eMMC老化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种eMMC老化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。方法包括：获取eMMC测试环境信息，其中，eMMC测试环境信息包括环境属性信息；根据环境属性信息确定芯片测试性能参数；根据芯片测试性能参数对eMMC芯片进行读存操作处理得到读存数据；对读存数据进行分析处理得到数据分析信息；将数据分析信息与环境属性信息进行结合得到eMMC老化测试结果。根据本发明专利技术实施例的方案，使得eMMC老化测试能够更加细化精准。eMMC老化测试能够更加细化精准。eMMC老化测试能够更加细化精准。

【技术实现步骤摘要】
eMMC老化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，特别涉及一种eMMC老化测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]eMMC是embedded MultiMedia Card的简称，即嵌入式多媒体卡，是一种闪存卡的标准，其定义了基于嵌入式多媒体卡的存储系统的物理架构和访问接口及协议；然而，在生产制备eMMC芯片的过程中，往往需要对芯片进行老化测试处理，但是目前对eMMC芯片进行老化测试的过程中并没有依据不同的使用环境，这样就会使得eMMC老化测试不够细化精准，从而影响eMMC老化测试的效果。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。
[0004]为此，本专利技术提出一种eMMC老化测试方法，使得eMMC老化测试能够更加细化精准。
[0005]本专利技术还提出一种应用上述eMMC老化测试方法的装置。
[0006]本专利技术还提出一种应用上述eMMC老化测试方法的电子设备。
[0007]本专利技术还提出一种应用上述eMMC老化测试方法的计算机可读存储介质。
[0008]根据本专利技术第一方面实施例的eMMC老化测试方法，所述方法包括：
[0009]获取eMMC测试环境信息，其中，所述eMMC测试环境信息包括环境属性信息；
[0010]根据所述环境属性信息确定芯片测试性能参数；
[0011]根据所述芯片测试性能参数对eMMC芯片进行读存操作处理得到读存数据；
[0012]对所述读存数据进行分析处理得到数据分析信息；
[0013]将所述数据分析信息与所述环境属性信息进行结合得到eMMC老化测试结果。
[0014]根据本专利技术的一些实施例，所述根据所述环境属性信息确定芯片测试性能参数，包括：
[0015]对所述环境属性信息进行分析处理得到属性分析结果；
[0016]根据所述属性分析结果从预设的环境测试性能参数设置列表中确定所述芯片测试性能参数。
[0017]根据本专利技术的一些实施例，所述根据所述芯片测试性能参数对eMMC芯片进行读存操作处理得到读存数据，包括：
[0018]根据所述芯片测试性能参数对所述eMMC芯片读存操作状态进行控制处理；
[0019]每经过预设时间区间，对所述eMMC芯片读存操作的数据进行采集处理得到所述读存数据。
[0020]根据本专利技术的一些实施例，所述数据分析信息包括测试正常信息和测试异常信息，所述对所述读存数据进行分析处理得到数据分析信息，包括：
[0021]根据所述环境属性信息匹配相应的数据标准区间；
[0022]将所述读存数据与所述数据标准区间进行比较；
[0023]在所述读存数据处于所述数据标准区间之内的情况下，基于所述读存数据得到所述测试正常信息；
[0024]在所述读存数据不处于所述数据标准区间之内的情况下，基于所述读存数据得到所述测试异常信息。
[0025]根据本专利技术的一些实施例，所述将所述数据分析信息与所述环境属性信息进行结合得到eMMC老化测试结果后，所述方法还包括：
[0026]对所述eMMC老化测试结果进行数据压缩打包处理得到数据包；
[0027]将所述数据包向预设的网络地址进行发送处理。
[0028]根据本专利技术的一些实施例，所述环境属性信息包括以下之一：
[0029]视频播放环境信息；
[0030]导航运行环境信息；
[0031]游戏运行环境信息；
[0032]电子书运行环境信息。
[0033]根据本专利技术的一些实施例，所述芯片测试性能参数至少包括以下之一：芯片电流；芯片电压；数据读写频率。
[0034]根据本专利技术第二方面实施例的eMMC老化测试装置，该装置包括:
[0035]第一处理模块，用于获取eMMC测试环境信息，其中，所述eMMC测试环境信息包括环境属性信息；
[0036]第二处理模块，用于根据所述环境属性信息确定芯片测试性能参数；
[0037]第三处理模块，用于根据所述芯片测试性能参数对eMMC芯片进行读存操作处理得到读存数据；
[0038]第四处理模块，用于对所述读存数据进行分析处理得到数据分析信息；
[0039]第五处理模块，用于将所述数据分析信息与所述环境属性信息进行结合得到eMMC老化测试结果。
[0040]根据本专利技术第三方面实施例的电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上所述的eMMC老化测试方法。
[0041]根据本专利技术第四方面实施例的一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被控制处理器执行时实现如上所述的eMMC老化测试方法。
[0042]根据本专利技术实施例的eMMC老化测试方法，至少具有如下有益效果：在进行eMMC老化测试的过程中，首先获取eMMC测试环境信息，其中，eMMC测试环境信息包括环境属性信息；接着根据环境属性信息确定芯片测试性能参数；接着根据芯片测试性能参数对eMMC芯片进行读存操作处理就可以得到相应的读存数据；然后对读存数据进行分析处理就可以得到数据分析信息；最后将数据分析信息与环境属性信息进行结合处理就可以得到eMMC老化测试结果。通过上述技术方案，使得eMMC老化测试能够更加细化精准，提升了eMMC老化测试的效果。
[0043]本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变
得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0044]附图用来提供对本公开技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本公开的实施例一起用于解释本公开的技术方案，并不构成对本公开技术方案的限制。
[0045]图1是本专利技术一个实施例提供的eMMC老化测试方法流程图；
[0046]图2是本专利技术一个实施例提供的S200的具体流程图；
[0047]图3是本专利技术一个实施例提供的S300的具体流程图；
[0048]图4是本专利技术一个实施例提供的S400的具体流程图；
[0049]图5是本专利技术另一个实施例提供的eMMC老化测试方法流程图；
[0050]图6是本专利技术一个实施例提供的eMMC老化测试装置的构造示意图；
[0051]图7是本专利技术一个实施例提供的电子设备的构造示意图。
具体实施方式
[0052]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0053]在本专利技术的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种eMMC老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取eMMC测试环境信息，其中，所述eMMC测试环境信息包括环境属性信息；根据所述环境属性信息确定芯片测试性能参数；根据所述芯片测试性能参数对eMMC芯片进行读存操作处理得到读存数据；对所述读存数据进行分析处理得到数据分析信息；将所述数据分析信息与所述环境属性信息进行结合得到eMMC老化测试结果。2.根据权利要求1所述的eMMC老化测试方法，其特征在于，所述根据所述环境属性信息确定芯片测试性能参数，包括：对所述环境属性信息进行分析处理得到属性分析结果；根据所述属性分析结果从预设的环境测试性能参数设置列表中确定所述芯片测试性能参数。3.根据权利要求1所述的eMMC老化测试方法，其特征在于，所述根据所述芯片测试性能参数对eMMC芯片进行读存操作处理得到读存数据，包括：根据所述芯片测试性能参数对所述eMMC芯片读存操作状态进行控制处理；每经过预设时间区间，对所述eMMC芯片读存操作的数据进行采集处理得到所述读存数据。4.根据权利要求1所述的eMMC老化测试方法，其特征在于，所述数据分析信息包括测试正常信息和测试异常信息，所述对所述读存数据进行分析处理得到数据分析信息，包括：根据所述环境属性信息匹配相应的数据标准区间；将所述读存数据与所述数据标准区间进行比较；在所述读存数据处于所述数据标准区间之内的情况下，基于所述读存数据得到所述测试正常信息；在所述读存数据不处于所述数据标准区间之内的情况下，基于所述读存数据得到所述测试异常信息。5.根据权利要求1所述的eMMC芯片老化测...

【专利技术属性】
技术研发人员：李浩，宋魏杰，赖鼐，龚晖，
申请(专利权)人：珠海妙存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：