【技术实现步骤摘要】
本公开涉及芯片测试领域，尤其涉及一种测试方法、装置、ate设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
1、目前业界对于芯片的分级，多数是采用预先配置包括多个不同测试项的测试流(test flow)，并基于测试流对芯片经过一轮测试得到测试结果，然后基于测试结果对芯片实施分级筛选。由于芯片的制造封装测试成本都较高，所以有必要对芯片进行修复(主要是存储器修复(memory repair))，并将memory repair与分级筛选两者进行结合，进而实现芯片物尽其用以及节省成本的目的。
2、现有技术在测试时，ate(automatic test equipment，集成电路自动测试机)设备虽然可采用memory repair+分级筛选的方案来节省测试成本，即在测试过程中对芯片执行mbist(memory build-in-self test，存储器内建自测试)测试项后，芯片可通过mbist测试项的测试结果进行memory repair，然后ate设备再针对memory repair后的芯片复测mbist测试项来减少坏片的占比，但是由于在整个测试过程中引入了复测测试项，即mbist，因此，现有技术中的memory repair+分级筛选的方案是通过牺牲测试效率来优化测试成本，从整个测试流程的宏观层面来说，对测试成本的优化十分有限。
技术实现思路
1、本公开的目的是提供一种测试方法、装置、ate设备及计算机可读存储介质，可以在现有的memory repair+分级筛选的方案的基础上，进一
2、根据本公开的一个方面，提供一种测试方法，应用于ate设备，所述方法包括：在确定满足mbist测试项复测条件时，对被测芯片复测所述mbist测试项，得到复测结果；所述mbist测试项复测条件表征已对所述被测芯片测试过所述mbist测试项，且针对所述被测芯片进行测试的测试流中还包括未被执行的其他测试项；判断所述复测结果是否满足预先配置的存储器的最低要求；在不满足所述存储器的最低要求时，输出用于表征所述被测芯片不合格的第一信息，并终止测试。
3、本公开一种可行的实现方式中，所述存储器包括多个存储器单元，所述mbist测试项的测试结果包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态结果，所述存储器的最低要求包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态要求；所述判断所述复测结果是否满足预先配置的存储器的最低要求，包括：判断所述被测芯片的所有存储器单元的状态结果是否满足所述存储器的最低要求中与之对应的状态要求；若均满足所述状态要求，表征所述复测结果满足所述存储器的最低要求。
4、本公开一种可行的实现方式中，所述状态结果为零时，表征对应的存储器单元不可用，所述状态结果为一时，表征对应的存储器单元可用；所述状态要求大于等于零时，表征对应的存储器单元允许损坏，所述状态要求为一时表征对应的存储器单元不允许损坏。
5、本公开一种可行的实现方式中，在所述对被测芯片复测所述mbist测试项之前，所述方法还包括：在检测到所述测试流中所包括的特定测试项首次执行完成时，确定满足所述mbist测试项复测条件。
6、本公开一种可行的实现方式中，所述特定测试项为所述mbist测试项；或者所述特定测试项为：所述测试流中所包括的，位于所述mbist测试项与最后一个测试项之间的多个测试项中的任一测试项。
7、本公开一种可行的实现方式中，所述方法还包括：在满足所述存储器的最低要求时，对所述被测芯片执行所述其他测试项的测试，并基于输出的所有测试结果对所述被测芯片进行分级。
8、本公开一种可行的实现方式中，所述测试方法适用于所述被测芯片的cp测试阶段和/或ft测试阶段。
9、根据本公开的另一方面，还提供一种测试装置，应用于ate设备，所述装置包括：复测模块、判断模块以及执行模块。
10、复测模块，用于在确定满足mbist测试项复测条件时，对被测芯片复测所述mbist测试项，得到复测结果；所述mbist测试项复测条件表征已对所述被测芯片测试过所述mbist测试项，且针对所述被测芯片进行测试的测试流中还包括未被执行的其他测试项；
11、判断模块，用于判断所述复测结果是否满足预先配置的存储器的最低要求；
12、执行模块，用于在所述判断模块的判断结果为不满足所述存储器的最低要求时，输出用于表征所述被测芯片不合格的第一信息，并终止测试。
13、本公开一种可行的实现方式中，所述存储器包括多个存储器单元，所述mbist测试项的测试结果包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态结果，所述存储器的最低要求包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态要求；所述判断模块，用于判断所述被测芯片的所有存储器单元的状态结果是否满足所述存储器的最低要求中与之对应的状态要求；若均满足所述状态要求，表征所述复测结果满足所述存储器的最低要求。
14、本公开一种可行的实现方式中，所述状态结果为零时，表征对应的存储器单元不可用，所述状态结果为一时，表征对应的存储器单元可用；所述状态要求大于等于零时，表征对应的存储器单元允许损坏，所述状态要求为一时表征对应的存储器单元不允许损坏。
15、本公开一种可行的实现方式中，所述装置还包括确定模块，用于在检测到所述测试流中所包括的特定测试项首次执行完成时，确定满足所述mbist测试项复测条件。
16、本公开一种可行的实现方式中，所述特定测试项为所述mbist测试项；或者所述特定测试项为：所述测试流中所包括的，位于所述mbist测试项与最后一个测试项之间的多个测试项中的任一测试项。
17、本公开一种可行的实现方式中，所述执行模块，还用于在所述判断模块的判断结果为满足所述存储器的最低要求时，对所述被测芯片执行所述其他测试项的测试，并基于输出的所有测试结果对所述被测芯片进行分级。
18、本公开一种可行的实现方式中，所述测试装置适用于所述被测芯片的cp测试阶段和/或ft测试阶段。
19、根据本公开的另一方面，还提供一种ate设备，包括处理器以及与所述处理器连接的存储器，在所述存储器上存储有可被所述处理器运行的测试程序，所述测试程序被所述处理器运行时，所述处理器，用于：在确定满足mbist测试项复测条件时，对被测芯片复测所述mbist测试项，得到复测结果；所述mbist测试项复测条件表征已对所述被测芯片测试过所述mbist测试项，且针对所述被测芯片进行测试的测试流中还包括未被执行的其他测试项；判断所述复测结果是否满足预先配置的存储器的最低要求；在不满足所述存储器的最低要求时，输出用于表征所述被测芯片不合格的第一信息，并终止测试。
20、本公开一种可行的实现方式中，所述存储器包括多个存储器单元，所述mbist测试项的测试结果包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态结果，所述存储器的最低要求包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态要求；所述处理器本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种测试方法，应用于ATE设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，所述存储器包括多个存储器单元，所述MBIST测试项的测试结果包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态结果，所述存储器的最低要求包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态要求；所述判断所述复测结果是否满足预先配置的存储器的最低要求，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，
4.根据权利要求1所述的方法，在所述对被测芯片复测所述MBIST测试项之前，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，所述特定测试项为所述MBIST测试项；或者所述特定测试项为：所述测试流中所包括的，位于所述MBIST测试项与最后一个测试项之间的多个测试项中的任一测试项。
6.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：
7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，所述测试方法适用于所述被测芯片的CP测试阶段和/或FT测试阶段。
8.一种测试装置，应用于ATE设备，所述装置包括：
9.根据权利要求8所述的测试装置，
10
11.根据权利要求10所述的ATE设备，所述被测芯片的存储器包括多个存储器单元，所述MBIST测试项的测试结果包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态结果，所述存储器的最低要求包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态要求；
12.根据权利要求11所述的ATE设备，所述状态结果为零时，表征对应的存储器单元不可用，所述状态结果为一时，表征对应的存储器单元可用；所述状态要求大于等于零时，表征对应的存储器单元允许损坏，所述状态要求为一时表征对应的存储器单元不允许损坏。
13.根据权利要求10所述的ATE设备，所述处理器，还用于：在检测到所述测试流中所包括的特定测试项首次执行完成时，确定满足所述MBIST测试项复测条件。
14.根据权利要求13所述的ATE设备，所述特定测试项为所述MBIST测试项；或者所述特定测试项为：所述测试流中所包括的，位于所述MBIST测试项与最后一个测试项之间的多个测试项中的任一测试项。
15.根据权利要求10所述的ATE设备，所述处理器，还用于：在确定满足所述存储器的最低要求时，对所述被测芯片执行所述其他测试项的测试，并基于输出的所有测试结果对所述被测芯片进行分级。
16.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有测试程序，所述测试程序被执行时，实现如权利要求1-7中任一项所述的测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种测试方法，应用于ate设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，所述存储器包括多个存储器单元，所述mbist测试项的测试结果包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态结果，所述存储器的最低要求包括与所述被测芯片的存储器单元一一对应的状态要求；所述判断所述复测结果是否满足预先配置的存储器的最低要求，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，
4.根据权利要求1所述的方法，在所述对被测芯片复测所述mbist测试项之前，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，所述特定测试项为所述mbist测试项；或者所述特定测试项为：所述测试流中所包括的，位于所述mbist测试项与最后一个测试项之间的多个测试项中的任一测试项。
6.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：
7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，所述测试方法适用于所述被测芯片的cp测试阶段和/或ft测试阶段。
8.一种测试装置，应用于ate设备，所述装置包括：
9.根据权利要求8所述的测试装置，
10.一种ate设备，包括处理器以及与所述处理器连接的存储器，在所述存储器上存储有可被所述处理器运行的测试程序，所述测试程序被所述处理器运行时，所述处理器，用于：
11.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐康成，
申请(专利权)人：象帝先计算技术重庆有限公司，
类型：发明
国别省市：
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