【技术实现步骤摘要】
本公开涉及芯片测试领域，尤其涉及一种测试结果确定方法、装置、ate设备及可读存储介质。
技术介绍
1、digital capture(数字抓取)功能是ate(automatic test equipmen，集成电路自动测试机)设备实施自动化测试时的常用功能，该功能的主要用途是在测试向量执行完之后，快速抓取到被测芯片指定管脚在测试向量的指定行的测试结果，并直接输出，或者将其转换为所需格式后输出，例如将模拟数据转换成数字数据后输出，或者将二进制数据转换成十进制数据后输出。该功能在针对efuse(电编程熔保险丝)的测试，mbist(存储器内建自测试)，针对temperature sensor(温度传感器)的测试等众多测试项中有着广泛地应用。
2、在现有技术中，通过ate设备所自带的数字抓取功能，可针对测试向量的每个指定行的测试结果进行单独操作，以抓取到对应指定行的测试结果，但是该操作在执行过程中，会引入大量的人为操作，且操作起来较为繁琐，因此，针对存在巨大数据量抓取需求的测试项时，容易发生操作错误，造成测试数据抓取错误，导致测试结...
【技术保护点】
1.一种测试结果确定方法，应用于ATE设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，所述根据所述第一比较结果及所述第二比较结果，确定出与所述测试输出对应的测试结果，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，所述将所述测试输出分别与预设的第一比较电平以及预设的第二比较电平进行比较，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，所述第一比较结果与所述第二比较结果的编号从0开始依次递增1，且在所述目标比较结果是所述第一比较结果与所述第二比较结果中，用于表示两个待比较对象不相同的比较结果...
【技术特征摘要】
1.一种测试结果确定方法，应用于ate设备，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，所述根据所述第一比较结果及所述第二比较结果，确定出与所述测试输出对应的测试结果，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，所述将所述测试输出分别与预设的第一比较电平以及预设的第二比较电平进行比较，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，所述第一比较结果与所述第二比较结果的编号从0开始依次递增1，且在所述目标比较结果是所述第一比较结果与所述第二比较结果中，用于表示两个待比较对象不相同的比较结果时；所述根据所述目标比较结果的编号，确定出与所述测试输出对应的测试结果，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，所述方法还包括：
7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，所述第一比较电平为高电平，所述第二比较电平为低电平；或者所述第一比较电平为低电平，所述第二比较电平为高电平。
8.一种测试结果确定装置，应用于ate设备，所述装置包括：
9.一种ate设备，包括处理器以及与所述处理器连接的存储器，在所述存储器上存储有可被所述处理器运行的测试结果确定程序，所述测试结果确定程序被所述处理器运行时，所述处理器用于：
10.根据权利要求9所述的ate设备，所述处理器用于：将所述第一比较结果与所述第二比较结果中，用...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐康成，
申请(专利权)人：象帝先计算技术重庆有限公司，
类型：发明
国别省市：
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