一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法技术

本发明专利技术涉及存储器领域，具体涉及一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法，包括以下步骤：S01）设定SSD测试总轮次为n；S02）对被测试SSD下发注错命令，使LUN工作数量到达最小值，S03）对SSD的前M%空间写入数据S04）对SSD的后（100

【技术实现步骤摘要】
一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法


[0001]本专利技术涉及存储器领域，具体涉及一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法。

技术介绍

[0002]SSD（固态硬盘）在到达极限性能时，其可靠性可能会出现变化，例如数据精确性下降以及读写数据出现延迟等。可靠性下降可能会导致数据丢失或系统崩溃，因此，统计SSD在极限性能下的错误率或故障率是有必要的。
[0003]在LUN（逻辑单元号）工作数量限制下的可使SSD达到极限性能，现有技术未能给出在LUN工作数量限制下的统计SSD数据错误率和故障率的方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法，可测试SSD在极限性能时的数据错误率和故障率。
[0005]本申请的技术方案为：一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性极限测试方法，包括以下步骤：S01）设定SSD测试总轮次为n；S02）对被测试SSD下发注错命令，使LUN工作数量到达最小值，此时，SSD读写速度到达最小值；S03）对SSD的前M%空间写入数据，其中M的范围是5~50；S04）对SSD的后（100
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M）%空间读写数据；在读写过程中，对被测试SSD随机下发正断/异断/热插拔命令；S05）查看被测试SSD状态是否正常；S06）若是，则对被测试SSD的所述前M%空间进行校验；若不是，则测试失败且测试结束；S07）判定校验完成后的SSD的轮次是否达到n；S08）若否，对校验完成后的SSD重复步骤S04）~S07）；若是，则测试结束。
[0006]进一步地，所述步骤S02）对被测试SSD下发注错命令为温度注错命令。
[0007]由于采用了上述技术方案，本专利技术的有益效果如下：1、本专利技术所采用的方案更解决真实的场景模拟：通过以极限低速度验证SSD的可靠性，可以更真实地模拟SSD在长时间使用和高负载情况下的表现。这有助于检测和解决在实际应用中可能出现的问题。
[0008]2、提前发现潜在故障：极限低速度验证可以更容易地暴露出SSD中的潜在故障和缺陷。在正常速度下，这些问题可能不容易被察觉，而在极限低速度下，缺陷更容易显现出来，从而可以及早发现并采取相应措施。
[0009]3、提高可靠性和耐久性：通过进行极限低速度验证，可以更全面地评估SSD的可靠性和耐久性。这有助于制造商和用户更好地了解SSD的性能和寿命，并采取相应的预防措施，以延长SSD的使用寿命。
附图说明
[0010]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：图1为一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性测试方法流程图。
具体实施方式
[0011]如附图1所示，一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性极限测试方法，包括以下步骤：S01）在本实施例中，设定SSD测试总轮次为n；S02）对被测试SSD下发注错命令，使LUN工作数量到达最小值，此时，SSD读写速度到达最小值；S03）在实施例中，对SSD的前10%空间写入数据，对这10%容量做写入操作，后续对这个盘其他范围容量做读写操作，是为了验证之前写入的冷数据是否正确。
[0012]S04）对SSD的后50%空间读写数据，在读写过程中，对被测试SSD随机下发正断/异断/热插拔命令；后90%空间前10%空间相互独立，没有重叠，否则会破坏前10%写入的冷数据，导致后续校验出错。
[0013]S05）查看被测试SSD状态是否正常；S06）若是，则对被测试SSD前10%空间进行校验；若不是，则测试失败且测试结束；S07）判定校验完成后的SSD的轮次是否达到n；S08）若否，对校验完成后的SSD重复步骤S04）~S07）；若是，则测试结束。
[0014]以上描述的仅是本专利技术的基本原理和优选实施例，本领域技术人员根据本专利技术做出的改进和替换，属于本专利技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种在LUN工作数量限制下的SSD可靠性极限测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S01）设定SSD测试总轮次为n；S02）对被测试SSD下发注错命令，使LUN工作数量到达最小值，此时，SSD读写速度到达最小值；S03）对SSD的前M%空间写入数据，其中M的范围是5~50；S04）对SSD的后（100
‑
M）%空间读写数据，在读写过程中，对被测试SSD随机下发正断/异断/热插拔命...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨雪，王璞，李瑞东，
申请(专利权)人：山东华芯半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：