闪存掉电测试方法和系统、电子设备、存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种闪存掉电测试方法、系统、电子设备和存储介质，涉及存储产品技术领域。闪存掉电测试方法包括以下步骤：控制模块通过状态引脚检测待测闪存的工作状态；工作状态包括繁忙状态和空闲状态；当检测到待测闪存处于繁忙状态时，控制模块控制可控电源对待测闪存进行延时断电；通过获取模块获取待测闪存断电后的阈值电压分布图。根据本发明专利技术实施例的闪存掉电测试方法，可以准确控制待测闪存在不同的时间点或位置进行断电，从而能够得到待测闪存在不同的时间点或位置进行断电的不同表现，进而能够更全面地分析待测闪存的掉电表现。现。现。

【技术实现步骤摘要】
闪存掉电测试方法和系统、电子设备、存储介质


[0001]本专利技术涉及存储产品
，尤其是涉及一种闪存掉电测试方法和系统、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]在现代电子信息产业中，存储器作为电子设备中存储数据的载体一直有着非常重要的地位。目前，市场上的存储器主要分为：易失性存储器和非易失性存储器。闪存是一种非易失性存储器，它能够在掉电后长时间保存数据，并且有着数据传输速度快、生产成本低、存储容量大等优点，所以被广泛应用于电子设备之中。
[0003]闪存的基本操作主要有Read(读)、Program(写)和Erase(擦除)等，在闪存进行读/写/擦除过程中，其rb引脚(ready/busy，用于表示闪存处于空闲状态或繁忙状态)会被拉低进入busy状态，此时无法对闪存执行下一项操作，需要等待闪存完成当前的操作后，将rb引脚拉高，进入ready状态，才能够对闪存执行下一项操作。
[0004]在闪存的实际使用过程中，经常会因为设备重启或断电等情况而突然掉电，如果在掉电的瞬间，闪存正好处于busy状态，其出现数据丢失、错误或损坏等情况的概率将会大增；而如果在掉电的瞬间，闪存处于ready的状态，则说明此时闪存未执行写入等操作或者是已经完成了写入等操作，在此状态下，闪存的数据均保存在内部的非易失存储区域，即使掉电，也不会对闪存的数据造成影响。因此，为了能够更好地研究闪存在掉电情况下的数据保存情况，需要能够控制在闪存处于busy状态而非ready状态下对其进行掉电测试。而在现有技术中，对闪存进行掉电测试时，通常采用的是随机断电的方法，即通过程控电源控制闪存进行断电或者上电，而由于闪存处于busy状态的时间通常是很短的，最多也仅有几毫秒，所以随机断电的方法很难控制闪存在处于busy状态时进行掉电，采用这种方法会获得较多无效的测试数据，测试效率不高，测试结果不够直观。

技术实现思路

[0005]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出了一种闪存掉电测试方法和系统、电子设备和存储介质，能够准确控制在闪存处于busy状态下对其进行掉电测试。
[0006]一方面，根据本专利技术实施例的闪存掉电测试方法，基于闪存掉电测试系统，所述闪存掉电测试系统包括控制模块、待测闪存、可控电源和获取模块，所述待测闪存包括供电引脚和状态引脚，所述可控电源用于通过所述供电引脚对所述待测闪存进行供电或断电，所述控制模块用于通过所述状态引脚检测所述待测闪存的工作状态，并根据检测结果，控制所述可控电源对所述待测闪存的供电状态；所述获取模块用于获取所述待测闪存的阈值电压分布图；所述闪存掉电测试方法包括以下步骤：
[0007]所述控制模块通过所述状态引脚检测所述待测闪存的工作状态；所述工作状态包括繁忙状态和空闲状态；
[0008]当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电；
[0009]通过所述获取模块获取所述待测闪存断电后的阈值电压分布图。
[0010]根据本专利技术的一些实施例，当所述状态引脚为低电平时，所述待测闪存处于繁忙状态；当所述状态引脚为高电平时，所述待测闪存处于空闲状态。
[0011]根据本专利技术的一些实施例，所述当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：
[0012]确定所述待测闪存处于繁忙状态的时间段；
[0013]在所述时间段内，选取多个第一时间点；
[0014]所述控制模块在每个所述第一时间点，控制所述可控电源对所述待测闪存进行断电，每次断电后，对所述待测闪存重新进行上电，并在下一个所述第一时间点对所述待测闪存进行断电。
[0015]根据本专利技术的一些实施例，所述当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：
[0016]确定所述待测闪存处于繁忙状态的时间段，以及在所述时间段内所述待测闪存处于不同的预设写入位置所对应的第二时间点；
[0017]所述控制模块在每个所述第二时间点，控制所述可控电源对所述待测闪存进行断电，每次断电后，对所述待测闪存重新进行上电，并在下一个所述第二时间点对所述待测闪存进行断电。
[0018]根据本专利技术的一些实施例，所述闪存掉电测试系统还包括放电模块，所述放电模块包括：
[0019]控制开关，所述控制开关的受控端与所述控制模块电连接，所述控制开关的第一端与所述供电引脚电连接；
[0020]放电电阻，所述放电电阻的第一端与所述控制开关的第二端电连接，所述放电电阻的第二端接地。
[0021]根据本专利技术的一些实施例，所述当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：
[0022]当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，且所述控制模块驱动所述控制开关处于导通状态，使所述待测闪存的供电引脚通过所述放电模块进行放电。
[0023]另一方面，根据本专利技术实施例的闪存掉电测试系统，包括：
[0024]控制模块、待测闪存、可控电源和获取模块，所述待测闪存包括供电引脚和状态引脚；
[0025]所述可控电源用于通过所述供电引脚对所述待测闪存进行供电或断电；
[0026]所述控制模块用于通过所述状态引脚检测所述待测闪存的工作状态，并在检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电；
[0027]所述获取模块用于获取所述待测闪存断电后的阈值电压分布图。
[0028]根据本专利技术的一些实施例，所述闪存掉电测试系统还包括：
[0029]放电模块，用于在所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电
时，对所述待测闪存的供电引脚进行放电。
[0030]另一方面，根据本专利技术实施例的电子设备，包括：
[0031]存储器，用于存储程序指令；
[0032]处理器，用于调用所述存储器中存储的程序指令，按照获得的程序指令执行上述实施例的闪存掉电测试方法。
[0033]另一方面，根据本专利技术实施例的存储介质，所述存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使计算机执行上述实施例所述的闪存掉电测试方法。
[0034]根据本专利技术实施例的闪存掉电测试方法、系统、电子设备和存储介质，至少具有如下有益效果：通过控制模块来检测待测闪存的状态引脚，从而判断待测闪存处于繁忙状态或空闲状态，进而控制可控电源在待测闪存处于繁忙状态时，对待测闪存进行断电，从而能够准确控制在待测闪存处于繁忙状态下进行掉电测试。在对待测闪存断电后，通过获取模块获取待测闪存的阈值电压分布图，通过阈值电压分布图，可以直观查看待测闪存内部的数据保存情况，从而有利于后续对待测闪存的掉电状态进行分析。
[0035]本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闪存掉电测试方法，基于闪存掉电测试系统，其特征在于，所述闪存掉电测试系统包括控制模块、待测闪存、可控电源和获取模块，所述待测闪存包括供电引脚和状态引脚，所述可控电源用于通过所述供电引脚对所述待测闪存进行供电或断电，所述控制模块用于通过所述状态引脚检测所述待测闪存的工作状态，并根据检测结果，控制所述可控电源对所述待测闪存的供电状态；所述获取模块用于获取所述待测闪存的阈值电压分布图；所述闪存掉电测试方法包括以下步骤：所述控制模块通过所述状态引脚检测所述待测闪存的工作状态；所述工作状态包括繁忙状态和空闲状态；当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电；通过所述获取模块获取所述待测闪存断电后的阈值电压分布图。2.根据权利要求1所述的闪存掉电测试方法，其特征在于，当所述状态引脚为低电平时，所述待测闪存处于繁忙状态；当所述状态引脚为高电平时，所述待测闪存处于空闲状态。3.根据权利要求1所述的闪存掉电测试方法，其特征在于，所述当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：确定所述待测闪存处于繁忙状态的时间段；在所述时间段内，选取多个第一时间点；所述控制模块在每个所述第一时间点，控制所述可控电源对所述待测闪存进行断电，每次断电后，对所述待测闪存重新进行上电，并在下一个所述第一时间点对所述待测闪存进行断电。4.根据权利要求1所述的闪存掉电测试方法，其特征在于，所述当检测到所述待测闪存处于繁忙状态时，所述控制模块控制所述可控电源对所述待测闪存进行延时断电，包括：确定所述待测闪存处于繁忙状态的时间段，以及在所述时间段内所述待测闪存处于不同的预设写入位置所对应的第二时间点；所述控制模块在每个所述第二时间点，控制所述可控电源对所述待测闪存进行断电，每次断电后，对所述待测闪存重新进行上电，并在下一个所述第二时间点对所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺乐，赖鼐，龚晖，
申请(专利权)人：珠海妙存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：