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本公开提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。其中，芯片测试方法包括：获得被测芯片的原始测试向量文件，原始测试向量文件包括JTAG接口的时序波形数据和function clock接口的时序波形数据；对JTAG接口的每个时序波形数...
该专利属于象帝先计算技术（重庆）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过象帝先计算技术（重庆）有限公司授权不得商用。

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