芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质制造方法及图纸

本公开提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。其中，芯片测试方法包括：获得被测芯片的原始测试向量文件，原始测试向量文件包括JTAG接口的时序波形数据和function clock接口的时序波形数据；对JTAG接口的每个时序波形数据进行修改，使得每个时序波形数据对应的波形的持续时间延长为原始持续时间的N倍，从而获得变换后的测试向量文件；原始持续时间等于functionclock接口的最高有效频率所对应的周期，N等于function clock接口的最高有效频率与JTAG接口的最高有效频率的比值；利用变换后的测试向量文件对被测芯片进行测试。本公开中，通过将JTAG接口的时序波形数据的持续时间延长为原始持续时间的N倍，使得在芯片测试的Function Setup阶段，function的测试频率实现最大化。function的测试频率实现最大化。function的测试频率实现最大化。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质


[0001]本公开涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]在芯片测试领域中，可以通过芯片测试设备(例如ATE)对芯片进行测试。测试前，需要将TetraMAX工具(或者Tessent工具、FastScan工具)自动生成的测试向量文件(例如Function setup文件或Function Test pattern文件)输入芯片测试设备。测试期间，芯片测试设备根据测试向量文件中各个接口的时序波形数据，向被测芯片的各个接口输入相应的测试信号。
[0003]在芯片测试的Function Setup阶段，芯片测试设备需要向被测芯片的JTAG接口和function clock接口分别输入相应的测试信号。由于被测芯片的可测试设计，JTAG接口的最高有效频率通常远低于function clock接口的最高有效频率。例如JTAG接口的最高有效频率通常为25Mhz，function clock接口的最高有效频率通常为200Mhz或400Mhz。并且在Function Setup阶段，function clock接口的测试信号频率会受制于JTAG接口的测试信号频率，导致function测试频率不能达到最大化。

技术实现思路

[0004]本公开的目的是提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，使得在芯片测试的Function Setup阶段，function的测试频率实现最大化。
[0005]根据本公开的一个方面，提供一种芯片测试方法，该方法包括：
[0006]获得被测芯片的原始测试向量文件，原始测试向量文件包括JTAG接口的时序波形数据和function clock接口的时序波形数据；
[0007]对JTAG接口的每个时序波形数据进行修改，使得JTAG接口的每个时序波形数据对应的波形的持续时间延长为原始持续时间的N倍，从而获得变换后的测试向量文件；原始持续时间等于function clock接口的最高有效频率所对应的周期，N等于function clock接口的最高有效频率与JTAG接口的最高有效频率的比值；
[0008]利用变换后的测试向量文件对被测芯片进行测试。
[0009]可选地，原始测试向量文件包括多行测试向量和多行备注；芯片测试方法还包括：对原始测试向量文件的备注进行遍历，判断遍历到的每行备注中是否包括预设起始位置；预设起始位置用于表征：JTAG接口的时序波形数据在原始测试向量文件中的起点；
[0010]对JTAG接口的每个时序波形数据进行修改，包括：在确定出包括预设起始位置的备注后，将该备注的下一行作为起点，对原始测试向量文件的剩余行进行遍历，针对遍历到的每行测试向量，对每行测试向量中JTAG接口的时序波形数据进行修改，直至遍历到包含预设结束位置的备注；预设结束位置用于表征：JTAG接口的时序波形数据在原始测试向量文件中的终点。
[0011]可选地，JTAG接口的时序波形数据包括TCK引脚的时序波形数据，TCK引脚的时序波形为脉冲波形；
[0012]针对遍历到的每行测试向量，对每行测试向量中JTAG接口的时序波形数据进行修改，包括：
[0013]针对遍历到的每行测试向量，将每行测试向量变换成N行测试向量；N行测试向量的前N/2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为0，N行测试向量的后N/2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为1；或者，N行测试向量的前N/2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为1，N行测试向量的后N/2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为0。
[0014]可选地，JTAG接口的时序波形数据还包括TDI、TDO以及TMS三种引脚中的至少一种引脚的时序波形数据，TDI、TDO或TMS的时序波形数据为二进制数；N行测试向量中的每行测试向量中，TDI、TDO或TMS的时序波形数据为原始二进制数。
[0015]可选地，function clock接口的时序波形数据为脉冲数据；N行测试向量中的每行测试向量中，function clock接口的时序波形数据均为脉冲数据。
[0016]可选地，原始测试向量文件还包括其它接口的时序波形数据，其它接口为除JTAG接口和function clock接口以外的接口，其它接口的时序波形数据为二进制数；N行测试向量中的每行测试向量中，其它接口的时序波形数据为原始二进制数。
[0017]可选地，利用变换后的测试向量文件对被测芯片进行测试，包括：将时钟配置文件和变换后的测试向量文件输入芯片测试设备，以测试被测芯片；时钟配置文件包括JTAG接口的时钟频率和function clock接口的时钟频率，JTAG接口的时钟频率和function clock接口的时钟频率均等于function clock接口的最高有效频率。
[0018]根据本公开的另一个方面，提供一种芯片测试装置，该装置包括：
[0019]文件获得模块，用于获得被测芯片的原始测试向量文件，原始测试向量文件包括JTAG接口的时序波形数据和function clock接口的时序波形数据；
[0020]持续时间延长模块，用于对JTAG接口的每个时序波形数据进行修改，使得JTAG接口的每个时序波形数据对应的波形的持续时间延长为原始持续时间的N倍，从而获得变换后的测试向量文件；原始持续时间等于function clock接口的最高有效频率所对应的周期，N等于function clock接口的最高有效频率与JTAG接口的最高有效频率的比值；
[0021]芯片测试模块，用于利用变换后的测试向量文件对被测芯片进行测试。
[0022]可选地，原始测试向量文件包括多行测试向量和多行备注；芯片测试装置还包括：起始位置确定模块；
[0023]起始位置确定模块用于：对原始测试向量文件的备注进行遍历，判断遍历到的每行备注中是否包括预设起始位置；预设起始位置用于表征：JTAG接口的时序波形数据在原始测试向量文件中的起点；
[0024]持续时间延长模块具体用于：在确定出包括预设起始位置的备注后，将该备注的下一行作为起点，对原始测试向量文件的剩余行进行遍历，针对遍历到的每行测试向量，对每行测试向量中JTAG接口的时序波形数据进行修改，直至遍历到包含预设结束位置的备注；预设结束位置用于表征：JTAG接口的时序波形数据在原始测试向量文件中的终点。
[0025]可选地，JTAG接口的时序波形数据包括TCK引脚的时序波形数据，TCK引脚的时序
波形为脉冲波形；
[0026]持续时间延长模块具体用于：针对遍历到的每行测试向量，将每行测试向量变换成N行测试向量；N行测试向量的前N/2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为0，N行测试向量的后N/2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为1；或者，N本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，包括：获得被测芯片的原始测试向量文件，所述原始测试向量文件包括JTAG接口的时序波形数据和function clock接口的时序波形数据；对所述JTAG接口的每个时序波形数据进行修改，使得所述JTAG接口的每个时序波形数据对应的波形的持续时间延长为原始持续时间的N倍，从而获得变换后的测试向量文件；所述原始持续时间等于所述function clock接口的最高有效频率所对应的周期，所述N等于所述function clock接口的最高有效频率与所述JTAG接口的最高有效频率的比值；利用所述变换后的测试向量文件对所述被测芯片进行测试。2.根据权利要求1所述的方法，所述原始测试向量文件包括多行测试向量和多行备注；所述方法还包括：对所述原始测试向量文件的备注进行遍历，判断遍历到的每行备注中是否包括预设起始位置；所述预设起始位置用于表征：所述JTAG接口的时序波形数据在所述原始测试向量文件中的起点；所述对所述JTAG接口的每个时序波形数据进行修改，包括：在确定出包括所述预设起始位置的备注后，将该备注的下一行作为起点，对所述原始测试向量文件的剩余行进行遍历，针对遍历到的每行测试向量，对每行测试向量中JTAG接口的时序波形数据进行修改，直至遍历到包含预设结束位置的备注；所述预设结束位置用于表征：所述JTAG接口的时序波形数据在所述原始测试向量文件中的终点。3.根据权利要求2所述的方法，所述JTAG接口的时序波形数据包括TCK引脚的时序波形数据，所述TCK引脚的时序波形为脉冲波形；所述针对遍历到的每行测试向量，对每行测试向量中JTAG接口的时序波形数据进行修改，包括：针对遍历到的每行测试向量，将每行测试向量变换成N行测试向量；所述N行测试向量的前N/2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为0，所述N行测试向量的后N/2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为1；或者，所述N行测试向量的前N/2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为1，所述N行测试向量的后N/2行测试向量中，每行测试向量中TCK引脚的时序波形数据为0。4.根据权利要求3所述的方法，所述JTAG接口的时序波形数据还包括TDI、TDO以及TMS三种引脚中的至少一种引脚的时序波形数据，TDI、TDO或TMS的时序波形数据为二进制数；所述N行测试向量中的每行测试向量中，TDI、TDO或TMS的时序波形数据为原始二进制数。5.根据权利要求3所述的方法，所述function clock接口的时序波形数据为脉冲数据；所述N行测试向量中的每行测试向量中，所述function clock接口的时序波形数据均为脉冲数据。6.根据权利要去3所述的方法，所述原始测试向量文件还包括其它接口的时序波形数据，所述其它接口为除所述JTAG接口和所述function clock接口以外的接口，所述其它接口的时序波形数据为二进制数；所述N行测试向量中的每行测试向量中，所述其它接口的时序波形数据为原始二进制数。7.根据权利要求1至6任一所述的方法，所述利用所述变换后的测试向量文件对所述被测芯片进行测试，包括：
将时钟配置文件和所述变换后的测试向量文件输入芯片测试设备，以测试所述被测芯片；所述时钟配置文件包括所述JTAG接口的时钟频率和所述function clock接口的时钟频率，所述JTAG接口的时钟频率和所述function clock接口的时钟频率均等于所述function clock接口的最高有效频率。8.一种芯片测试装置，所述装置包括：文件获得模块，用于获得被测芯片的原始测试向量文件，所述原始测试向量文件包括JTAG接口的时序波形数据和function clock接口的时序波形数据；持续时间...

【专利技术属性】
技术研发人员：王宇，
申请(专利权)人：象帝先计算技术重庆有限公司，
类型：发明
国别省市：