【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种pcie双端口ssd的链路回环测试治具，具体地说是一种支持双端口工作模式的链路回环和损耗压力测试的治具。
技术介绍
1、pcie是一种高速信号通道，为了检测产品设计过程中的信号质量和兼容性，常进行需要进行信号质量的量测。传统的针对pcie通路测试方法需要借助高速信号示波器、isi板及各种连接线等物理器件，需要提前进行损耗标定，测试步骤较为繁琐，且双端口工作模式设定更为复杂。
技术实现思路
1、针对现有技术的缺陷，本技术提供一种pcie双端口ssd的链路回环测试治具，该治具将双端口pcie信号通路的发送端tx与接收端rx进行了物理连接，并在其中放置了电子信号衰减模块，实现了双端口工作模式下的pcie ssd的物理链路信号检测。
2、为了解决所述技术问题，本技术采用的技术方案是：一种pcie双端口ssd的链路回环测试治具，包括外壳、主板、测试槽位和ssd限位插槽，主板位于外壳内，测试槽位和ssd限位插槽设置于外壳上，测试槽位一端与主板相连，测试槽位另一端与ssd限位插槽上的ssd硬盘相连；测试槽位上设有tx接口和rx接口，测试槽位上的tx接口和rx接口分别连接主板以及ssd硬盘的rx接口和tx接口。
3、进一步的，主板包括电子信号衰减模块，电子信号衰减模块分布于各个通道的信号通路上，包括数据通路、控制通路、i2c接口和信号衰减单元，数据通路与信号衰减单元相连，控制通路通过i2c接口与外部控制信号线相连。
4、进一步的，外壳上开有一凹槽，
5、进一步的，ssd限位插槽和测试槽位的数量相等，沿外壳轴向设置多组ssd限位插槽和测试槽位。
6、进一步的，外壳上还设有触控屏面板和电源插孔，触控屏面板与主板相连。
7、进一步的，外壳为梯形，ssd限位插槽设置于外壳的上端面。
8、本技术的有益效果：本技术将双端口pcie信号通路的发送端tx与接收端rx进行了物理连接，并在其中放置了可电子调节的损耗压力模块，实现了双端口工作模式下的pcie ssd的物理链路信号检测。
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1.一种PCIe双端口SSD的链路回环测试治具，其特征在于：包括外壳、主板、测试槽位和SSD限位插槽，主板位于外壳内，测试槽位和SSD限位插槽设置于外壳上，测试槽位一端与主板相连，测试槽位另一端与SSD限位插槽上的SSD硬盘相连；测试槽位上设有tx接口和rx接口，测试槽位上的tx接口和rx接口分别连接主板以及SSD硬盘的rx接口和tx接口。
2.根据权利要求1所述的PCIe双端口SSD的链路回环测试治具，其特征在于：主板包括电子信号衰减模块，电子信号衰减模块分布于各个通道的信号通路上，包括数据通路、控制通路、I2C接口和信号衰减单元，数据通路与信号衰减单元相连，控制通路通过I2C接口与外部控制信号线相连。
3.根据权利要求1所述的PCIe双端口SSD的链路回环测试治具，其特征在于：外壳上开有一凹槽，SSD限位插槽包括在凹槽两侧相对设置的两个半槽，测试槽位位于凹槽底部两个半槽之间的位置。
4.根据权利要求3所述的PCIe双端口SSD的链路回环测试治具，其特征在于：SSD限位插槽和测试槽位的数量相等，沿外壳轴向设置多组SSD限位插槽和测试槽位。p>
5.根据权利要求1所述的PCIe双端口SSD的链路回环测试治具，其特征在于：外壳上还设有触控屏面板和电源插孔，触控屏面板与主板相连。
6.根据权利要求1所述的PCIe双端口SSD的链路回环测试治具，其特征在于：外壳为梯形，SSD限位插槽设置于外壳的上端面。
...【技术特征摘要】
1.一种pcie双端口ssd的链路回环测试治具，其特征在于：包括外壳、主板、测试槽位和ssd限位插槽，主板位于外壳内，测试槽位和ssd限位插槽设置于外壳上，测试槽位一端与主板相连，测试槽位另一端与ssd限位插槽上的ssd硬盘相连；测试槽位上设有tx接口和rx接口，测试槽位上的tx接口和rx接口分别连接主板以及ssd硬盘的rx接口和tx接口。
2.根据权利要求1所述的pcie双端口ssd的链路回环测试治具，其特征在于：主板包括电子信号衰减模块，电子信号衰减模块分布于各个通道的信号通路上，包括数据通路、控制通路、i2c接口和信号衰减单元，数据通路与信号衰减单元相连，控制通路通过i2c接口与外部控制信号线相连。
【专利技术属性】
技术研发人员：吴斌，段好强，乔子龙，
申请(专利权)人：山东华芯半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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