阻变换器的数量相等，所有的母连接器的输出端连接于测试电阻选择开关的公共端；所述测试电阻选择开关为单刀五位开关，其每个接线端连接一个测试电阻的第一端，该五个测试电阻的阻值互不相同且第二端短接在一起；所述产品测试开关包括与被测热敏电阻变换器数量相等的三刀八位开关，所述每个三刀八位开关包括三组开关，第一组开关的公共端短接且接线端连接公连接器的输入端，第二组开关的公共端短接于测试电阻的第二端，第三组开关的公共端短接于测试电阻的第二端，第二组开关的接线端和第三组开关的接线端分别对应与母连接器的输出端相连接。在一种具体方案中，所述产品选择开关为单刀八位开关，所述三刀八位开关和被测热敏电阻变换器均有八个。与现有技术相比，本技术具有以下优点:由于本技术通过设置产品选择开关、产品开关和测试电阻选择开关，通过测试电阻选择开关将不同的负载接入测试回路，通过产品选择开关可以选择不同的被测热敏电阻变换器，所以，本专利技术能够连续对多个被测热敏电阻变换器进行检测，测试工作效率高，而且，在测试时，只需要闭合产品选择开关和测试电阻选择开关即可获得不同的负载情况，所以，操作简单。【专利附图】【附图说明】图1是本技术热敏电阻变换器测试设备的原理框图；图2是一个热敏电阻变换器、一个公连接器中和一个母连接器之间的连接示意图；图3是一个热敏电阻变换器中一个热敏电阻导通测试时的原理图。【具体实施方式】为详细说明本技术的
技术实现思路
、构造特征、所达成目的及功效，下面将结合实施例并配合附图予以详细说明。请参阅图1至图3，本技术热敏电阻变换器测试设备包括供电电源1、产品选择开关2、多个公连接器XB、多个母连接器XA、测试电阻选择开关3、测试电阻4和产品测试开关5。所述产品选择开关2为单刀多位开关，该产品开关的公共端连接供电电源1，该产品选择开关的2接线端的数量与被测热敏电阻变换器数量相等。在本实施方式中，被测热敏电阻变换器有8个，所以，产品选择开关2是单刀八位开关。所述公连接器XB的数量与被测热敏电阻变换器的数量相等，一个公连接器的输入端连接产品选择开关2的一个接线端，在本实施方式中，公连接器有8个。所述母连接器XA的数量与被测热敏电阻变换器的数量相等，所有的母连接器XA的输出端连接于测试电阻选择开关3的公共端。一个公连接器XB的输出端和一个母连接器的输入端分别连接于一个热敏电阻变换器，由此，在后续测试中将一个热敏电阻变换器接入测试回路，如图2所示。所述测试电阻选择开关3为单刀五位开关，其每个接线端连接一个测试电阻。五个测试电阻的阻值互不相同。所述产品测试开关5包括与被测热敏电阻变换器数量相等的三刀八位开关51。所述每个三刀八位开关包括三组开关，第一组开关的公共端短接且接线端连接一个公连接器XB的输入端，第二组开关的公共端短接，第三组开关的公共端短接，第二组开关的接线端和第三组开关的接线端分别对应与母连接器XA的输出端相连接。请参阅图1至图3，在对每个热敏电阻变换器的热敏电阻两端的电压进行测试时，将产品选择开关和产品开关闭合而选中一个被测热敏电阻变换器，在闭合不同的测试电阻选择开关而将不同的测试电阻接入测试回路，在此种情况下，供电电源向测试回路供电，然后，将电压表连接于图1所示的测试点I和测试点2进行测试。由于通过测试电阻选择开关将不同的测试电阻接入回路，所以，能够测试热敏电阻变换器在不同负载情况下其热敏电阻两端的电压。请参阅图1至图3，在对每个热敏电阻变换器的热敏电阻的阻值进行测试时，断开所述产品选择开关，将图1所示的测试点I和测试点2分别接上香蕉插头，用外用表连接该测试点I和测试点2上的香蕉插头而测试出热敏电阻的阻值。【权利要求】1.热敏电阻变换器测试设备，其特征是:该设备包括供电电源、产品选择开关、多个公连接器、多个母连接器、测试电阻选择开关、测试电阻和产品测试开关，其中， 所述产品选择开关为单刀多位开关，该产品开关的公共端连接供电电源，该产品选择开关的接线端的数量与被测热敏电阻变换器数量相等； 所述公连接器的数量与被测热敏电阻变换器的数量相等，一个公连接器的输入端连接产品选择开关的一个接线端； 所述母连接器的数量与被测热敏电阻变换器的数量相等，所有的母连接器的输出端连接于测试电阻选择开关的公共端； 所述测试电阻选择开关为单刀五位开关，其每个接线端连接一个测试电阻的第一端，该五个测试电阻的阻值互不相同且第二端短接在一起； 所述产品测试开关包括与被测热敏电阻变换器数量相等的三刀八位开关，所述每个三刀八位开关包括三组开关，第一组开关的公共端短接且接线端连接公连接器的输入端，第二组开关的公共端短接于测试电阻的第二端，第三组开关的公共端短接于测试电阻的第二端，第二组开关的接线端和第三组开关的接线端分别对应与母连接器的输出端相连接。2.如权利要求1所述的热敏电阻变换器测试设备，其特征是:所述产品选择开关为单刀八位开关，所述三刀八位开关和被测热敏电阻变换器均有八个。【文档编号】G01R31/00GK203616410SQ201320808115【公开日】2014年5月28日 申请日期:2013年12月10日 优先权日:2013年12月10日 【专利技术者】时云, 田海林 申请人:上海航天设备制造总厂本文档来自技高网...

【技术保护点】
热敏电阻变换器测试设备，其特征是：该设备包括供电电源、产品选择开关、多个公连接器、多个母连接器、测试电阻选择开关、测试电阻和产品测试开关，其中，所述产品选择开关为单刀多位开关，该产品开关的公共端连接供电电源，该产品选择开关的接线端的数量与被测热敏电阻变换器数量相等；所述公连接器的数量与被测热敏电阻变换器的数量相等，一个公连接器的输入端连接产品选择开关的一个接线端；所述母连接器的数量与被测热敏电阻变换器的数量相等，所有的母连接器的输出端连接于测试电阻选择开关的公共端；所述测试电阻选择开关为单刀五位开关，其每个接线端连接一个测试电阻的第一端，该五个测试电阻的阻值互不相同且第二端短接在一起；所述产品测试开关包括与被测热敏电阻变换器数量相等的三刀八位开关，所述每个三刀八位开关包括三组开关，第一组开关的公共端短接且接线端连接公连接器的输入端，第二组开关的公共端短接于测试电阻的第二端，第三组开关的公共端短接于测试电阻的第二端，第二组开关的接线端和第三组开关的接线端分别对应与母连接器的输出端相连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：时云，田海林，
申请(专利权)人：上海航天设备制造总厂，
类型：实用新型
国别省市：