本发明提供一种支持单路供电的UFS存储设备及其控制方法，该设备包括控制器芯片以及闪存芯片，控制器芯片接入单路外部电源，控制器芯片内置有降压电路、升压电路、低压模块、超低压模块以及物理层接口，降压电路具有输入电源PAD和输出电源PAD，使...

本发明公开了一种用于获取

本申请实施例提供了一种终端的测试架和终端测试台，测试架包括放置部，包括多个隔板和至少一个放置板，多个所述隔板设置于所述放置板上，相邻两个所述隔板之间形成用于放置终端的放置空间；至少一个立板，设置于所述放置板的边缘上。通过设置放置板、隔板...

本发明公开了一种芯片的可视化测试方法

本发明公开了一种固态硬盘功耗测试方法

本发明实施例提供了一种对UFS最大性能的测试方法、控制器、系统和介质，该测试方法，包括获取测试模式启动请求，然后根据测试模式启动请求进入Android系统的recovery模式，在recovery模式下挂载的是虚拟内存盘ramdisk文...

本发明实施例提供了一种eMMC老化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。方法包括：获取eMMC测试环境信息，其中，eMMC测试环境信息包括环境属性信息；根据环境属性信息确定芯片测试性能参数；根据芯片测试性能参数对eMMC芯片进行...

本发明公开了一种基于EMMC的性能测试方法、装置及其存储介质，所述方法包括以下步骤：读取存储芯片的总线宽度和测试文件的大小，分配存储芯片的单次传送文件大小以及测试次数；根据单次传送文件大小和测试次数，对存储芯片进行顺序读写操作，并记录顺...

本发明公开了一种基于偏移读电压的闪存颗粒分级方法、控制器及介质，方法包括获取闪存颗粒在多个测试场景下的测试数据，根据测试数据得到两组偏移读电压参数组，根据当前场景对应两组偏移读电压参数组对闪存颗粒进行读取处理，并根据读取结果将多个块标记...

本发明公开了一种闪存阈值电压分布的描述方法、系统、电子设备和存储介质，涉及存储产品技术领域。闪存阈值电压分布的描述方法包括以下步骤：获取闪存的存储页的原始数据；以具有不同偏移量的多个读电压读取闪存的存储页，得到每个读电压对应的偏移数据；...

本发明公开了一种存储芯片随机磨损测试方法、装置及其存储介质，所述方法包括以下步骤：读取存储芯片的标识符，并根据标识符分配存储芯片的测试存储块；按照不同的磨损等级对测试存储块进行磨损测试，得到磨损存储块；读取磨损存储块的磨损参数，其中，磨...

本发明公开了一种基于读取时间的闪存颗粒分级方法、系统、控制器及介质，方法包括通过获取闪存颗粒的码字解码时间，并根据码字解码时间确定页解码时间阈值；根据第一写读场景读取闪存颗粒的多个块中的多个页，并获取多个页读取时间，以在页读取时间大于页...

本发明公开了一种自动测试方法及其系统、电子设备、存储介质。其中该方法包括：检测串口的串口状态；在串口状态为空闲状态的情况下，从下发的总测试任务的测试计划中确定测试用例；其中，总测试任务包括至少一个测试计划，测试计划至少包括一个测试用例；...

本发明公开了一种基于ECC的闪存颗粒多次筛选方法、控制器及存储介质，方法包括获取待检测的闪存颗粒的规格信息，规格信息包括最大ECC和读写温度范围；根据读写温度范围对闪存颗粒进行多次第一写读处理，以模拟闪存颗粒的早期失效，并在每次第一写读...

本发明实施例提供了一种基于device设备真实温度的老化测试方法、控制器和介质，该老化测试方法，应用于老化测试系统，该老化测试系统包括温箱、控制模块、device设备，device设备放置在温箱中，device设备中设置有至少一个内存芯...

本发明实施例提供了一种基于FIO的兼容性测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。方法包括：获取待测芯片的属性信息；对属性信息进行分析处理得到芯片类型信息；根据芯片类型信息确定FIO文件测试信息；根据FIO文件测试信息对待测芯片进行...

本发明提出了一种对UFS所写入数据的验证方法、控制器及介质，该方法包括：在主机缓存中生成包括多个可用表单元的映射表，可用表单元与UFS的可用LBA唯一对应，且存储有单元数据；写数据时根据LBA对应的单元数据生成写随机数种子，将根据写随机...

本发明公开了一种闪存掉电测试方法、系统、电子设备和存储介质，涉及存储产品技术领域。闪存掉电测试方法包括以下步骤：控制模块通过状态引脚检测待测闪存的工作状态；工作状态包括繁忙状态和空闲状态；当检测到待测闪存处于繁忙状态时，控制模块控制可控...

本申请公开了一种闪存状态查询方法及闪存控制器，涉及存储技术领域，包括：通过操作状态查询模块判断是否满足闪存操作状态查询请求的条件；当满足闪存操作状态查询请求的条件，操作状态查询模块通过中断方式向处理器发送判断结果；根据判断结果，通过处理...

本发明公开了一种eMMC的测试夹具、装置、方法及存储介质，方法包括找寻与待测eMMC的测试引脚连接的测试探针；当找寻到与eMMC的测试引脚连接的测试探针时，确定测试探针的坐标位置；获取并检测携带有引出标识的测试指令；当检测到测试指令携带...