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测试结果确定方法、装置、ATE设备及可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:41179400 阅读:2 留言:0更新日期:2024-05-07 22:14
本公开提供一种测试结果确定方法、装置、ATE设备及可读存储介质,该方法包括:在确定测试向量所包括的向量行中存在被标记为预设字符的指定行时,抓取所述指定行的测试输出;将所述测试输出分别与预设的第一比较电平以及预设的第二比较电平进行比较,得到对应的第一比较结果及第二比较结果;所述第一比较电平与所述第二比较电平表示的电平含义相反;根据所述第一比较结果及所述第二比较结果,确定出与所述测试输出对应的测试结果;所述测试输出为所述第一比较电平以及所述第二比较电平中的一种。通过该方法,可以降低抓取测试向量的指定行的测试结果时的出错概率。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及芯片测试领域,尤其涉及一种测试结果确定方法、装置、ate设备及可读存储介质。


技术介绍

1、digital capture(数字抓取)功能是ate(automatic test equipmen,集成电路自动测试机)设备实施自动化测试时的常用功能,该功能的主要用途是在测试向量执行完之后,快速抓取到被测芯片指定管脚在测试向量的指定行的测试结果,并直接输出,或者将其转换为所需格式后输出,例如将模拟数据转换成数字数据后输出,或者将二进制数据转换成十进制数据后输出。该功能在针对efuse(电编程熔保险丝)的测试,mbist(存储器内建自测试),针对temperature sensor(温度传感器)的测试等众多测试项中有着广泛地应用。

2、在现有技术中,通过ate设备所自带的数字抓取功能,可针对测试向量的每个指定行的测试结果进行单独操作,以抓取到对应指定行的测试结果,但是该操作在执行过程中,会引入大量的人为操作,且操作起来较为繁琐,因此,针对存在巨大数据量抓取需求的测试项时,容易发生操作错误,造成测试数据抓取错误,导致测试结果错误的严重测试质量事故。


技术实现思路

1、本公开的目的是提供一种测试结果确定方法、装置、ate设备及可读存储介质,可以降低抓取测试向量的指定行的测试结果时的出错概率。

2、根据本公开的一个方面,提供一种测试结果确定方法,应用于ate设备,所述方法包括:在确定测试向量所包括的向量行中存在被标记为预设字符的指定行时,抓取所述指定行的测试输出;将所述测试输出分别与预设的第一比较电平以及预设的第二比较电平进行比较,得到对应的第一比较结果及第二比较结果;所述第一比较电平与所述第二比较电平表示的电平含义相反;根据所述第一比较结果及所述第二比较结果,确定出与所述测试输出对应的测试结果;所述测试输出为所述第一比较电平以及所述第二比较电平中的一种。

3、本公开一种可行的实现方式中,所述根据所述第一比较结果及所述第二比较结果,确定出与所述测试输出对应的测试结果,包括:将所述第一比较结果与所述第二比较结果中,用于表示两个待比较对象相同的比较结果所对应的电平含义确定为所述测试输出表示的所述测试结果;或者,

4、将所述第一比较结果与所述第二比较结果中,用于表示两个待比较对象不相同的比较结果所对应的电平含义相反的电平含义确定为所述测试输出表示的所述测试结果。

5、本公开一种可行的实现方式中,所述将所述测试输出分别与预设的第一比较电平以及预设的第二比较电平进行比较,包括:读取所述第一比较电平以及所述第二比较电平;先后将所述测试输出分别与所述第一比较电平及所述第二比较电平进行比较,得到有序排列的所述第一比较结果以及所述第二比较结果。

6、本公开一种可行的实现方式中,所述方法还包括:按照所述第一比较结果以及所述第二比较结果的排列顺序,为所述第一比较结果与所述第二比较结果依次编号;

7、相应的,所述根据所述第一比较结果及所述第二比较结果,确定出与所述测试输出对应的测试结果,包括:从所述第一比较结果与所述第二比较结果中,筛选出目标比较结果;根据所述目标比较结果的编号,确定出与所述测试输出对应的测试结果。

8、本公开一种可行的实现方式中,所述第一比较结果与所述第二比较结果的编号从0开始依次递增1,且在所述目标比较结果是所述第一比较结果与所述第二比较结果中,用于表示两个待比较对象不相同的比较结果时,所述根据所述目标比较结果的编号,确定出与所述测试输出对应的测试结果,包括:在确定所述目标比较结果的编号为偶数时,确定出与所述测试输出对应的测试结果为所述第二比较电平的电平含义;以及在确定所述目标比较结果的编号为奇数时,确定出与所述测试输出对应的测试结果为所述第一比较电平的电平含义。

9、本公开一种可行的实现方式中,所述方法还包括:按照预设的转换规则,将所述测试结果转换成对应的数值。

10、本公开一种可行的实现方式中,所述第一比较电平为高电平,所述第二比较电平为低电平;或者所述第一比较电平为低电平,所述第二比较电平为高电平。

11、根据本公开的另一方面,还提供一种测试结果确定装置,应用于ate设备,所述装置包括:抓取模块、比较模块以及确定模块。

12、抓取模块,用于在确定测试向量所包括的向量行中存在被标记为预设字符的指定行时,抓取所述指定行的测试输出;

13、比较模块,用于将所述测试输出分别与预设的第一比较电平以及预设的第二比较电平进行比较,得到对应的第一比较结果及第二比较结果;所述第一比较电平与所述第二比较电平表示的电平含义相反;

14、确定模块,用于根据所述第一比较结果及所述第二比较结果,确定出与所述测试输出对应的测试结果;所述测试输出为所述第一比较电平以及所述第二比较电平中的一种。

15、本公开一种可行的实现方式中,所述确定模块,用于将所述第一比较结果与所述第二比较结果中,用于表示两个待比较对象相同的比较结果所对应的电平含义确定为所述测试输出表示的所述测试结果;或者,将所述第一比较结果与所述第二比较结果中,用于表示两个待比较对象不相同的比较结果所对应的电平含义相反的电平含义确定为所述测试输出表示的所述测试结果。

16、本公开一种可行的实现方式中,所述比较模块,用于读取所述第一比较电平以及所述第二比较电平;先后将所述测试输出分别与所述第一比较电平及所述第二比较电平进行比较,得到有序排列的所述第一比较结果以及所述第二比较结果。

17、本公开一种可行的实现方式中,所述装置还包括编号模块,用于按照所述第一比较结果以及所述第二比较结果的排列顺序,为所述第一比较结果与所述第二比较结果依次编号;相应的,所述确定模块,用于从所述第一比较结果与所述第二比较结果中,筛选出目标比较结果;根据所述目标比较结果的编号,确定出与所述测试输出对应的测试结果。

18、本公开一种可行的实现方式中,所述第一比较结果与所述第二比较结果的编号从0开始依次递增1,且在所述目标比较结果是所述第一比较结果与所述第二比较结果中,用于表示两个待比较对象不相同的比较结果时;所述确定模块,用于在确定所述目标比较结果的编号为偶数时,确定出与所述测试输出对应的测试结果为所述第二比较电平的电平含义;以及在确定所述目标比较结果的编号为奇数时,确定出与所述测试输出对应的测试结果为所述第一比较电平的电平含义。

19、本公开一种可行的实现方式中,所述装置还包括格式转换模块,用于按照预设的转换规则,将所述测试结果转换成对应的数值。

20、本公开一种可行的实现方式中,所述第一比较电平为高电平,所述第二比较电平为低电平;或者所述第一比较电平为低电平,所述第二比较电平为高电平。

21、根据本公开的另一方面,还提供一种ate设备,包括处理器以及与所述处理器连接的存储器,在所述存储器上存储有可被所述处理器运行的测试结果确定程序,所述测试结果确定程序被所述处理器本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试结果确定方法,应用于ATE设备,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,所述根据所述第一比较结果及所述第二比较结果,确定出与所述测试输出对应的测试结果,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,所述将所述测试输出分别与预设的第一比较电平以及预设的第二比较电平进行比较,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,所述方法还包括:

5.根据权利要求4所述的方法,所述第一比较结果与所述第二比较结果的编号从0开始依次递增1,且在所述目标比较结果是所述第一比较结果与所述第二比较结果中,用于表示两个待比较对象不相同的比较结果时;所述根据所述目标比较结果的编号,确定出与所述测试输出对应的测试结果,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,所述方法还包括:

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,所述第一比较电平为高电平,所述第二比较电平为低电平;或者所述第一比较电平为低电平,所述第二比较电平为高电平。

8.一种测试结果确定装置,应用于ATE设备,所述装置包括:

9.一种ATE设备,包括处理器以及与所述处理器连接的存储器,在所述存储器上存储有可被所述处理器运行的测试结果确定程序,所述测试结果确定程序被所述处理器运行时,所述处理器用于:

10.根据权利要求9所述的ATE设备,所述处理器用于:将所述第一比较结果与所述第二比较结果中,用于表示两个待比较对象相同的比较结果所对应的电平含义确定为所述测试输出表示的所述测试结果;或者,

11.根据权利要求9所述的ATE设备,所述处理器用于:读取所述第一比较电平以及所述第二比较电平;先后将所述测试输出分别与所述第一比较电平及所述第二比较电平进行比较,得到有序排列的所述第一比较结果以及所述第二比较结果。

12.根据权利要求11所述的ATE设备,所述处理器还用于:按照所述第一比较结果以及所述第二比较结果的排列顺序,为所述第一比较结果与所述第二比较结果依次编号;相应的,所述处理器用于:从所述第一比较结果与所述第二比较结果中,筛选出目标比较结果;根据所述目标比较结果的编号,确定出与所述测试输出对应的测试结果。

13.根据权利要求12所述的ATE设备,所述第一比较结果与所述第二比较结果的编号从0开始依次递增1,且在所述目标比较结果是所述第一比较结果与所述第二比较结果中,用于表示两个待比较对象不相同的比较结果时;所述处理器,用于在确定所述目标比较结果的编号为偶数时,确定出与所述测试输出对应的测试结果为所述第二比较电平的电平含义;以及在确定所述目标比较结果的编号为奇数时,确定出与所述测试输出对应的测试结果为所述第一比较电平的电平含义。

14.一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有测试结果确定程序,所述测试结果确定程序被执行时,实现如权利要求1-7中任一项所述的测试结果确定方法。

...

【技术特征摘要】

1.一种测试结果确定方法,应用于ate设备,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,所述根据所述第一比较结果及所述第二比较结果,确定出与所述测试输出对应的测试结果,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,所述将所述测试输出分别与预设的第一比较电平以及预设的第二比较电平进行比较,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,所述方法还包括:

5.根据权利要求4所述的方法,所述第一比较结果与所述第二比较结果的编号从0开始依次递增1,且在所述目标比较结果是所述第一比较结果与所述第二比较结果中,用于表示两个待比较对象不相同的比较结果时;所述根据所述目标比较结果的编号,确定出与所述测试输出对应的测试结果,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,所述方法还包括:

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法,所述第一比较电平为高电平,所述第二比较电平为低电平;或者所述第一比较电平为低电平,所述第二比较电平为高电平。

8.一种测试结果确定装置,应用于ate设备,所述装置包括:

9.一种ate设备,包括处理器以及与所述处理器连接的存储器,在所述存储器上存储有可被所述处理器运行的测试结果确定程序,所述测试结果确定程序被所述处理器运行时,所述处理器用于:

10.根据权利要求9所述的ate设备,所述处理器用于:将所述第一比较结果与所述第二比较结果中,用...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐康成
申请(专利权)人:象帝先计算技术重庆有限公司
类型:发明
国别省市:

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